電子移動部位の英語

その後、半導体ウェハＷを移動し且つ電子ビームを偏向してその同一部位に光軸Ｅ２で電子ビームを照射する。例文帳に追加

Then, the semiconductor wafer W is moved and electron beams are deflected, and electron beams are applied by an optical axis E2 to the same part. - 特許庁

シリコン表面にＳｉ−Ｃ（炭素）結合を介して構築された分子層構成体であって、１または２以上の４，４′−ビピリジル基を有する電子移動触媒機能部位とともに対アニオンとを備えている界面電子移動触媒分子層構成体とする。例文帳に追加

The molecular layer structure of the interfacial electron transfer catalyst is a molecular layer structure constructed through a conjugation of Si-C (Carbon) on a silicone surface, and provided with a counter anion as well as an electron transfer catalyst function part having one or two or more 4,4' -bipyridyl groups. - 特許庁

拡大観察時であっても、観察対象である部位を画面内に移動させる操作を容易に行うことが可能な電子内視鏡及び電子内視鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic endoscope and an electronic endoscope apparatus capable of facilitating the operation of moving a region to be observed in a screen even in magnification observation. - 特許庁

本発明は、電子走査プローブを機械的に移動させ、異常部位を含むと思われる断層像が表示されたときに検査技師がプローブの移動を停止し、停止位置では鮮明な画像が得られる方式で画像を撮影、記録し、主としてこの選択された画像を医師が読影するものである。例文帳に追加

The selected images are mainly taken to be read by a doctor. - 特許庁

偏向ヨークの装着部位であるファンネルの外面を、電子ビームの実質的な移動経路に近くなるように形状化した陰極線管を提供する。例文帳に追加

To provide a cathode-ray tube forming the outer face of a funnel which is the fitting portion of a deflection yoke close to the practical moving path of an electron beam. - 特許庁

また、二本鎖ＤＮＡに本発明の化合物が結合した際、２つの酸化還元活性部位がＤＮＡ塩基対内に平行に並ぶ形になり、塩基対間を伝わった電子移動（電子ホッピング、即ち酸化還元反応）を効率的に行うことができる。例文帳に追加

When the compound is combined with double-stranded DNA, two oxidation-reduction activity parts are made into a form in parallel in a DNA base pair and an electron transfer (electron hopping, namely oxidation-reduction reaction) transmitted between the base pair is efficiently carried out. - 特許庁

さらに、ピンの移動開始から移動終了まで連続してピンを撮像するようにしているので、電子部品のピックアップ部位が異なってピンの先端部の上下方向の位置が異なっていたとしても、また、電子部品の製造ロットや製造メーカによって各ピンの長さにバラツキが生じていたとしても、全てのピンの先端部の累積画像から鮮明な画像を容易に取得できる。例文帳に追加

Since the pin can continuously be imaged from start of movement of the pin to termination of movement, a clear image can easily be obtained from accumulated images of the tip portions of all the pins even if a pickup part of the electronic component differs and positions in upper/lower directions of the tip portion of the pin differ or variation occurs in lengths of each of the pins by manufacture lots and manufacture makers of the electronic components. - 特許庁