back defectsとは 意味・読み方・使い方

To provide a manufacturing method of an embedded diffusion silicon epitaxial wafer with no defects on the main back surface of a silicon monocrystalline substrate.例文帳に追加

シリコン単結晶基板の主裏面に欠陥がない埋込拡散シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new nondestructive measuring apparatus utilizing an electromagnetic induction phenomenon for precise and high-sensitivity measurement of defects on the back surfaces of metals.例文帳に追加

金属の裏面欠陥の高精度・高感度計測のため、電磁誘導現象を利用した新しい非破壊計測装置の提供 - 特許庁

To provide a method for manufacturing absorbent articles in which indicator coating irregularity is hard to occur, and back sheets do not have defects.例文帳に追加

インジケータの塗工むらが生じ難く、バックシートに欠陥が生じていない吸収性物品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal image screen having an improved back light, particularly, an improved light source, by avoiding defects in the new technology.例文帳に追加

最新技術の欠点を回避し、改善されたバックライトを有する、特に、改善された光源を有する液晶画像スクリーンを提供する。 - 特許庁

To reliably inspect the defects of the front and back surfaces and edge part of a strip of sheet with a small reflection factor.例文帳に追加

反射率の低い帯状シートの表面、裏面およびエッジ部の欠陥を高い信頼性のもとに検査できるようにする。 - 特許庁

To dissolve molding defects due to a back surface cloth in a pad for a seat constituted so as to embed an air bag device.例文帳に追加

エアバッグ装置が埋設されるように構成されたシート用パッドにおいて、裏面布に起因する成形不良を解消する。 - 特許庁

To solve such a problem that a conventional etching process for patterning a thin film with fluid causes defects originating from foreign matters precipitated by a treatment fluid which is projected to the back side.例文帳に追加

薄膜パターンを流体によるエッチング処理工程では、裏面に照射した処理流体により異物が析出し、不良の原因となる。 - 特許庁

To quickly analyze coating defects found by customers or the like and quickly feed back the analyzed result on a coating process, an inspection process, a transport process and the like.例文帳に追加

顧客などにより発見された塗装欠陥を迅速に解析し、解析結果を塗装工程や検査工程，輸送工程などに迅速に反映する。 - 特許庁