再用ヒューズの英語

検査用端子１１と内部回路との接続経路上に、再接続することにより内部回路の正常動作が不可能になるヒューズ１３と、ヒューズ１３の近傍に設けられ、ヒューズ１３と同形状で、且つ再接続することにより内部回路の正常動作が不可能になるダミーヒューズ１６とが設けられている。例文帳に追加

This device is provided with a fuse 13 to stop the normal operation of an internal circuit by re-connecting to a connection path of a terminal 11 for test and an internal circuit and a dummy fuse 16 which is provided near the fuse 13, has the same shape as the fuse 13, and by which normal operation of the internal circuit cannot be performed by re-connecting. - 特許庁

試験回数用ヒューズ２，良・不良判定用ヒューズ３及び不良項目用ヒューズ４の行を搭載し、半導体ウェハースの機能試験結果をヒューズを切断するか否かで表現することで、１回の試験で仮に誤判定されて本来良品半導体装置を不良品と判定された場合でも再度の測定により良品を救済することを可能とする。例文帳に追加

Since a row of a number of test time fuses 2, a GO/NO-GO determination fuse 3 and a rejection item fuse 4 are mounted and the function test results of a semiconductor wafer are represented by a fact whether a fuse is blown out or not, an acceptable semiconductor device determined erroneously to be rejectable through a single test can be remedied by repeating the measurement. - 特許庁

更に、本装置は、取り付け場所のヒューズの容量に関係なく使用でき、再使用や複数の取り出しも可能にした。例文帳に追加

Further, the device can be used in no relation to a capacity of the fuse at a mounting place and recycling and taking out of a plurality of parts are also enabled. - 特許庁

アレイ組込みセルフテスト論理をコードおよびハードウェアと共に使用して、欠陥のあるキャッシュ・ラインまたはセットを削除し、対応するヒューズ修理値を識別し、予備ヒューズが使用不能な場合に先を見越してコール・ホームを行い、次のシステム再始動のためにソフト・ヒューズ修理をスケジューリングし、次の再始動時のライン削除をスケジューリングし、削除およびヒューズ修理をテーブルに保管し、ログ記録されていない欠けている削除がある場合にコール・ホームを行う。例文帳に追加

A cache line or a set, having defects, is deleted using array built-in self-test logic, together with the codes and hardware, a corresponding fuse repair value is distinguished, and call home is conducted by foreseeing the future, when a spare fuse cannot be used. - 特許庁

メモリマクロ３２はデータの再書き込みが可能なため、このメモリマクロ３２上において、ヒューズマクロ３１に既にプログラムされている制御用データを擬似的に書き換えることが可能である。例文帳に追加

Data is rewritable in the memory macro 32, so that the control data which is already programmed in the fuse macro 31 can be rewritten simulatedly on the memory macro 32. - 特許庁

部品点数を増やさず、ヒューズ部が溶断しても、溶断後に絶縁フィルムが変形し溶断部が再短絡することのない蓄電デバイス用リード端子を提供する。例文帳に追加

To provide a lead terminal for a power storage device in which the number of parts is not increased and even if a fuse part is blown out, an insulation film is not deformed and blown-out part is not short-circuited again after the blowout. - 特許庁

ブローしたヒューズの再結合を防止し、また、プログラム用電源に流れる電流をプログラムビット数に拘らず小さくすることが出来る半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit capable of preventing re-connection of a blown fuse and capable of reducing a current flowing in a power supply for a program, regardless of the number of program bits. - 特許庁