測定子昇降の英語

体験システムは、昇降可能な座面１ａを備えた体験用椅子１と、椅子１に座ったときの足裏から受ける足裏重量を測定する重量測定器２とが備えられ、体重の測定と前記足裏重量の測定とを行うことができるようになされている。例文帳に追加

This experience system is provided with an experience chair 1 having a liftable seat surface 1a and a weight measuring instrument 2 measuring the sole weight received from the sole when sitting on the chair 1; and is so formed as to measure the body weight and the sole weight. - 特許庁

測定手段への電子部品の正確な位置決めと接触圧の確保を可能としつつ、保持手段の昇降時間を短く抑えることができる電子部品測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic component measuring instrument for shortening rising/falling time of a holding means while allowing an electronic component to be accurately positioned to a measuring means and its contact pressure to be ensured. - 特許庁

α線測定装置は、測定試料と半導体検出器の荷電粒子入射面との間の距離を調節可能な昇降機、位置センサ、制御ユニット１３、α線放出量演算装置４０Ａを備える。例文帳に追加

An α-ray measurement device comprises: an elevator capable of adjusting the distance between the measurement specimen and the charged particle incident surface of the semiconductor detector; a position sensor; the control unit 13; and an α-ray discharge amount operation device 40A. - 特許庁

サンプル容器１６は、昇降機１４に着脱可能に位置決め固定され、粘度計本体１０が有する測定子２０が上方から浸漬される専用のものである。例文帳に追加

The sample container 16 is attachably detachably positioned and fixed to the lifter 14, and exclusive for dipping a measuring element 20 possessed by the viscometer body 10 from above. - 特許庁

フォトレジスト液を基板Ｗに供給する前後で、昇降ピン１３により基板Ｗを上昇させて重量を電子秤量装置２１により測定し、演算によってフォトレジスト液の供給量を求める。例文帳に追加

Before and after supplying the photoresist liquid to the wafer W, the wafer W is raised by an elevating pin 13, the weight is measured by the electronic weighing device 21, and the quantity of photoresist liquid to be supplied is found by arithmetic. - 特許庁

α線測定装置１００は、測定試料２と半導体検出器１の荷電粒子入射面との間の距離を調節可能な昇降機５、位置センサ５ａ、制御ユニット１３、α線放出核種分析装置４０を備える。例文帳に追加

The α-ray measuring apparatus 100 includes an elevator 5 allowing the distance between a sample under measurement 2 and a charged particle incident surface of a semiconductor detector 1 to be regulated, a position sensor 5a, a control unit 13, and an α-ray radiation nuclide analyzer 40. - 特許庁

特に、従来に比べて高精度に且つ簡単な手法により、ピエゾ素子への印加電圧変化に対する走査部材の昇降方向への移動量を求めることができる表面形状測定器の較正方法を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a method of calibrating a surface shape measurement instrument which accurately and simply obtains a moving distance of a scanning member in the elevation direction in response to a change in a voltage applied to a piezoelectric element in comparison with a conventional method. - 特許庁