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CONTACT ALIGNERとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 コンタクトアライナ
「CONTACT ALIGNER」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 21件
To provide a contact aligner and a contact aligning method such that when a mask and a work area positioned, a seal member does not come into contact with a mask stage.例文帳に追加
マスクとワークの位置合せを行っているときに、シール部材が、マスクステージに接しないようにしたコンタクト露光装置及びコンタクト露光方法を提供する。 - 特許庁
To provide an edge-holding aligner that can adjust the position of a substrate in a short time by preventing a positioning section from being positioned to a region in which the aligner is in contact with the substrate.例文帳に追加
アライナと基板とが接触している領域に位置決め部が位置することをなくして、短時間に基板を位置調整することができるエッジ保持アライナを提供する。 - 特許庁
To obtain a formation method of a contact hole which enables easy formation of a contact hole such as an isolated hole and a dense hole of a uniform size and an aligner.例文帳に追加
均一な大きさの孤立ホールや密集したホール等のコンタクトホールが容易に形成できるコンタクトホールの形成方法および露光装置を得ること。 - 特許庁
To prevent A distortion or a deflection due to dead weight of a large- sized mask and to accurately perform the parallelization of a work with reference to the mask in a contact aligner or a proximity aligner.例文帳に追加
コンタクト露光装置またはプロキシミティ露光装置において、大型のマスクの歪みや自重などによる撓みを防ぎ、マスクに対するワークの平行出しを正確に行えるようにすること。 - 特許庁
To provide a method for cleaning an apparatus brought into contact with a reticle or a reticle-like article such as an exposure mask or the like used, when exposing with a projection aligner.例文帳に追加
本発明は、投影露光装置の露光の際に使用されるレチクルや露光マスクなどのレチクル状物が接する装置のクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
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「CONTACT ALIGNER」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 21件
The aligner further comprises a mechanism (25) for buffering a pressing force being applied to the compound semiconductor wafer W from the mask M upon contact.例文帳に追加
マスクMと化合物半導体ウェーハWとが接触したときにマスクMによる化合物半導体ウェーハWへの押圧力を緩衝する緩衝機構(25)を備える。 - 特許庁
To obtain a mask fixing tool for aligner that a member to be exposed and a mask can be closely brought into contact with each other by a pressing force being uniform as a whole without partially concentrating stress.例文帳に追加
被露光部材とマスクとを全体的に均一な押し付け力で、かつ、部分的な応力集中を伴うことなく密着可能な露光装置のマスク固定具を提案すること。 - 特許庁
The method for cleaning the aligner which is brought into contact with the reticle comprises the steps of providing a material, having a cleaning layer which has a tensile elastic modulus (in compliance with the testing method of JIS K7127) of 0.98 to 4,900 MPa, and conveying the material in the aligner to be cleaned.例文帳に追加
レチクルまたはレチクル状物のこれらが被洗浄装置と接する部位に、引張弾性率(試験法JIS K7127に準ずる)が0.98〜4900MPaであるクリーニング層が設けられた材料を設け、被洗浄装置内を搬送することを特徴とするレチクルが接する装置のクリーニング方法である。 - 特許庁
An aligner device 10 includes bellows 9, which are fixed having an upper end in contact with a peripheral edge of a through-hole 31 in a bottom surface of the frame 3 and is also fixed, having a lower end, in contact with a peripheral edge of a hole part 42 on an upper surface of a support base 4.例文帳に追加
アライナ装置10は、フレーム3の底面における貫通孔31の周縁部に上端を密着して固定するとともに支持台4の上面における孔部42の周縁部に下端を密着して固定したベローズ9を備えている。 - 特許庁
To provide a stage device and an aligner for holding a mask without the occurrence of damage generated by impact when a clamp for holding the mask with pressure holds the mask with pressure and when the clamp comes into contact with the mask.例文帳に追加
マスクを押圧保持するクランプがマスクを押圧保持した際や、クランプがマスクに当接した際の衝撃によるキズを生じさせることなくマスクを保持可能なステージ装置及び露光装置を提供する。 - 特許庁
To provide an aligner being used in a lithography process for a compound semiconductor wafer in which the compound semiconductor wafer is not cracked easily even upon contact with a mask.例文帳に追加
化合物半導体ウェーハに対するリソグラフィ工程において使用される露光装置であって、化合物半導体ウェーハとマスクとが接触してもウェーハ割れが生じにくい露光装置を提供する。 - 特許庁
To provide an aligner being used in a lithography process for a compound semiconductor wafer in which the compound semiconductor wafer is not cracked easily even upon contact with a mask.例文帳に追加
化合物半導体ウェーハに対するリソグラフィ工程において使用される露光装置であって、化合物半導体ウェーハとマスクとが接触してもウェーハの割れが生じにくい露光装置を提供する。 - 特許庁
The transportation apparatus for transporting a substrate W1 to the aligner includes a first lift pin 11 for moving the substrate W1 in contact with a temperature adjuster 2 away from the adjuster 2, and a first probe 21 for measuring the amount of static charges on the substrate W1 from a side of the substrate W1 in contact with the adjuster 2.例文帳に追加
露光装置に基板W1を搬送する搬送装置は、温度調節部2に接する基板W1を、この温度調節部2から離間するように移動する第1リフトピン11と、基板W1の温度調節部2との接面側から基板W1に帯電した電荷を計測する第1プローブ21とを備えている。 - 特許庁
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