「ion sampling」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

At the time of sampling of soft water, tap water directly flows through an ion exchange resin bed 13 and soft water is sampled from the soft water discharge port.例文帳に追加

軟水採取時は、水道水が直接イオン交換樹脂層１３を流れ、排出口より軟水を採取する。 - 特許庁

An ion milling device comprises; a sampling stage 1 where a sample S is placed; an ion source 2 for generating an ion beam with which the sample S is irradiated; a sample chamber 3 maintaining a storage space of the sampling stage 1 as a predetermined vacuum; and refrigerant supplying means 5 for supplying a gaseous refrigerant to cool the sample S inside the sample chamber 3.例文帳に追加

試料Sが設置される試料台1と、試料Sに照射するイオンビームを発生させるイオン源2と、試料台1の収納空間を所定の真空に保持する試料チャンバ3と、試料Sを冷却するための気体冷媒を試料チャンバ3内に供給する冷媒供給手段5とを備えるイオンミリング装置である。 - 特許庁

To provide an inexpensive and small-sized water softener capable of simply changing over the sampling of soft water and the regeneration of an ion exchange resin using a saline solution.例文帳に追加

軟水採取と、食塩水によるイオン交換樹脂の再生とが簡単に切り換えることができ、安価で、小型な軟水器の提供。 - 特許庁

Sample ions contained in the droplets are deflected by a deflector 7, enter into a mass spectrometric part 22 from an ion sampling fine hole 17 and undergo spectrometry there.例文帳に追加

液滴中に含まれる試料イオンはデフレクタ７により偏向を受け、イオンサンプリング細孔１７から、質量分析部２２に入り、質量分析される。 - 特許庁

A digital signal processing circuit 4, though storing sampling data of an output signal of a combustion ion current detection circuit 3 in a memory, determines presense of knocking by erasing only "m+1" pieces of the sampling data affected by noises from the memory if the presence of knocking is determined and by using each sampling data stored in the memory.例文帳に追加

デジタル信号処理回路４は、燃焼イオン電流検出回路３の出力信号のサンプリングデータをメモリに記憶するものの、ノイズの発生を判定したときにはこのノイズの影響を受けた「ｍ＋１」個のサンプリングデータだけをメモリから消してメモリに記憶された各サンプリングデータを用いてノッキングの発生の判定を行う。 - 特許庁

The invention enables automatic endpoint-detection for a segregation process of the extraction sample and the sample in sampling of a microsample using focused ion beams.例文帳に追加

本発明によれば、集束イオンビームを用いた微小試料のサンプリングにおいて、摘出試料と試料との分離加工の終点検知等を自動的に実施できるようになる。 - 特許庁

To provide an ion beam processing device and a sample processing method in which a test piece can be extracted from a sample in a short time without moving a stage while carrying out a sampling operation.例文帳に追加

サンプリング動作中にステージを移動させることなく試料から試料片を短時間に取り出すことができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。 - 特許庁

This detector is provided with a detecting material S for receiving a sampling gas, and a measuring head 13 for detecting an optical concentration of the detecting material S, and the detecting material S is constituted by developing a hydrogen ion indicator and a humectant on a carrier.例文帳に追加

サンプリングガスを受ける検知材Ｓと、検知材Ｓの光学濃度を検出する測定ヘッド１３とを備え、検知材Ｓが、水素イオン指示薬及び保湿剤を担体に展開して構成されている。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer and a mass spectrometry method having higher sensitivity than a guide method and a peak value recording method, and having no relation with a sampling period, without requiring improvement ion transmittance.例文帳に追加

イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。 - 特許庁

Further, metal ions can be recovered using an ion exchange resin without raising pH and the produced metal solution is reused as a plating solution or an electrolytic sampling method is used to manufacture a metal lump.例文帳に追加

また、イオン交換樹脂を利用し、ｐＨを上昇させることなく、金属イオンを回収可能であり、製造した金属溶液はメッキ溶液として再使用したり、電解採取法を使用して金属塊を製造する。 - 特許庁

To improve a percutaneous monitor method and an instrument therefor using a preceding technique by providing an ion induction sampling instrument having an integrated sensor for monitoring the blood concentration of a target substance or of a configuration element in terms of non-invasion.例文帳に追加

目標物質または構成要素の血液濃度を非侵入的にモニタするための一体センサーを有するイオン導入サンプリング装置を提供することによって、先行技術の経皮モニタ方法および装置を改良すること。 - 特許庁

Then the polysilicon films 2, 4 are covered with a resist 7 and only the polysilicon film 3 is doped with low concentration P (phosphorus) ion so as to control the threshold voltage of the pixel sampling n-chTFT to be lower than the threshold voltage of the n-chTFT of the CMOS transistor.例文帳に追加

次にポリシリコン膜２，４をレジスト７を覆い、ポリシリコン膜３のみに、低濃度のＰ（リン）イオンをドープし、画素・サンプリングｎ−ｃｈＴＦＴの閾値電圧をＣＭＯＳトランジスタのｎ−ｃｈＴＦＴの閾値電圧よりも低く設定する。 - 特許庁

An electrode plate 81 is mounted on a position separated from a discharge needle 2 by a specific distance, a resistance 82 is connected thereto, and the voltage (sampling voltage Vs) generated on the resistance 82 in accordance with ion current is output to a control circuit 83.例文帳に追加

そして、放電針２から所定間隔離れた位置に電極板８１を備えると共に、これに抵抗８２を接続し、イオン電流に応じて抵抗８２に発生した電圧（サンプリング電圧Ｖｓ）が制御回路８３に出力する。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

To accurately perform sampling work of a sample piece performed after the sample piece is formed by focusing ion beam in the atmosphere at a low cost by a simple method, to realize the high magnification observation of TEM and to also enable the additional processing of the sample piece.例文帳に追加

集束イオンビームによる試料片作成後に行われる試料片のサンプリング作業を、大気中下で簡易な手法により低コストで的確に行うことができ、しかも、ＴＥＭの高倍率観察を実現でき、試料片の追加工も可能にする。 - 特許庁

The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁