high resolution TEMとは 意味・読み方・使い方

To provide a transmission electron microscope (TEM) sample of high quality and high resolution allowing detail reproduction.例文帳に追加

高品質、高解像度かつ詳細な再現を可能にするＴＥＭ試料を提供する。 - 特許庁

Observation of high resolution and analysis for the sample material are allowed thereby using a TEM.例文帳に追加

これによって、ＴＥＭを用いた高解像度の観察および試料材料の分析が可能となる。 - 特許庁

A neatly arranged graphite structure which corresponds to that shown in TEM having a high degree of resolution is shown in a single nanotube by Raman Microscopic Spectroscopy.例文帳に追加

単一ナノチューブのラマン顕微分光分析は、高解像度ＴＥＭと合致するよく揃ったグラファイト構造を呈する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer mountable on a SEM, a TEM or the like, and measuring a plurality of elements simultaneously with high sensitivity and high resolution.例文帳に追加

ＳＥＭ、ＴＥＭなどにも取り付け可能で、複数の元素を高感度、高分解能で同時に測定可能なＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of performing the visual inspection of a semiconductor at a high speed with high resolution and uniformly preparing a sample for TEM observation and various analyses, with high position accuracy, from a region where foreign matters or defects exist.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁