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酸化膜試験の英語
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英訳・英語 oxide film weight test; coulometric test
「酸化膜試験」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 37件
予め試験体の表面に無機酸化物ガラスを含む被膜を形成し、前記試験体のクリープの変位量を測定するための鍔を設けた、前記試験体の固定具に固定する。例文帳に追加
A coating containing inorganic oxide glass is previously formed on the surface of the specimen, and is fixed to the fixture of the specimen having a collar for measuring the displacement amount of the creep of the specimen. - 特許庁
長期保管において、膜および膜性能の劣化が膜の酸化劣化で進行すること、およびそれが溶出物試験液中の過酸化物及び試験液pHと関連することを見出した。例文帳に追加
In a long-term storage, the oxidation degradation of the membrane causes the degradation of the membrane and membrane performance to proceed, and the proceeding of the degradation relates to a peroxide in an eluted substance test solution and a test solution pH. - 特許庁
本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。例文帳に追加
The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area. - 特許庁
該酸化物半導体膜を用いたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減されており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。例文帳に追加
In the transistor including the oxide semiconductor film, the amount of change of threshold voltage of the transistor is reduced before and after a bias-thermal stress test (BT test), and thus the transistor with high reliability can be provided. - 特許庁
バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same. - 特許庁
膜の性能および完全性試験用の水酸化第二鉄コロイド粒子を分散した非水溶液およびその製法例文帳に追加
NON-AQUEOUS SOLUTION FOR DISPERSING FERRIC HYDROXIDE COLLOIDAL PARTICLES FOR FILM PERFORMANCE AND INTEGRITY TEST AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME - 特許庁
膜の性能および完全性試験用の水酸化第二鉄コロイド粒子を分散した水溶液およびその製法例文帳に追加
AQUEOUS SOLUTION WHERE FERRIC HYDROXIDE COLLOIDAL PARTICLES ARE DISPERSED FOR TESTING PERFORMANCE AND INTEGRITY OF MEMBRANE, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁
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「酸化膜試験」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 37件
非破壊型である膜の性能および完全性試験用の水酸化第二鉄コロイド粒子を分散した水溶液およびその製法例文帳に追加
AQUEOUS SOLUTION WITH DISTRIBUTED FERRIC HYDROXIDE COLLOIDAL PARTICLES FOR NONDESTRUCTIVE MEMBRANE PERFORMANCE AND INTEGRITY TEST, AND METHOD OF MANUFACTURING THE AQUEOUS SOLUTION - 特許庁
スケール（酸化被膜）の除去にかかる経時的な変化を連続的に確認することが非常に簡単にできる酸化被膜除去試験装置を提供する。例文帳に追加
To provide an oxide film removing test device which can continuously confirm the change with time in removal of scales (oxidized film) remarkably simply. - 特許庁
ボイラ配管と同一または同質の鋼材からなり、その表面に酸化皮膜を設けるとともに、この酸化皮膜を部分的に除去した孔食起点部を１または複数設けたものを試験片とする。例文帳に追加
The test piece is composed of a steel material which is the same or the same quality as the boiler pipe, an oxide film is formed on its surface, and one or a plurality of pitting corrosion starting point parts 1 which have removed the oxide film partially are formed. - 特許庁
熱処理による脱水化または脱水素化処理及び酸素ドープ処理された酸化物半導体膜を有するトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。例文帳に追加
The transistor having an oxide semiconductor film treated by dehydration or dehydrogenation treatment by heat treatment, and oxygen doping treatment, can reduce the amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test(BT test), and have high reliability. - 特許庁
本発明は、例えば、高温引張試験及び熱サイクル酸化試験にアコースティックエミッション（AE）法を用いて皮膜の破壊挙動を連続的にモニターする場合等において、測定対象物の状態を定量的に評価が可能な状態評価方法を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a state evaluation method capable of quantitatively evaluating the state of a measuring target in a case for continuously monitoring the destructive behavior of a film, using an acoustic emission (AE) method, for example, in a high-temperature tensile test or a heat cycle oxidation test. - 特許庁
支持体上に３０ｇの荷重を用いる引っかき試験器（サファイヤ針、０. ５ｍｍφ）による試験で表面に傷がつく感光層を設けてなる感光性平版印刷版であって、該支持体の裏面に０. ５〜４ｇ／ｍ^2 の陽極酸化皮膜を有する上記感光性平版印刷版により解決される。例文帳に追加
A photosensitive layer which takes a surface scratch by a test with a scratch tester (sapphire needle of 0.5 mmϕ) using 30 g load is disposed on the front side of a substrate with 0.5-4 g/m2 anodic oxide film on the rear side to obtain the objective photosensitive planographic printing plate. - 特許庁
これにより、端子２の電源電圧ＶＣＣを上昇させて高電圧試験をすることができるので、端子１に必要以上の高電圧を印加して試験モードを設定する必要がなくなり、高電圧によるバッファ３等のゲート酸化膜の破壊を防止できる。例文帳に追加
In this way, since a high voltage test can be performed by increasing the power supply voltage VCC of the terminal 2, it is no longer necessary to apply a voltage higher than necessary to the terminal 1 for setting the test mode and break of a gate oxide film of a buffer 3 or the like due to the high voltage can be prevented. - 特許庁
ゲート絶縁膜をＴＥＯＳを原料として成膜された酸化シリコン膜によって形成しても、ＢＴ試験による薄膜トランジスタのしきい値電圧Ｖｔｈがほとんどシフトしないようにする。例文帳に追加
To substantially prevent the threshold voltage Vth of a thin film transistor by a BT test from shifting even when a gate insulating film is formed with a silicon oxide film prepared by using a TEOS as a raw material. - 特許庁
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