記憶装置のサイクル時間の英語

アレイユニットのリードライトサイクルタイムを規定するクロック信号の1周期中のリード／ライト時間を増加することが可能な同期型半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a synchronous semiconductor storage device capable of increasing a read/write time in one cycle of a clock signal that defines a read write cycle time of an array unit. - 特許庁

ビット線のプリチャージを高速に行い、メモリセルのアクセス動作のサイクル時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor storage device which can perform precharge of a bit line at high speed and shorten cycle time of access operation of a memory cell. - 特許庁

半導体記憶装置において、レイアウト面積を増大させることなく、一括書き込み動作モードにおいても従来よりも大幅に書き込みサイクルを短縮でき、書き換え耐性の評価を短時間に行なえるようにする。例文帳に追加

To remarkably shorten a write cycle compared with a conventional method, even in a batch write operation mode and to perform evaluation for durability in rewriting in a short period of time without increasing a layout space in a semiconductor storage device. - 特許庁

現状での瞬時データで故障予知可能であり、過去デ−タや継続時間を長時間記憶する必要がないうえ、空調サイクルパラメータを原因としない冷媒リークや熱交換器の詰まり等の故障要因も検知可能な、簡単な構成の冷凍サイクル機器用故障診断装置等を提供する。例文帳に追加

To provide a failure diagnosing device for a refrigerating cycle device of a simple constitution, capable of predicting failure with current instantaneous data, not needing storage of past data and duration time for a long time, and detecting failure factor of refrigerant leakage and clogging of a heat exchanger not caused by air-conditioning cycle parameter. - 特許庁

画像形成装置１は、本体筐体２内の回路と接続切り離し可能なＩ／Ｆ１１で接続された表示部５に、不揮発性メモリ１２を設け、不揮発性メモリ１２に画像形成装置１のリサイクル情報として、少なくとも印刷枚数及び通電時間を記憶している。例文帳に追加

The imaging apparatus 1 is provided with a nonvolatile memory 12 at a display section 5 connected with a circuit in a body housing 2 through a separable I/F 11 and at least the number of print sheets and the power conduction time are stored, as recycle information of the imaging apparatus 1, in the nonvolatile memory 12. - 特許庁

不良救済にデータ線シフト方式を用いたとしても、不良アドレスに応じたシフトデコード動作が確定するまでの待ち時間を要することなく、メモリセルへの高速書き込みサイクルを可能にした半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory which permits high speed write-in cycle for a memory cell without requiring a standby time for shift decoding operation in accordance with a defective address is decided even if a data line shift system is used for relieving defect. - 特許庁

本発明のショーケースの庫内温度制御装置１は、ＣＰＵ１１により、温度センサＳの検出した庫内温度とサーモディファレンシャルとの比較結果及びメモリ１５に記憶された電磁弁の開時間に基づき、弁駆動部１４を介して冷凍サイクル内の電磁弁３の開閉駆動を制御し、庫内温度を一定範囲内に制御するものである。例文帳に追加

This case inside temperature control device 1 of a showcase controls a case inside temperature in a specific range by controlling opening- closing driving of a solenoid valve 3 in a refrigerating cycle via a valve driving part 14 on the basis of a comparing result of the case inside temperature detected by a temperature sensor S and thermodifferential, and opening time of the solenoid valve stored in a memory 15. - 特許庁