ALPGとは 意味・読み方・使い方

VIRTUAL ALPG TRANSMISSION TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ透過型の半導体テスト装置 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

The semiconductor device 1A is composed of an ALPG 10A, scan registers 20a, 20b and 20c, and a device to be tested 30.例文帳に追加

半導体装置１Ａは、ＡＬＰＧ１０Ａと、スキャンレジスタ２０ａ，２０ｂ，２０ｃと、被測定デバイス３０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus in which generation of a vector pattern for VPG from an ALPG side can be controlled in real time and the generation of a pattern can be controlled with a synchronous relation, in a semiconductor test device provided with ALPG and VPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧとＶＰＧとを備える半導体試験装置において、ＡＬＰＧ側からＶＰＧに対するベクタパターンの発生制御がリアルタイムに、且つ同期した関係でパターン発生の制御が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A pattern generator ALPG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 describing a test signal S_TEST to be outputted by drivers DR_1 to DR_4.例文帳に追加

パターン発生器ＡＬＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４を生成する。 - 特許庁

Namely, an address signal contained in the test pattern generated by means of the ALPG 2 is not used for address designation, but for generating analog signals supplied to the DUT 100a having the A/D-converting function.例文帳に追加

つまり、ＡＬＰＧ２で生成したテストパターン中に含まれるアドレス信号を、アドレス指定のために用いるのではなく、ＡＤ変換機能を有するＤＵＴ１００ａへのアナログ信号の生成に用いる。 - 特許庁

When a test pattern is inputted to semiconductor memory devices 11, 12,..., 1n to be tested from an ALPG (algorithmic pattern generator) a pattern is inputted to a No-Go flag 20 from the semiconductor memory devices 11, 12,..., 1n.例文帳に追加

試験対象である半導体メモリデバイス１１，１２，…，１ｎにＡＬＰＧからテストパターンを入力すると、半導体メモリデバイス１１，１２，…，１ｎからＮｏ−Ｇｏフラッグ２０にパターンが入力される。 - 特許庁