critical problemとは 意味・読み方・使い方

The critical significance of the numerical limitation is required, when the claimed invention and the cited invention have a common problem to be solved and qualitatively same effect.発音を聞く 例文帳に追加

請求項に係る発明及び引用発明の解決すべき課題が共通で、効果が同質である場合、数値限定の臨界的意義が必要である。 - 特許庁

To provide a technique for suppressing a loading effect relating to the production of a photomask (10) that poses a problem of reduction in CD (critical dimension) accuracy due to the loading effect.例文帳に追加

ローディング効果によるＣＤ精度の低下が問題となるフォトマスク（１０）の製造に関し、ローディング効果を抑制するための手法を提供する。 - 特許庁

It has become clear after the Leah Brothers problem and the global economy directly facing a critical junction that unresolved issues in the global economic framework exist.例文帳に追加

リーマン・ショック以降、世界経済が直面した危機的な状況において、国際経済体制には未解決の課題が残されていることが明らかになった。 - 経済産業省

Given the public nature of the business operations of a bank, Mizuho Bank’s system problem concerns the critical part of the settlement function.発音を聞く 例文帳に追加

今回のみずほ銀行のシステム障害については、業務の公共性を有する銀行でございまして、こういうのは非常に決済機能の大事な部分でございます。 - 金融庁

To solve such a problem that a superconducting wire cannot demonstrate its inherent performance because a critical current significantly lowers when only a slight strain is given in an A15 superconducting wire used in a nuclear fusion reactor or the like.例文帳に追加

核融合炉等に使用されるＡ１５型の超電導線は、わずかな歪が加わっただけで、臨界電流値が大幅に低下するという性質を有している。 - 特許庁

To provide an image sensor, which can solve the problem that a column fixed pattern noise is generated due to FICD (Final Inspection Critical Dimension) variance of the gate electrode of a transistor constituting a unit pixel.例文帳に追加

単位画素を構成するトランジスタのゲート電極のＦＩＣＤ変動に起因するカラム固定パターンノイズの発生という問題を解決することができるイメージセンサを提供すること。 - 特許庁

A problem of variations of wafer edge critical size is solved by using an exposure plate arranged on a retaining pin by which a wafer table of a stepper is made to progress and retreat.例文帳に追加

本発明の実施例において、本発明は支持ピン上に置かれた露光板を利用してウエハエッジ臨界寸法変動の問題を解消し、そのうち支持ピンはステッパのウエハ台を進退する。 - 特許庁

To provide a method for forming a fine pattern of a semiconductor element, which removes a problem that a critical dimension due to an overlay and forms a fine pattern of all forms by the DEET method.例文帳に追加

オーバーレイによって臨界寸法が不良になる問題を除去すると共に、ＤＥＥＴ方法で全形態の微細パターンを形成することが可能な半導体素子の微細パターン形成方法の提供。 - 特許庁