ionized atomとは 意味・読み方・使い方

When a voltage is applied between these electrodes 30, 40 and a hydrogen atom is permeated into the test sample electrode 30 to reach to the above second surface, the hydrogen is ionized by a current flowing between the second surface positive-charged and the electrodes.例文帳に追加

これらの電極３０，４０の間に電圧を印加し、水素原子が試験標本電極３０に浸透して前記第２の面に達すると、正に帯電した第２の表面と前記電極間を流れる電流によって前記水素原子がイオン化されるようにする。 - 特許庁

The present invention describes surface treatment of exposing a surface to an ionized atom or molecule to increase adhering strength of coagulated blood onto the surface, by increasing surface interaction of a component inherent to the blood such as fibrin/fibrinogen and platelet.例文帳に追加

フィブリン／フィブリノゲンおよび血小板などの血液固有の成分の表面相互作用を増加させることにより、表面に対する凝固した血液の粘着強度を増加させるために、表面をイオン化された原子または分子に暴露させることによって、表面を処置することが記載されている。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for ionizing cluster capable of increasing the energy per atom constituting the cluster without changing the acceleration voltage when accelerating cluster ions in manufacturing elements or the like, and a method for forming a film using the cluster ionized thereby, an etching method, a surface modification method and a cleaning method.例文帳に追加

素子の製造等においてクラスターイオンを加速するに際し、加速電圧を変えることなくクラスターを構成する原子１個当たりのエネルギーを向上させることが可能となるクラスターのイオン化方法および装置、これらによりイオン化されたクラスターを用いた膜形成方法、エッチング方法、表面改質方法、洗浄方法を提供する。 - 特許庁

When atoms or atom groups on the surface of a sample 3 are ionized by a pulse voltage applied to the sample 3 from a pulse generator 1 or pulsed laser light 7a or the like irradiated from a laser 7, generated ions 8 fly by being accelerated by an electric field generated by a direct-current high-voltage power source 2 between the sample 3 and an extraction electrode 5.例文帳に追加

パルス発生器１から試料３に印加されるパルス電圧やレーザー７から照射されるパルスレーザー光７ａなどにより、試料３の表面の原子又は原子団をイオン化させると、発生したイオン８は、試料３と引出電極５の間に直流高圧電源２により発生された電界により加速されて飛行する。 - 特許庁

The mass spectroscope for analyzing secondary ions and neutral secondary particles ionized afterward to be analyzed is provided with an ion source for making primary ion beams for generating secondary particles by irradiating the sample, and an analyzing unit for mass spectrometry of the secondary particles, and is also provided with a function capable of controlling kinetic energy per atom structuring a primary ion in a range of 20 eV or less.例文帳に追加

二次イオンおよび後からイオン化された中性の二次粒子を分析するための質量分析器において、試料を照射することで二次粒子を発生させるための一次イオンビームを作り出すイオン源と、二次粒子の質量分析のための分析ユニットとを設け、一次イオンを構成する原子１個あたりの運動エネルギーを20eV以下の領域で制御できる機能を装備させる。 - 特許庁