欠陥位置の英語

教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。例文帳に追加

The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position. - 特許庁

欠陥位置抽出手段２０４は、初期欠陥補正手段２０２による欠陥画素補正後の画像情報から欠陥画素位置情報を抽出する。例文帳に追加

A defective position extraction means 204 extracts defective pixel position information from image information obtained after correcting defective pixels by the means 202. - 特許庁

この欠陥画素の位置情報と欠陥グレードとを記憶しておく。例文帳に追加

The positional information and the defect grade of the defective pixel are stored. - 特許庁

欠陥検出装置、位置ずれ量取得装置および欠陥検出方法例文帳に追加

DEFECT DETECTOR, APPARATUS FOR ACQUIRING AMOUNT OF POSITION DEVIATION, AND DEFECT DETECTION METHOD - 特許庁

欠陥信号、欠陥位置データはＦＰＧＡ−Ｂ５７に入力される。例文帳に追加

A defect signal and defect position data are input to an FPGA-B 57. - 特許庁

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。例文帳に追加

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects. - 特許庁

ウェハＷの欠陥検査を行う場合、まず欠陥観察装置３は、欠陥検出装置２からの欠陥位置データを入力する。例文帳に追加

In inspecting defects of a wafer W, the defect observation apparatus 3 inputs defect position data obtained from a defect detector 2. - 特許庁

欠陥補正回路１９は、選択した欠陥画素マップに記載の欠陥画素の位置情報に基づいて欠陥画素を補正する。例文帳に追加

A defect compensation circuit 19 compensates for defective pixels according to the position information about defective pixels described on the selected defective pixel map. - 特許庁