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多重欠陥の英語
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英訳・英語 multiple defect
「多重欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
多重管の欠陥検査方法及び装置例文帳に追加
FLAW INSPECTION DEVICE OF MULTIPLE PIPE AND FLAW INSPECTION DEVICE - 特許庁
検査データが受信され、欠陥を欠陥部類のうちの1つに割り当てるために、単一部類及び多重部類分類子の両方が適用される。例文帳に追加
Inspection data is received, and both the single-class and multi-class classifiers are applied to the inspection data to assign the defect to one of the defect classes. - 特許庁
電子写真方式の画像形成装置において、多重色における画像欠陥を防止する。例文帳に追加
To prevent an image defect in multi-color in an electrophotographic image forming apparatus. - 特許庁
同時のまたは連続的な多重の斜視的な試料欠陥検査のためのシステムおよび方法例文帳に追加
SYSTEM AND METHOD FOR SIMULTANEOUS OR CONTINUOUS, MULTIPLE, SLANT-VIEWED SPECIMEN DEFECT INSPECTION - 特許庁
多重露光を行う際にパターン欠陥を低減できる液浸多重露光方法及び液浸露光システムを提供することを目的としている。例文帳に追加
To provide an immersion multiple exposure method capable of reducing pattern defects in executing multiple exposure; and an immersion exposure system. - 特許庁
検査パラメータ値に基づいて複数の欠陥部類のうちの1つに各欠陥を割り当てるように構成された多重部類分類子が識別される。例文帳に追加
A multi-class classifier is identified which is configured to assign each defect to one of the plurality of the defect classes on the basis of the inspection parameter values. - 特許庁
多重リフレッシュによってフレッシュ欠陥セルを救済しつつ、セルフリフレッシュ時の消費電力を抑制する。例文帳に追加
To suppress power consumption in self-refresh relieving a refresh defective cell by multiplex refresh. - 特許庁
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「多重欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
カード挿入中に表面欠陥に耐えることができる多重冗長接点を有するコネクタを提供する。例文帳に追加
To provide a connector having a multiplex redundant contact that is endurable to the surface defect during card insertion. - 特許庁
多重膜構造の電子デバイス内での欠陥検出を、該電子デバイスを破壊することなく、可能とするとともに、検出に要する時間を短縮する。例文帳に追加
To detect a defect inside an electronic device having multi-film structure without destructing the electronic device, and to shorten the time required for detection. - 特許庁
窒素化合物半導体膜の結晶欠陥を低減し、寿命が長く、閾値電流密度が低く、多重モードの発生しない半導体レーザ素子を得る。例文帳に追加
To provide a semiconductor laser element of long life and low threshold current density with no occurrence of multiple-mode by reducing the crystal defect of a nitrogen compound semiconductor film. - 特許庁
多重露光後の欠陥発生を回避しつつウェハ上での寸法精度を改善できるフォトマスクの製造方法を提供することを目的としている。例文帳に追加
To provide a method of manufacturing a photomask, which improves the dimensional accuracy on a wafer while avoiding occurrence of faults after multiple exposure. - 特許庁
波長多重伝送に使用する低非線形で波長分散の傾きも小さい光ファイバにおいて、ガラス欠陥と水素の結合による損失増加を生じない低非線形単一モード光ファイバを得ること。例文帳に追加
To obtain a low non-linear single mode optical fiber capable of preventing the increment of loss due to a defect of glass and hydrogen bonding in an optical fiber having low non-linearity and a small wavelength dispersion slope and allowed to be used for wavelength multiplex transmission. - 特許庁
波長多重伝送に使用する低非線形で波長分散の傾きも小さい光ファイバにおいて、ガラス欠陥と水素の結合による損失増加を生じない低非線形単一モード光ファイバを提供する。例文帳に追加
To provide a low nonlinearity single mode optical fiber which does not generate the increase of a loss caused by a combination between glass defects and hydrogen in an optical fiber which is used in wavelength division multiplex transmission, is low in nonlinear and is also small in the gradient of a spectrum spread. - 特許庁
波長多重伝送に使用する低非線形で波長分散の傾きも小さい光ファイバにおいて、ガラス欠陥と水素の結合による損失増加を生じない低非線形単一モード光ファイバを提供する。例文帳に追加
To provide a low nonlineatity single mode optical fiber which does not generate the increase of a loss caused by a combination between glass defects and hydrogen in an optical fiber which is used in wavelength division multiplex transmission, in low in nonlinearity and is also small in the gradient of a spectrum spread. - 特許庁
多重露光法により試料上に形成されたパターンの形状、寸法、または欠陥の有無等の検査を行う電子ビーム測定技術を提供する。例文帳に追加
To provide an electron beam measuring technique for inspecting the shape, dimensions, presence of an defect, and the like in regard to a pattern formed on a sample through a multiple exposure method. - 特許庁
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