atomic scatteringとは 意味・読み方・使い方

An analyzer 2 calculates the average atomic number of the sample S from a scattering X-ray signal contained in the spectrum.例文帳に追加

解析装置２は、スペクトルに含まれる散乱Ｘ線信号から試料Ｓの平均原子番号を計算する。 - 特許庁

In inelastic scattering, the total energy and the total momentum are conserved, but the scattering redistributes the energy and momentum between the high-energy electron and the atomic electron.発音を聞く 例文帳に追加

非弾性散乱では、全エネルギーと全運動量は保存されるが、その散乱は高エネルギー電子と原子の電子の間のエネルギーと運動量を、再分布させる。 - 科学技術論文動詞集

In the kinematical theory, the presence of the Debye-Waller factor is sometimes interpreted as equivalent to a decrease in the atomic scattering amplitude.発音を聞く 例文帳に追加

運動学的理論では、デバイワラー因子の存在は、しばしば原子散乱振幅の減少と等価であると解釈される。 - 科学技術論文動詞集

An atomic nucleus in a sample 100 absorbs the LCS gamma ray 15 and emits an NRF gamma ray 21 by nuclear resonant scattering.例文帳に追加

試料１００における原子核は、このＬＣＳガンマ線１５を吸収し、核共鳴散乱によって、ＮＲＦガンマ線２１を発する。 - 特許庁

To provide a photo-electron measuring method and a system capable of reducing the error of the atomic position by shortening a measuring time and by enlarging correction effect relative to distortion of an atomic image caused by anisotropy of electron scattering, and requiring the use of no special facility.例文帳に追加

測定時間を短く、かつ、電子散乱の異方性による原子像の歪みに対する補正効果を大きくすることにより原子位置の誤差を小さくすることができ、かつ、特別な施設を使用する必要がない、光電子測定方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To enhance measurement accuracy of an X-ray diffractometer for measuring an atomic radial distribution function and anomalous diffraction scattering X-rays, by setting the size of a slit within the range specified by this invention.例文帳に追加

スリットサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、原子動径分布関数測定用、及び、異常散乱Ｘ線回折用の、Ｘ線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁

The hydrogen concentration of the surface atomic layer of a sample (a substrate 20) is measured in the surface treatment apparatus without extracting the sample in atmospheric air, by conducting in the vacuum chamber 2 of the surface treatment apparatus by using the elastic recoil-particle detecting method by the low-energy ion scattering spectral method.例文帳に追加

低エネルギーイオン散乱分光法による弾性反跳粒子検出法を用い、表面処理装置の真空室２内で行うことによって、試料（基板２０）を大気中に取り出すことなく表面処理装置内において、試料の表面原子層の水素濃度の測定を行う。 - 特許庁