real testerとは 意味・読み方・使い方

To provide a semiconductor tester capable of continuously checking test results of respective DUTs, in real time, while grasping a specific DUT.例文帳に追加

特定のＤＵＴを把握しながら各ＤＵＴの試験結果をリアルタイムかつ連続して確認することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In this constitution, the electric defect position data at an IC memory obtained in a semiconductor IC tester, can be converted to the real coordination, and the defect position data can be compared with defect data of productive process.例文帳に追加

この構成により、半導体ＩＣ試験装置にて取得したＩＣメモリの電気的な不良位置の情報を実座標に変換することができ、製造プロセスの欠陥データと比較することが可能となる。 - 特許庁

To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.例文帳に追加

高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a portable twisting tester for simply measuring the elastic constant and twisting strength of an existing structure and an elastic constant/twisting strength testing method, using a twist to measure the elastic constant and destruction constant of the existing structure on the spot, in real time.例文帳に追加

本発明は、既存構造物の弾性定数とねじり強度とを簡易に測定する携帯型ねじり試験器およびねじりを利用した弾性定数とねじり強度の試験方法に関する発明である。 - 特許庁

A setup value/hold value of flip-flop connected to each pin is acquired with a commercial tester function for calibrating a real operation clock for functional test.例文帳に追加

又、市販のテスタ機能によりピン毎に接続されているフリップフロップのセットアップ値、ホールド値を得て、実動作クロックの校正をして機能試験を行う。 - 特許庁

The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加

ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a cell continuity inspection system by which an ATM tester is connected to a plurality of devices to be tested and simultaneously inspected, an inspection time for the ATM cell continuity inspection is shortened, and the inspection of a plurality of the devices to be tested can be executed in real time without enlarging a circuit scale of the device to be tested.例文帳に追加

ＡＴＭ試験器を複数の被試験装置に接続して同時に検査し、ＡＴＭセル導通検査の検査時間を短縮するとともに、被試験装置の回路規模を大きくすることなく、複数の被試験装置の検査を実時間で行えるセル導通検査システムを提供する。 - 特許庁