grid testとは 意味・読み方・使い方

Another embodiment includes a method and a system for generating a simulation data store which uses a signal apart from a test grid to model an influence of an IC design and/or production process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

One application includes the preparation of a simulation data store which is generated by using a test grid to model a geometric shape of an IC mutual connection and its method of use.例文帳に追加

ひとつの適用としては、ＩＣ相互接続の幾何学的形状をモデル化するテスト格子を使用して生成されたシミュレーションデータストアの作成と使用法を含む。 - 特許庁

The tester generates moire fringes, by overlapping the image of the test mask via the objective lens and the image passing the reference grid and then observes the disturbed moire fringes.例文帳に追加

そして、検査装置は、対物レンズを介するテストマスクの像と、基準格子とを透過した像とを重ねて、モアレ縞を発生させて、このモアレ縞の乱れを観察する。 - 特許庁

This test board 1 formed by laminating three substrates comprises a mounting face (first layer) GND solid 8 layer (second layer), an insulating layer (third layer), and a solder face (fourth layer) where a ball grid 7 is formed.例文帳に追加

三枚の基板を積層形成したテストボード１は、実装面（第１層）ＧＮＤベタ８層（第２層）、絶縁層（第３層）、ボールグリッド７が形成されたハンダ面（第４層）からなる。 - 特許庁

There is provided the syndiotactic polystyrene-based resin film in which a ratio of the number of peeled lattice cells to all the number of lattice cells is 20% or less in a grid peel test in thermo-compression bonding to a copper sheet at 200°C and 50 kgf/cm^2 and for one minute.例文帳に追加

２００℃、５０ｋｇｆ／ｃｍ^２、１分間で銅板に熱圧着したときの碁盤目剥離試験において、全マス数に対し剥離したマス数が２０％以下であるシンジオタクチックポリスチレン系樹脂フィルム。 - 特許庁

A test print 1 is generated (S101), a correction coefficient Ka of a contrast potential for forming an image is optimized based on density information obtained in the step S102 (S103), and a grid potential and a development bias potential are set to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), the correction coefficient Ka of the contrast potential of image formation is optimized by density information obtained in a step S102 (S103) and a grid potential and a development bias potential are set so as to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

An image pattern 600 is image data for a piece of paper which has been transmitted from the reading section, and a grid pattern 601 is the test pattern which has been formed in the first IC 510 of the circuit 502.例文帳に追加

画像パターン６００は、読取部から転送されてきた用紙１枚分の画像データであり、格子パターン６０１は、ＬＥＤ書込部制御回路５０２の第１ＩＣ５１０にて生成されたテストパターンである。 - 特許庁