analog test systemとは 意味・読み方・使い方

To more accurately measure analog type devices by making not only the top surface of a test board but the back surface usable as regions for mounting wafer-measuring components about a wafer measuring board which constitues a wafer test system with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ５１，テスタ６１と共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの上面だけでなく、裏面をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of rapidly and efficiently testing even a mixed signal integrated circuit having analog signals and digital signals mixed therein by modularizing various types of different test devices and combining a plurality of these devices with each other.例文帳に追加

各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせることにより、アナログ信号とデジタル信号の混在したミクストシグナル集積回路であってもその試験を迅速かつ効率よく試験できる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a probe device which enables high speed test of the electric characteristics of a system LSI in which logic circuits and analog circuits are mixed loaded, at a signal transmission speed of 4 Gbps or above by a low speed tester without investing a high speed tester.例文帳に追加

ロジック回路とアナログ回路を混載したシステムＬＳＩのそれぞれの電気的特性を高速テスタを投資することなく低速テスタで、信号伝送速度４Ｇｂｐｓ以上の高速テストが可能なプローブ装置を提供する。 - 特許庁

In the protective relay 1, a processing unit 11 inputs a digital signal of a DC voltage which is converted from an AC voltage of the power transmission system L1 from an analog/digital converter A/D, inputs an output voltage of an AC from a power supply unit 15, and inputs inspection data (test current, test voltage and operation time) from a test device 2 which is connected at inspection via an external interface 14.例文帳に追加

保護継電器１において、処理部１１は、アナログデジタル変換器Ａ／Ｄから送電系統Ｌ１の交流電圧を変換した直流電圧のデジタル信号を入力し、電源ユニット１５から直流の出力電圧を入力し、点検時に接続される試験装置２から外部インタフェース部１４経由で点検データ（試験電流、試験電圧、動作時間）を入力する。 - 特許庁

To provide a mm wave radar testing apparatus that is incorporated into a mm wave radar apparatus for measuring the distance between mobile units and the relative speed especially by using an FM-CW system regarding the mm wave radar apparatus, and can perform an analog test singly by the apparatus.例文帳に追加

ミリ波レーダ装置に関し、特にＦＭ−ＣＷ方式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定するミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 - 特許庁

To precisely conduct measurement of an analog device, by using not only a periphery of a test board but also a central part which is conventionally a hole part, as a mounting area for wafer measuring components, in a wafer measuring board for constituting a wafer testing system together with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ，テスタと共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの周辺だけでなく、従来穴部であった中央部をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁