Optical Reviewとは 意味・読み方・使い方

During reproduction of an optical disk, when a user selects an end review key 49 from a plurality of operation keys formed in an operation section 40 and presses down the key, the chapter number of a chapter in reproduction at a point when the end review key 49 is pressed down is checked.例文帳に追加

光ディスクの再生が行われているとき、ユーザが操作部４０に形成された複数の操作キーの中からエンドレビューキー４９を選択して押下すると、エンドレビューキー４９が押下された時点で再生中のチャプターの番号が確認される。 - 特許庁

Alternatively, a first electron optical system for the defect detecting inspection and a second electron optical system only for review for observing a specific narrow part detected by the defect detecting inspection are stored in parallel in the same vacuum vessel.例文帳に追加

または、欠陥検出検査の為の第１の電子光学系と欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の電子光学系とを同一の真空容器内に並べて収容する。 - 特許庁

Alternatively, the device stores the first electronic optical system for the defect detecting inspection and the second electronic optical system exclusive for a review for observing the specified narrow portion detected by the defect detecting inspection, in the same vacuum container.例文帳に追加

または、欠陥検出検査の為の第１の電子光学系と欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の電子光学系とを同一の真空容器内に並べて収容する。 - 特許庁

Then, based on management information recorded in the optical disk, quick return and reproduction of the optical disk are performed from an end point of the chapter in reproduction at the point when the end review key 49 is pressed down (that is, a starting point of a chapter subsequent to the relevant chapter) to a starting point of the relevant chapter.例文帳に追加

そして、光ディスクに記録される管理情報に基づき、エンドレビューキー４９が押下された時点で再生中のチャプターの終了位置（即ち、当該チャプターの次のチャプターの開始位置）から当該チャプターの開始位置に向けて光ディスクの早戻し再生が行われる。 - 特許庁

A phase shift mask is inspected by a mask inspecting apparatus and the size relating to the detected phase defect is measured by using this inspecting apparatus or a measuring instrument for defect review and further the phase and transmittance are calculated by using an optical simulation.例文帳に追加

位相シフトマスクをマスク検査装置を用いて検査し、検出した位相欠陥についてこの検査装置もしくは欠陥レビュー用測定装置を用いてサイズを測定し、さらに光学シミュレーションを用いて、位相、透過率を算出する。 - 特許庁

Then, only when the recognized defect part which is determined that there are no defects therein by the electron microscope unit 2, is review carried out by an optical microscope unit 4, is the information based on the reviewed result as to whether defects exist in the recognized defect part, output to the defect information classifying section 6 by a second determining section 5.例文帳に追加

続いて、電子顕微鏡ユニット２で欠陥が無いと判定された認定欠陥部位のみについて、光学顕微鏡ユニット４によりレビューし、その結果に基づき、第２の判定部５により認定欠陥部位における欠陥の有無の情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁

To provide an image processor that can prevent useless power consumption or giving hindrance to photographing because view of an image display section is difficult during a consecutive shot even when a quick review function to make a confirmation display of a photographed image on the image display section in the case that an optical finder is used to conduct photographing in the consecutive photographing mode.例文帳に追加

光学ファインダーを用いて連写モードで撮影を行う場合に、画像表示部に撮影直後の撮影画像の確認表示を行うクイックレビュー機能を選択したとしても連写中は画像表示部を見ることが困難であるため、無駄な電力消費となったり撮影の邪魔になることを防止する。 - 特許庁