二次ビームの英語

複数の回折光ビームは、複数の一次回折ビームと、複数の二次回折ビームとを含む。例文帳に追加

The plurality of diffracted light beams includes a plurality of primary diffracted order beams and a plurality of secondary diffracted order beams. - 特許庁

一次電子ビームと二次電子ビームとの重複領域で二次電子ビームの空間電荷効果による収差増大を抑制する。例文帳に追加

To restrain an aberration increase caused by a spatial charge effect of a secondary electron beam in an overlapped area of a primary electron beam and the secondary electron beam. - 特許庁

二次イオン分析装置及びイオンビームスパッタ装置例文帳に追加

SECONDARY ION ANALYZER, AND DEVICE FOR SPUTTERING ION BEAM - 特許庁

二次電子検出器、及び荷電粒子ビーム装置例文帳に追加

SECONDARY ELECTRON DETECTOR AND CHARGE PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°. - 特許庁

光源からの出射光を回折光学素子１３ａによりメインビーム（０次光）、第一のサブビーム群（±１次回折光）、第二のサブビーム群（±２次回折光）、第三のサブビーム群（±３次回折光）に分割する。例文帳に追加

The outgoing light from the light source is divided into a main beam (0-th order beam), a first sub-beam group (±1st-order diffracted beams), a second sub-beam group (±2nd-order diffracted beams), and a third sub-beam group (±3rd-order diffracted beams). - 特許庁

入力ビーム２２を受け取り且つ後方反射した相反的出力ビーム２８を伝送する光反射器であって、互いに平行な第一の二次的ビーム２７及び第二の二次的なビーム２８を提供するビームスプリッタ２０と、各々が、二次的なビームをビームスプリッタに向けて方向変更し且つサニャック干渉計を形成する後方反射手段２１とを備える反射器。例文帳に追加

An optical reflector which receives an input beam 22 and transmits a retroreflected reciprocal output beam 28 is provided with a beam splitter 20, which provides first and second parallel secondary beams 27 and 28 and backward reflecting means 21, which changes the directions of the secondary beams 27 and 28 toward the beam splitter 20 and forms a Sagnac interferometer. - 特許庁