単色スペクトルの英語

３６０ｎｍ〜５３０ｎｍの範囲にピーク波長がある単色性の発光スペクトルを有する青色ＬＥＤチップに、発光中心を添加したオキシ窒化物ガラスからなる蛍光体を組み合わせ、白色発光の発光ダイオードを作製する。例文帳に追加

A fluorescent body consisting of an oxynitride glass added with a light emitting center is combined with a blue LED chip having a monochromatic light emitting spectrum whose peak wavelength is within 360nm-530nm, to manufacture a white light emitting diode. - 特許庁

出射光がスペクトル上で２つのピークＷｂ，Ｗｙを持つ光源ユニットと、２つのピークＷｂ，Ｗｙの少なくとも一方の谷に相当する波長部分Ｗｃにピークを持つ単色光源とを有する照明装置である。例文帳に追加

The lighting fixture has a light source unit in which the emitted light has two peaks Wb, Wy on spectrum and a monochromatic light source which has a peak in a wavelength portion Wc corresponding to at least one valley of the two peaks Wb, Wy. - 特許庁

導波モード共鳴フィルタ５０の格子層４を覆う媒体層を試料Ｓとし、導波層３の端面に単色光を照射して、検出器１４によりその出射光を検出し、データ処理部で出射スペクトルを作成する。例文帳に追加

A medium layer covering a grating layer 4 of a waveguide mode resonance filter 50 is prepared as the sample S, and an end face of a waveguide layer 3 is irradiated with monochromatic light, and emitted light therefrom is detected by a detector 14, and an emission spectrum is created by a data processing part. - 特許庁

波長変換層３がSi系発光材料により形成されて、発光波長の選択性の自由度が得られるとともに、スペクトル幅の広いフォトルミネッセンス発光が得られるために、干渉フィルターにより出力光７の単色化が改善される。例文帳に追加

Since the wavelength conversion layer 3 is formed of the Si system luminescent material, and the latitude of the selectivity of the luminescent wavelength is obtained, and photoluminescence of wide spectrum width is obtained, single coloring of an output beam 7 is improved by the interference filters. - 特許庁

そして、被測定物質１０中で生じた過渡格子に単色光源１からのプローブ光をブラッグ条件を満足するように入射することにより、分光器４で被測定物質により回折された信号光をスペクトル分解し、検出器５により広い波長領域を同時に測定する。例文帳に追加

Probe light from a monochromatic light source 1 is incident to a transient lattice generated in a substance 10 to be measured so as to satisfy Bragg conditions, and hence signal light diffracted by the substance to be measured is spectrally resolved by a spectroscope 4, and the wide wavelength region is simultaneously measured by a detector 5. - 特許庁

電圧１５ｋＶ、電流１０ｍＡの条件で放射されるＡｌＫα（単色）線を用いるＸ線光電子分光法（ＸＰＳ）により測定されるスペクトルにおいて、負極活物質粒子表面の珪素の２ｐ軌道に起因するピークに対するフッ素の１ｓ軌道に起因するピークの積分強度比が７０以下である。例文帳に追加

In a spectrum obtained by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) using the AlKα (monochromatic) ray radiated at a voltage of 15 kV and a current of 10 mA, the integrated intensity ratio of the peak arising from the 1s orbit of fluorine to the peak arising from the 2p orbit of silicon at the surface of the negative electrode active material particles is 70 or lower. - 特許庁