I/O scanとは 意味・読み方・使い方

To apply proper stress even to an I/O cell other than a terminal used for the output and input of a scan, at the time of a burn-in test using a scanning circuit.例文帳に追加

スキャン回路を用いたバーンインテスト時に、スキャンの入力と出力で使用する端子以外のＩ／Ｏセルに対しては、適切なストレスを印加することができない。 - 特許庁

When the scan time of the PC is short in respect to the transmission execution time, the transmission module is made asynchronous with the scan time and does not start the next transmission until the exchange of I/O signals with all the remote station devices is completed (S14).例文帳に追加

伝送モジュールは、ＰＣのスキャン時間が伝送実行時間に対し短い場合、スキャン時間に対し非同期となり、全リモート局装置とのＩ／Ｏ信号の送受信を完了する(S14) まで次の伝送を開始しないようにする。 - 特許庁

The boundary scan cell (BS cell) is provided with a one-to-one correspondence to an input/output cell 100 between the input/output cell 50 formed by a pad P and an input/output buffer (I/O in the drawing) and an internal logic circuit 110.例文帳に追加

バウンダリスキャンセル（ＢＳセル）は、パッドＰや入出力バッファ（図中、Ｉ／Ｏ）からなる入出力セル５０及び内部論理回路１１０間に、入出力セル１００と１対１の対応関係で設けられている。 - 特許庁

A PLC body 10 constituting a programmable controller comprises a function to execute a PLC processing sequence which executes cyclically and repeatedly one scan including user program execution, I/O refresh, and peripheral processing.例文帳に追加

プログラマブルコントローラを構成するＰＬＣ本体１０は、ユーザプログラム実行，Ｉ／Ｏリフレッシュ並びに周辺処理を含む１スキャンをサイクリックに繰り返し実行するＰＬＣ処理シーケンスを実行する機能を備えている。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To continuously exchange I/O signals with all remote station devices by switching a master station transmission module to asynchronous transmission when the cycle, namely, scan time of an interruption signal to be generated at every scan time of a PC is not sufficient with respect to the transmission execution time of the relevant master station transmission module.例文帳に追加

親局伝送モジュールの伝送実行時間に対し、ＰＣのスキャン時間ごとに発生する割込信号の周期、すなわちスキャン時間が不十分である場合、当該親局伝送モジュールは、非同期伝送に切り替わることによって全リモート局装置とのＩ／Ｏ信号の送受信を継続して行う。 - 特許庁

In a BS circuit inserting step SA4, a boundary scan test circuit is inserted into a logic circuit designed in a logic designing step SA1 and, in a hierarchy converting step SA5, the boundary scan cells which are respectively connected to the I/O buffers having correspondence relations with the corresponding logical blocks decided in the block deciding step SA3 are inserted into the hierarchy of the corresponding logical blocks.例文帳に追加

ＢＳ回路挿入ステップＳＡ４において、論理設計ステップＳＡ１で設計された論理回路にバウンダリスキャン・テスト回路を挿入すると共に、階層変換ステップＳＡ５において、ブロック決定ステップＳＡ３で決定された対応論理ブロックの階層に、該対応論理ブロックと対応関係にあるＩ／Ｏバッファのそれぞれと接続されるバウンダリスキャン・セルを挿入する。 - 特許庁