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flight sampleとは 意味・読み方・使い方
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「flight sample」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 39件
DEVICE FOR MEASURING TIME-OF-FLIGHT OF SAMPLE ION, TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER, AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY METHOD例文帳に追加
試料イオンの飛行時間測定用装置,飛行時間型質量分析装置,飛行時間型質量分析方法 - 特許庁
Ionization of a sample gas is stopped by turning off of a lamp discharge control power source 9, synchronized with the time-of-flight measurement in a time-of-flight type mass spectrometer 6.例文帳に追加
質量分析装置6での飛行時間計測に同期して、サンプルガスのイオン化を、ランプ放電制御電源9のオフによって停止する。 - 特許庁
TIME-OF-FLIGHT TYPE MASS SPECTROMETER AND SOLID SAMPLE IMPURITY ANALYSIS DEVICE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加
飛行時間型質量分析装置および該装置を備えた固形試料不純物分析装置 - 特許庁
Next, at the detecting section 30, the arrival position and flight time of the sample ions are simultaneously detected.例文帳に追加
次に、検出部30では、試料イオンの到達位置と飛行時間とを同時に検出する。 - 特許庁
For the same sample to be measured, a time-of-flight spectrum without ion passing and a time-of-flight spectrum with passing of high time resolution are acquired (S1, S2).例文帳に追加
同一の被測定試料に対し、イオンの追い越しのない飛行時間スペクトルと高い時間分解能の追い越しのある飛行時間スペクトルとを取得する(S1、S2)。 - 特許庁
COMPOSITION INFORMATION ACQUISITION METHOD, COMPOSITION INFORMATION ACQUISITION APPARATUS AND SAMPLE TABLE FOR TIME OF FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加
組成情報取得方法、組成情報取得装置及び飛行時間型二次イオン質量分析用試料台 - 特許庁
A sample is arranged in front of the cylindrical mirror electron energy analyzer to detect electrons from the sample, and ions from the sample are detected by the time-of-flight type ion mass analyzer.例文帳に追加
前記円筒鏡電子エネルギー分析器の前方に試料を設置し、前記試料からの電子を検出し、前記飛行時間型イオン質量分析器で前記試料からのイオンを検出する。 - 特許庁
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「flight sample」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 39件
Finally, the extracted component, dried and solidified on the sample stand, is analyzed in a time-of-flight secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加
最後に、上記試料台上に乾固した抽出成分を飛行時間型二次イオン質量分析装置にて分析する。 - 特許庁
An ion trap 9 which is partitioned with reference to an ionization means 1 and a time-of-flight mass spectrometry means 19 is filled directly with a sample gas through a sample-gas introduction tube 3.例文帳に追加
イオン化手段1および飛行時間型質量分析手段19に対して仕切られたイオントラップ9中にサンプルガスをサンプルガス導入管3を介して直接充填する。 - 特許庁
Meanwhile, by providing a mechanism for synchronizing the ion discharge timing of the flight time mass analyzer to the heating timing of the sample, the molecules discharged from the sample can be maximally captured and the analysis of high sensitivity of the sample becomes possible.例文帳に追加
一方、飛行時間質量分析計のイオン打ち出しタイミングを試料加熱のタイミングと同期させる機構を設けることにより、試料から放出された分子を最大限捕捉することができ、高感度な分析が可能となる。 - 特許庁
Thus, whichever sample on the sample plate 2 is analyzed, distance (d) between the upper surface of the sample and an ion extraction electrode 9 is maintained fixedly, thus dispensing with variations in flight distance and making the operation of an ion extraction electric field equal.例文帳に追加
これにより、サンプルプレート2上のどのサンプルを分析する場合にも、サンプル上面とイオン引き出し用電極9との間の距離dが一定に保たれ、飛行距離のばらつきがなくなるとともにイオン引き出し電場の作用も同じになる。 - 特許庁
To provide a data collection method and device for a time-of-fight type mass spectroscope capable of correctly providing a flight time of a sample ion.例文帳に追加
試料イオンの飛行時間を正確に求めることができる飛行時間型質量分析装置用データ収集方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a time-of-flight mass spectrometer without lowering the resolving power even if the ion of sample gas separated at a gas chromatograph device is introduced in an ion reservoir.例文帳に追加
ガスクロマトクラフ装置で分離された試料ガスのイオンをイオン溜に導入しても、分解能が低下しない飛行時間型質量分析装置を提供する。 - 特許庁
To realize uniform mass resolution regardless of the mass of a sample ion scattered from a sample irradiated with measuring beams, and to achieve high mass resolution by securing long flight distance regardless of a compact device and allowing the sample ion to fly for a long time.例文帳に追加
測定用ビームば照射された試料から散乱した試料イオンの質量にかかわらず均一な質量分解能を実現し,且つ,コンパクトな装置でありながら長い飛行距離を確保して長時間試料イオンを飛行させることにより高い質量分解能を実現すること。 - 特許庁
To solve the problem that it has been difficult to determine a constituent profile in a thickness direction since it is difficult to scrape a sample from a sample surface in the case where the sample is a single-layer film of an organic compound and a molecular-binding compound in a solid surface by an analytical method of surface structures using conventional time-of-flight secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加
従来の飛行時間型二次イオン質量分析を利用した表面構造の解析方法では、試料が固体表面の有機化合物や分子結合性化合物の単層膜の場合に、試料表面から削っていくことが困難なために、厚さ方向の組成プロファイルを求めることが困難である。 - 特許庁
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