work intensityとは 意味・読み方・使い方

Without actually measuring, the actual luminous intensity En of the fluorescent lamp can be controlled in illumination as a target value Ep corresponding to the target luminous intensity L1, and a separate illumination is not necessary as it has been in the past, and the installation work becomes easy.例文帳に追加

実際に測定することなく、実際の照度値Enを目標照度値L1に対応する目標値Epとして蛍光ランプを調光でき、従来のように別個の照度計が不要になり、設置作業が容易になる。 - 特許庁

To provide a position detector, capable of accurately detecting a position, even when an intensity and a contrast of a work mark image are changed, depending on various causes.例文帳に追加

物体マーク像の強度およびコントラストが様々な要因に依存して変動する場合にも高精度な位置検出を行うことのできる位置検出装置。 - 特許庁

To provide a high-intensity discharge lamp excellent in starting performance which can be obtained stably with simple work, without utilizing a starting performance improving material.例文帳に追加

始動性能改善物質を利用することなく、簡単な作業で良好な始動性能を安定して得ることができる高輝度放電ランプを提供する。 - 特許庁

To provide an exterior finish device which properly adjusts the intensity or the like of sunlight incident from an opening section without being required for adjusting work by human.例文帳に追加

人による調整作業を要することなく、開口部から入射する太陽光の量等を適切に調整することができる外装装置を提供する。 - 特許庁

To provide a jacketed optical fiber identifier or the like capable of performing identifying work of a jacketed optical fiber and also measuring the transmission light intensity in the optical fiber.例文帳に追加

光ファイバの心線対照作業と共に光ファイバ内の伝送光強度をも測定できる光ファイバ心線対照装置等を提供する。 - 特許庁

A work 2 is irradiated with measuring light from the direction inclining to the direction perpendicular to the silicon film surface of the work 2, intensity or reflectance of light reflected from the silicon is measured and the film quality is identified from the measurement.例文帳に追加

被加工体２のシリコン膜面に対しての垂直方向に傾斜した方向から測定光を照射し、シリコンからの反射光の反射強度または反射率を測定し、その結果により膜質を識別する。 - 特許庁

In this surface shape measuring method, the phase of moire fringes are scanned, the period of intensity changes of the moire fringes generated in the scanning is measured, and the surface shape of the work is measured based on the period of the intensity changes of the measured moire fringes.例文帳に追加

本発明の表面形状測定方法は、モアレ縞の位相を走査し、その走査時に生じるモアレ縞強度変化の周期を測定し、測定したモアレ縞強度変化の周期に基づいて被測定物の表面形状を測定する。 - 特許庁

An analysis method is provided for an X-ray locking curve obtainable from a single crystal for detecting a work-affected layer, namely, the method is provided for evaluating the work-affected layer based on a ratio of a skirt-part strength vs peak intensity.例文帳に追加

単結晶の加工変質層を検出するための単結晶から得られるＸ線ロッキングカーブの解析方法であって、ピーク強度に対する裾部分の強度の比率に基づいて前記加工変質層を評価する方法である。 - 特許庁