ion samplingとは 意味・読み方・使い方

An ion milling device comprises; a sampling stage 1 where a sample S is placed; an ion source 2 for generating an ion beam with which the sample S is irradiated; a sample chamber 3 maintaining a storage space of the sampling stage 1 as a predetermined vacuum; and refrigerant supplying means 5 for supplying a gaseous refrigerant to cool the sample S inside the sample chamber 3.例文帳に追加

試料Sが設置される試料台1と、試料Sに照射するイオンビームを発生させるイオン源2と、試料台1の収納空間を所定の真空に保持する試料チャンバ3と、試料Sを冷却するための気体冷媒を試料チャンバ3内に供給する冷媒供給手段5とを備えるイオンミリング装置である。 - 特許庁

A digital signal processing circuit 4, though storing sampling data of an output signal of a combustion ion current detection circuit 3 in a memory, determines presense of knocking by erasing only "m+1" pieces of the sampling data affected by noises from the memory if the presence of knocking is determined and by using each sampling data stored in the memory.例文帳に追加

デジタル信号処理回路４は、燃焼イオン電流検出回路３の出力信号のサンプリングデータをメモリに記憶するものの、ノイズの発生を判定したときにはこのノイズの影響を受けた「ｍ＋１」個のサンプリングデータだけをメモリから消してメモリに記憶された各サンプリングデータを用いてノッキングの発生の判定を行う。 - 特許庁

The invention enables automatic endpoint-detection for a segregation process of the extraction sample and the sample in sampling of a microsample using focused ion beams.例文帳に追加

本発明によれば、集束イオンビームを用いた微小試料のサンプリングにおいて、摘出試料と試料との分離加工の終点検知等を自動的に実施できるようになる。 - 特許庁

Sample ions contained in the droplets are deflected by a deflector 7, enter into a mass spectrometric part 22 from an ion sampling fine hole 17 and undergo spectrometry there.例文帳に追加

液滴中に含まれる試料イオンはデフレクタ７により偏向を受け、イオンサンプリング細孔１７から、質量分析部２２に入り、質量分析される。 - 特許庁

Further, metal ions can be recovered using an ion exchange resin without raising pH and the produced metal solution is reused as a plating solution or an electrolytic sampling method is used to manufacture a metal lump.例文帳に追加

また、イオン交換樹脂を利用し、ｐＨを上昇させることなく、金属イオンを回収可能であり、製造した金属溶液はメッキ溶液として再使用したり、電解採取法を使用して金属塊を製造する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer and a mass spectrometry method having higher sensitivity than a guide method and a peak value recording method, and having no relation with a sampling period, without requiring improvement ion transmittance.例文帳に追加

イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。 - 特許庁

To provide an ion beam processing device and a sample processing method in which a test piece can be extracted from a sample in a short time without moving a stage while carrying out a sampling operation.例文帳に追加

サンプリング動作中にステージを移動させることなく試料から試料片を短時間に取り出すことができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。 - 特許庁

This detector is provided with a detecting material S for receiving a sampling gas, and a measuring head 13 for detecting an optical concentration of the detecting material S, and the detecting material S is constituted by developing a hydrogen ion indicator and a humectant on a carrier.例文帳に追加

サンプリングガスを受ける検知材Ｓと、検知材Ｓの光学濃度を検出する測定ヘッド１３とを備え、検知材Ｓが、水素イオン指示薬及び保湿剤を担体に展開して構成されている。 - 特許庁