l(1)Cとは 意味・読み方・使い方

(I) R^1-{L^1-(Ar^1)_l}_s-C≡C-(Ar^2)_m-C≡C-(Ar^3)_n-C≡C-{(Ar^4)_p-L^2}_t-R^2.例文帳に追加

（Ｉ）Ｒ^1 −｛Ｌ^1 −（Ａｒ^1 ）_l ｝_s −Ｃ≡Ｃ−（Ａｒ^2 ）_m −Ｃ≡Ｃ−（Ａｒ^3 ）_n −Ｃ≡Ｃ−｛（Ａｒ^4 ）_p −Ｌ^2 ｝_t −Ｒ^2 - 特許庁

These entries must contain the following substitutions:発音を聞く 例文帳に追加

このエントリーは以下の置き換えを含まなければならない:1. %C, %N, %S, %T, %L または %C, %N, %S, %T, %l, %t, %c2. %C, %N, %S, %T, %l3. %C, %N, %S, %T4. %N, %S, %T, %L または %N, %S, %T, %l, %t, %c5. %N, %S, %T, %l6. %N, %S, %T - XFree86

1.%C, %N, %S, %T, %Lor%C, %N, %S, %T, %l, %t, %c2.%C, %N, %S, %T, %l3.%C, %N, %S, %T4.%N, %S, %T, %Lor%N, %S, %T, %l, %t, %c5.%N, %S, %T, %l6.%N, %S, %T発音を聞く 例文帳に追加

パスにおける6つのエントリーの順序は上記のままでなければならない。 - XFree86

The light-transmitting resin layer 7 is a resin satisfying all of the following three conditions in a film thickness of 30 μm, where saturation C* is 1≤C*≤2, a hue angle h is -135°≤h≤-45°, and lightness L* is L*≥90 in an L*C*h color model.例文帳に追加

この透光性樹脂層２は膜厚30μmにおいて、L^*C^*h表色系における彩度C^*が1≦C^*≦2、色相角度hが-135°≦h≦-45°、かつ明度L^*がL^*≧90の範囲内の３条件を同時に満たす樹脂である。 - 特許庁

Especially, one sector of 4K bytes can be constituted by a 10-bit symbol by using an algebraic geometry code a " Fermat code" which is constituted from a Fermat curve, such as that (m, L)=(5, 11) in Fermat curves "C_(L):X^L +Y^L+ Z^L=0" on P^2(GF(2^2m)).例文帳に追加

特に、P^2(GF(2^2m))上のFermat曲線「C_(L) : X^L ＋Y^L＋Z^L＝0」のうち、(m, L)＝(5, 11) であるようなものから構成された代数幾何符号「Fermat符号」を使用することで、1セクタ4キロバイトを10ビットシンボルで構成することができる。 - 特許庁

L and C of each circuit satisfy Equation (1): 150(kHz)<1/(2π√(Cc1(La+Lb)))<300(kHz) and Equation (2): 20(kHz)>1/(2π√Cc1×Cz/(Cc1+Cz)+Lc+Ln+La+Lb).例文帳に追加

150(kHz)<1/(2π√(Cc1(La+Lb))<300(kHz) ・・・(1) 20(kHz)>1/(2π√(Cc1×Cz/(Cc1+Cz)+Lc+Ln+La+Lb)) ・・・(2) - 特許庁

Then, by fitting the aged deterioration characteristics of the luminance L(t) measured at that time with a function c(t), that is, c(t)=L(t)/L(0)=1-Alog{(t+τ)/τ}, the aged deterioration function of the luminance is identified.例文帳に追加

そして、この測定された輝度L (t)の経時劣化特性を c(t) ＝ L(t)/L(0) ＝ 1 − A log ｛ ( t + τ) / τ｝なる関数c(t)でフィッティングして輝度の経時劣化関数を同定する。 - 特許庁