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試験費用の英語
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英訳・英語 testing cost
「試験費用」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 48件
(4) 実験的試験の費用は,出願人が負担する。例文帳に追加
(4) The costs of experimental testing shall be borne by the applicant. - 特許庁
イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する。例文帳に追加
To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test. - 特許庁
大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。例文帳に追加
To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea. - 特許庁
小型で、費用がかからず、あまり複雑でなく、中小規模の試料試験企業により適した、高スループット試験システムの提供。例文帳に追加
To provide a high throughput test system having a small size, with saving cost, being not so complicated and more suitable for sample test companies of a small-to-medium scale. - 特許庁
衝突試験に要する費用の増大を抑制しつつ、衝突時の車両挙動を精度良く再現する。例文帳に追加
To precisely regenerate a vehicle behavior in collision while restraining an expense required for a collision test from being increased. - 特許庁
試験費用は、想像以上に高い。新しい表面の金属サンプルが必要なためであろう。例文帳に追加
Corrosion tests require metal samples with immaculate surfaces - which makes them very costly. - 経済産業省
このことは、今度は、製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。例文帳に追加
This, in turn, allows manufacturing tolerances and alignment tolerances to be relaxed, test times and test complexity to be reduced, and overall manufacturing and testing costs to be reduced. - 特許庁
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「試験費用」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 48件
耐候光試験装置において、放射照度と、試料の老劣化の関係を試験する場合に、時間的、費用的に効率よく、しかも信頼性の高い試験結果を得られるようにすること。例文帳に追加
To acquire highly-reliable test result efficiently in a time and a cost, when testing the relation between irradiance and aging deterioration of a sample in a weather/light resistance testing device. - 特許庁
費用面と工程面の負担が少なくて済む水張り試験によるタンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a tank pipe pressure test method and a tank pipe pressure testing device by a leak test, by filling water requiring only a small load from the viewpoint of cost and processes. - 特許庁
ROM及びRAMの試験に必要な工程数を減らし、試験時間を短縮することができ、必要な要素数を減らし、費用を低減することができるメモリ試験方法を提供する。例文帳に追加
To provide a memory test method by which the number of processes required for a test of a ROM and a RAM can be reduced, test time can be shortened, the required number of elements can be reduced and costs can be saved. - 特許庁
バーンイン試験条件の均一性と精度を高め、バーンイン試験中に行うことのできる試験項目の幅を広げ、検査工程に係る時間と費用を削減する。例文帳に追加
To reduce time and cost relating to the testing process by improving the uniformity and the precision of the burn-in test conditions and widening the testing items executable during a burn-in test. - 特許庁
3層4段型自走式自動車車庫のような多層構造の車庫において正確な火災試験データを取得でき、一度の火災試験で複数種類の車庫のデータを併せて取得することで、試験費用の大幅な低減及び試験場所の確保を容易にした自走式自動車車庫の火災試験方法及び火災試験用車庫を提供すること。例文帳に追加
To provide an accurate fire test data, and to substantially reduce a test cost and easily secure test space by acquiring plural kinds of garage data with one fire test, in a multistory structure garage such as three-story four-stage type automobile garage. - 特許庁
半導体試験回路を構成するリレー1個毎の個別の交換時期を高い信憑性をもって推定することができ、保守費用を低減化できるリレー診断装置及半導体試験装置を提供する。例文帳に追加
To provide a relay diagnosis device and a semiconductor testing device, capable of estimating the individual replacement time of each relay that constitutes a semiconductor testing circuit, with high reliability, and of reducing the maintenance cost. - 特許庁
駆動能力の確認試験に要する時間を短縮し、駆動能力の確認試験の費用が増大することを抑制することができる半導体装置及びその制御方法を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor device and its control method for shortening the time required for a confirmation test for a drive potential and controlling an increase of the cost of the confirmation test for the drive potential. - 特許庁
費用および時間を大幅に削減することができるとともに試験中に地絡方向継電器および地絡過電圧継電器をロックする時間が大幅に短くなる分散リアクトル系統用人工地絡試験装置を提供する。例文帳に追加
To provide an artificial ground fault testing device for a dispersion reactor system for sharply reducing a cost and time and sharply shortening a time for locking a ground fault directional relay and a ground fault overvoltage relay during testing. - 特許庁
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