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電子顕微鏡図の英語

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英訳・英語 electron micrograph


JST科学技術用語日英対訳辞書での「電子顕微鏡図」の英訳

電子顕微鏡図


「電子顕微鏡図」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 19



例文

簡便に電子ビームの高品質化をることができる電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electron gun capable of aiming at higher quality of electron beams in a simple way and provide an electron microscope and an electron generation method. - 特許庁

試料を負電位に帯電させて観察を行った場合においてもスループットの向上をることができる走査形電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which improves a throughput, even if it is observed with a sample electrified into negative electric potential. - 特許庁

本発明によると、基本的には電子顕微鏡で撮像する画像は一枚で済む為、試料損傷低減がれ、また、短時間で処理できる。例文帳に追加

According to the present invention, since only one image taken with the electron microscope is basically necessary, a damage to the sample is reduced, and the process is performed in a short period of time. - 特許庁

9(c)において、Sはオペレーターが得たかった試料断面であり、この試料断面Sは後で走査電子顕微鏡などで観察される。例文帳に追加

An S is a sample cross-section desired to be obtained by an operator, in Fig. (c), and the sample cross-section S is observed thereafter by a scanning electron microscope or the like. - 特許庁

厚切り切片を再び樹脂に包埋してから再びスライスして薄切切片とし、これを電子顕微鏡によって観察する方法で、効率の向上をり、短時間で生物の細胞の観察ができる顕微鏡観察用切片の再包埋方法を提供する。例文帳に追加

To provide a reembedding method of a slice for microscopic observation capable of improving efficiency and allowing an organism cell to be observed quickly in a method for embedding a thick slice in resin again and then slicing it again to obtain a thin slice and observing it by an electron microscope. - 特許庁

共焦点顕微鏡の画像を処理する画像処理装置等における画像処理の効率化をるべく、共焦点顕微鏡の画像を撮影した電子カメラの複数の出力画面データ等の3次元データに対して、さらに効率的に、読出、及び、書込が可能な、データ記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a data storage device, further efficiently reading and writing three-dimensional data such as a plurality of output screen data from an electronic camera which takes confocal microscopic images, to enhance the efficiency of image processing in an image processor or the like for processing the confocal microscopic images. - 特許庁

例文

走査型電子顕微鏡電子線描画装置など、電子線応用装置において、電子源の安定化をり、装置の精度および信頼性を向上させる電子銃を提供する。例文帳に追加

To provide an electron gun capable of improving accuracy and reliability of a device by stabilizing an electron source in an electron beam application device such as a scanning electron microscope and an electron beam lithography device. - 特許庁

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「電子顕微鏡図」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 19



例文

4)本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。例文帳に追加

(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope. - 特許庁

電子回折の理論、回折形、電子(顕微鏡)写真のコントラストの解釈に関するセミナー(開催)へのニーズに応じるために、サマースクールが1963年7月ケンブリッジで開催された。例文帳に追加

In order to meet a need for a seminar on the theory of electron diffraction and the interpretation of diffraction patterns and contrast on electron micrographs, a Summer School was held in Cambridge in July 1963. 発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

分析時間の短縮をれるとともに分析対象体表面のコンタミネーションの発生を抑制して分析精度の向上をれるといった、優れた電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an analyzer used with an excellent electron microscope apparatus capable of shortening the analyzing time and improving the analyzing accuracy by suppressing the occurrence of the contamination on an analysis object surface. - 特許庁

これらのは、シャドウ・マスク技法を使ったSiN基板上での超高真空(UHV)電子ビーム成膜により成長させられたパーマロイ膜の正方形状の要素中にある磁区のローレンツ(顕微鏡)像である。例文帳に追加

These figures are Lorentz images of magnetic domains in square elements of Permalloy films which were grown by UHV e-beam deposition on SiN substrate using shadow-mask techniques.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

本発明の目的は、測定倍率や試料に依存しないで、また、できる限り照射ビームを少なくして試料損傷低減をり、自動的に非点収差補正を行うことができる電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide an electron microscope which reduces a sample damage without depending on a measurement magnification or a sample and with the minimized illumination beam, and makes astigmatism correction automatically. - 特許庁

手作業による不具合解析時などにおける測長検査の時間短縮をることが可能な走査型電子顕微鏡(SEM)およびその画像表示方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope (SEM) capable of shortening a time for length measuring inspection at a deficiency analysis time by a manual work or the like, and its image display method. - 特許庁

S=(L_1/L_2)^3 ・・・・・(I) [式中、L_1は、走査型電子顕微鏡で撮影し、画像処理して求められる前記金属マグネシウムの投影の最長径を示し、L_2は、前記金属マグネシウムの投影面積に等しい円の直径を示す。例文帳に追加

The solid catalyst component is obtained from the magnesium compound and a titanium compound. - 特許庁

例文

フォトマスクのような試料表面に初期に意的に電荷を帯電させた後で、帯電された試料表面を1次電子ビームでスキャンして生じる2次電子の信号を基とする画像を得る走査電子顕微鏡画像による。例文帳に追加

After internationally charging electric charge at early stages on a sample surface such as a photograph mask, the scanning electron microscope image, is set as the base which obtains the image based on a signal of a secondary electron produced by scanning with a primary electronic beam on the charged sample surface. - 特許庁

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