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光起電力測定の英語
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英訳・英語 photovoltage measurement
「光起電力測定」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
表面光起電力測定方法例文帳に追加
表面光起電力測定方法及び表面光起電力測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SURFACE PHOTOELECTROMOTIVE FORCE - 特許庁
光起電力素子特性の測定装置、それを用いる測定法、機能素子の測定方法および測定装置、それを用いる太陽電池の製造方法例文帳に追加
MEASURING APPARATUS FOR CHARACTERISTIC OF PHOTOVOLTAIC ELEMENT, MEASURING METHOD USING THE SAME, METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FUNCTIONAL ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD FOR SOLAR BATTERY USING THE SAME - 特許庁
その後、この酸化膜が形成された状態で、ｐ型シリコンエピタキシャル層１６における表面光起電力を測定する。例文帳に追加
After that, the surface photoelectromotive force on the p-type silicon epitaxial layer 16 is measured in the state that the oxide film is formed. - 特許庁
隣合う光起電力素子20，20間でのこのような誘起電位の差（ΔＶ）を開放電圧として測定する。例文帳に追加
A difference(ΔV) of the induced potentials is measured as an open voltage between the adjacent photovoltaic power elements 20 and 20. - 特許庁
実現手段は、ＬＥＤで光起電力による測定結果を用いて、そのＬＥＤ自身の点灯を制御する。例文帳に追加
A processing means is such that the lighting of the LED itself is controlled using a measuring result of photovoltaic force by the LED. - 特許庁
可撓性基板上に半導体光活性層を少なくとも一層備えた光起電力素子を有する太陽電池モジュールの製造方法において、前記光起電力素子の少なくとも一部に光を当て該光起電力素子の特性を測定することで、該光起電力素子の短絡状態を検出しながら、前記太陽電池モジュールを所望の形状に成形加工する。例文帳に追加
In the method for manufacturing a solar cell module comprising a photovoltaic element having at least one semiconductor photoactive layer formed on a flexible substrate, the solar cell module is molded into a desired shape while detecting short circuit state of the photovoltaic element by projecting light at least to a part of the photovoltaic element thereby measuring the characteristics thereof. - 特許庁
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「光起電力測定」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
廉価な設備で、太陽電池などの大面積の機能素子を精度よく、しかも短いタクト時間を保持したままで測定することができ、生産コストを低減可能とする光起電力素子等の機能素子の測定法、測定装置および製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a measuring method, a measuring apparatus, and a manufacturing method of a functional element such as a photovoltaic element whereby the functional element having a large area such as a solar battery can be measured with high accuracy by means of an inexpensive facility, moreover keeping a short tact time so as to reduce a manufacturing cost. - 特許庁
ｐ型シリコンエピタキシャル層の表面に空乏層を安定して形成し、該表面における表面光起電力測定を精度よく行うことができる方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method wherein a depletion layer is formed stably on a surface of a p-type silicon epitaxial layer and measurement of the surface photoelectromotive force on the surface is enabled with superior precision. - 特許庁
光起電力を測定する前に、シリコンエピタキシャルウェーハＷの主裏面を除く表面にオゾン水１４を接触させ、ｐ型シリコンエピタキシャル層１６の表面に正電荷が帯電した酸化膜を形成する。例文帳に追加
Before photoelectromotive force is measured, ozone water 14 is brought into contact with the surface, except for the main rear face of a silicon epitaxial wafer W, and an oxide film wherein positive charges are charged is formed on a surface of the p-type silicon epitaxial layer 16. - 特許庁
半導体基板の略全体の特性を部分的且つ離散的な特性測定に基づいて高い精度で推定可能な半導体膜の特性推定方法、さらには特性検査工程のタクトの向上を図り、低コスト化を実現できる光起電力素子及び太陽電池モジュールの製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide an estimating method of the characteristic of a semiconductor film, which can highly precisely estimate almost whole the characteristic of a semiconductor substrate based on partial and discrete characteristic measurement, and to provide a manufacturing method of a photovoltaic element and a solar battery module which can improve the time of a characteristic inspection process and can reduce cost. - 特許庁
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photovoltage measurement
JST科学技術用語日英対訳辞書
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