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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > JST科学技術用語日英対訳辞書 > two dimensional scatteringの意味・解説 

two dimensional scatteringとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 2次元散乱


JST科学技術用語日英対訳辞書での「two dimensional scattering」の意味

two dimensional scattering


「two dimensional scattering」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 17



例文

The scattering lights emitted from a plurality of LDs 1111 provided in the two-dimensional arrangement are converted with a cylindrical lenses 1121, 1132 into the beams having higher directivity scattering in the circumferential direction with uniform scattering angle.例文帳に追加

2次元配列させた複数のLD1111から出力される拡散光をシリンドリカルレンズ1121、1132により広がり角が円周方向に一様で指向性が高いビームとする。 - 特許庁

A multigroup differential scattering cross-sectional area, that is the probability of transition from the energy group before scattering to the energy group after the scattering, is calculated, by dividing the weight of the neutrons collected in an energy two-dimensional array with a collected energy multigroup neutron flux corresponding to the energy group after scattering.例文帳に追加

エネルギ2次元配列に収集された中性子のウェイトをその散乱後のエネルギ群に対応する収集されたエネルギ多群中性子束で除することにより、散乱前のエネルギ群から散乱後のエネルギ群に遷移する確率である多群微分散乱断面積を算出する。 - 特許庁

To provide an X-ray small angle scattering measuring instrument for measuring the size of nanosize particles on a two-dimensional plane and also measuring the planar distribution of the nanosize particles on the two-dimensional plane.例文帳に追加

2次元平面におけるナノサイズの粒子の大きさを測定するとともに、その粒子の2次元平面での平面的分布を測定するX線小角散乱測定装置を提供する。 - 特許庁

A two dimensional position sensitivity/time analyzing type detectors 14 and 15 are arranged in a direction of surrounding a scattering angle of 180° (observation angle 0°) and a direction surrounding a scattering angle of 135° (observation angle of 45°).例文帳に追加

散乱角180°(観察角0°)を取り囲む方向と散乱角135°(観察角45°)を取り囲む方向に二次元位置敏感・時間分析型検出器14,15を配置する。 - 特許庁

In two-dimensional image display, amplitude modulation in the amplitude modulation part 12a is set on the basis of two-dimensional image information A2 supplied from a two-dimensional image information storage part 92, and phase modulation in the phase modulation part 12p is set on the basis of light scattering phase information P2 supplied from a light scattering phase information storage part 14.例文帳に追加

二次元画像表示の際には、二次元画像情報格納部92から供給された二次元画像情報A2に基づいて振幅変調部12aにおける振幅変調が設定され、光散乱位相情報格納部14から供給された光散乱位相情報P2に基づいて位相変調部12pにおける位相変調が設定される。 - 特許庁

An image data acquiring and processing part reads a polarization complex image data of a two-dimensional image acquired in every polarization and imparted with a scattering coefficient of a complex number in every one pixel.例文帳に追加

画像データ取得処理部は、各偏波で取得した2次元画像でありかつ1ピクセル毎に複素数の散乱係数が与えられている偏波複素画像データの読み込みを行う。 - 特許庁

例文

To implement a two-dimensional photonic crystal bent optical waveguide and optical device system which are free from loss due to reflection and scattering in a bend part and from degradation of properties due to Fabry-Perot resonance.例文帳に追加

本発明は、曲がり部での反射・散乱による損失、ファブリーペロー共振による特性劣化のない2次元フォトニック結晶曲がり光導波路及び光デバイス装置を実現することを課題とする。 - 特許庁

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「two dimensional scattering」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 17



例文

To provide a PET apparatus enabling the simultaneous counting of photon pairs at a high sensitivity and the effective scattering correction, etc., by acquiring two- and three-dimensional projection data at the same time.例文帳に追加

2次元投影データおよび3次元投影データを同時に獲得して高感度な光子対同時計数および有効な散乱補正等を可能とすることができるPET装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic parallel adjusting scraper apparatus for processing a minute optical scattering pattern precisely and continuously while tracing the three-dimensional curved surface of a light guide plate precisely in two steps.例文帳に追加

導光板表面の3次元的屈曲面を2段階で精密に追跡しながら微細な光学的な散乱パターンを正確で切れなしに連続して加工する自動平行調整スクレイパー加工装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the reflection scattering member 32 is arranged so as to have a positional relation with the two-dimensional image sensor 11 in such a manner where the member 32 confronts a prescribed region which contains at least the spaces between the light receiving units 22, excluding the light receiving units 22.例文帳に追加

さらに、反射散乱部材32は、2次元撮像素子11に対して、複数の受光部22以外の領域で、かつ、少なくとも受光部どうしの間を含む所定領域と、対向する位置関係を有して配置されている。 - 特許庁

To provide an analyzer, especially an XAFS analyzer or a small angle scattering X-ray analyzer having a short beam line and high resolving power and capable of measuring a two-dimensional region in a short time.例文帳に追加

ビームラインが短く、分解能が高く、且つ短時間で2次元領域の測定が可能な分析装置、特にXAFS分析装置又は小角散乱X線分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for imaging a two-dimensional electron density distribution and a nucleus scattering length density distribution on a surface, an interface and a specific depth position of a thin film and a multilayered film having nonuniform and different structure for every place in plane, by an X-ray reflectometry and neutron reflectometry.例文帳に追加

X線反射率法および中性子反射率法において、均一ではない、面内の場所ごとに異なる構造を持つ薄膜・多層膜について、表面や界面、特定深さ位置における2次元の電子密度分布および核散乱長密度分布を画像化する方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

The panel 3 erected along the road or railroad is provided with see-through sections 4 formed in flat surface shape on both the front and rear of the panel, and a light scattering section 5 formed in rugged surface shape to scatter transmitted light in two-dimensional directions, on at least one face out of the front and rear of the panel.例文帳に追加

道路や鉄道に沿って立設するパネル3であって、そのパネルの表裏共に平坦な表面形状に形成した透視部4と、前記パネルの表裏のうち少なくとも一方の面が2次元方向に透過光を散乱させる凹凸表面形状に形成した光散乱部5とを、設けてある。 - 特許庁

This reflection type hologram screen 3A consists of a reflection type hologram 1 which is periodically arranged, in a one-dimensional or two-dimensional array form, with minute element holograms 1R, 1G and 1B which consist of reflection type volume holograms, do not have beam condensing or diverging properties and vary in the wavelengths to be reflected and diffracted and a transparent scattering layer 2 arranged on its incident side.例文帳に追加

反射型体積ホログラムからなり、集光性あるいは発散性を持たず反射回折する波長が異なる微小な要素ホログラム1R、1G、1Bが1次元あるいは2次元アレー状に周期的に配置されてなる反射型ホログラム1と、その入射側に配置された透過散乱層2とからなる反射型ホログラムスクリーン3A。 - 特許庁

例文

According to the present invention, the apparatus provides images of the two-dimensional electron density distribution and the nucleus scattering length density distribution on the surface, the interface and the specific depth position not using a method for making minute beams and performing an XY scan, but using beams having same size as those used in the regular X-ray reflectometry and the neutron reflectometry by algorithm of mathematical image reconstruction.例文帳に追加

本発明では、微小ビームを作製してXYスキャンを行う方法によらず、通常のX線反射率法および中性子反射率法において用いられるものと同じサイズのビームを用い、数学的な画像再構成のアルゴリズムによって、表面や界面、特定深さ位置における2次元の電子密度分布および核散乱長密度分布の画像が得られる装置を開発した。 - 特許庁

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