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final test and inspectionとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 最終試験・検査
「final test and inspection」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
To provide a semiconductor device and its electrical inspection device capable of reducing cost by shortening a test (final test) time for electrical selection, concerning the semiconductor device having a built-in capacitor.例文帳に追加
コンデンサが内蔵された半導体装置において、電気的選別のためのテスト(ファイナルテスト)時間を短縮してコストダウンを図ることが可能な半導体装置と、その電気的検査方法を提供する。 - 特許庁
Further, by evaluating correlation with read-write test results in advance, a final failure part may be specified upon the inspection and measurement of the pattern cross sectional shape to prevent the generation of failure in advance.例文帳に追加
さらに、リードライトテスト結果との相関を予め評価しておくことにより、パターン断面形状の検査・測定時に最終的な不良箇所の特定を可能とし、不良の発生を事前に防止することができる。 - 特許庁
Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加
したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを1つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁
In the final inspection of the printed circuit board, a test set reads a serial number from the printed circuit board and stores the actual serial number of the printed circuit board to a storage device placed on the printed circuit board.例文帳に追加
プリント回路基板の最終検査で、テストセットは、プリント回路基板からシリアル番号を読み出した後に、プリント回路基板の実際のシリアル番号をプリント回路基板上に設けた記憶装置に挿入する。 - 特許庁
A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.例文帳に追加
エピタキシャル成長工程である工程2を終えたバッチAから、先行ロットPを選択し、この先行ロットPを、バッチAの他のロットに先行して工程3から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁
Faults of the electrode pattern and their locations are grasped by conducting appearance inspection immediately after formation of the electrode on a glass substrate, correction of the electrode is conducted standing on information obtained with the appearance inspection, then following formation process of each composing layer is executed, followed by a non-contact continuity test is performed as the final inspection before shipment.例文帳に追加
ガラス基板上に電極を形成した直後に外観検査を実施して電極パターンの欠陥及びその位置を把握し、その外観検査で得た情報を基にして電極の修正を実施し、それ以降の各構成層の形成工程を経た後に、出荷前の最終検査として非接触による電極の導通検査を行う。 - 特許庁
Note that these are only examples for the purposes of illustration, not an exhaustive list of all required tests; the final set of items necessary for test and inspection must be determined in accordance with such aspects as the properties of the human stem cells, the research objective, and scientific knowledge.例文帳に追加
規格値(判定基準)は、研究初期段階では暫定的なもので良いが、当該臨床研究の進展に応じて適切に見直し、臨床上の有効性及び安全性に関連する品質特性を適切に把握するものとする。 - 厚生労働省
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「final test and inspection」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
To provide a method and apparatus for inspecting a thin film magnetic head element which can improve throughput at low cost than the case of inserting an HGA one by one into a characteristic inspection apparatus to inspect the characteristic of the thin film magnetic head element of the HGA and can inspect the recording characteristic of the thin film magnetic head element before a final test of the HGA.例文帳に追加
1つの特性検査装置にHGAを1つずつ投入して前記HGAの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、HGAの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for inspecting the characteristic of a thin film magnetic head element which can improve throughput at low cost and can inspect recording the characteristic of the thin film magnetic head element before a final test of an HGA in comparison with the case of inserting the HGA one by one for each characteristic inspection apparatus to inspect the characteristic of the thin film magnetic head element of the HGA.例文帳に追加
1つの特性検査装置にHGAを1つずつ投入して前記HGAの薄膜磁気ヘッド素子の特性を検査する場合よりも低コストでスループットを向上させることができ、かつ、HGAの最終検査よりも前に薄膜磁気ヘッド素子の記録特性を検査することの可能な、薄膜磁気ヘッド素子の特性検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
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