「"DIFFRACTION DEVICE"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ULTRA-SHORT-PULSE ELECTRON DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

超短パルス電子回折装置 - 特許庁

BEAM CONDENSING DEVICE AND DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

集光装置及び回折装置 - 特許庁

REFLECTOR TYPE ELECTRON BEAM DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

反射型電子線回折装置 - 特許庁

COMBINATORIAL X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

コンビナトリアルＸ線回折装置 - 特許庁

GONIOMETER FOR X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折装置用ゴニオメータ - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE, DATA ANALYSIS METHOD OF X-RAY DIFFRACTION DEVICE, CONTROL METHOD OF X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND PROGRAM FOR IMPLEMENTING THE METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折装置、Ｘ線回折装置のデータ解析方法、Ｘ線回折装置の制御方法およびその方法を実現するためのプログラム - 特許庁

DIFFRACTION DEVICE FOR TWO WAVELENGTHS AND OPTICAL HEAD DEVICE例文帳に追加

２波長用回折素子および光ヘッド装置 - 特許庁

DIFFRACTION DEVICE USING PHOTONIC CRYSTAL例文帳に追加

フォトニック結晶を用いた回折素子 - 特許庁

PARALLEL TYPE HIGH SPEED ELECTRON BEAM DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

並列型高速電子線回折装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND X-RAY DIFFRACTION SYSTEM例文帳に追加

Ｘ線回折装置及びＸ線回折システム - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND MEASUREMENT METHOD BY X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折装置及びＸ線回折の測定方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT METHOD AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折測定方法及びＸ線回折装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

Ｘ線回折装置およびＸ線回折方法 - 特許庁

OPTICAL BRANCH AND DIFFRACTION DEVICE AND OPTICAL BRANCH例文帳に追加

光分岐回折光学素子及び光分岐器 - 特許庁

OPTICAL DIFFRACTION DEVICE AND OPTICAL MULTIPLEX- DEMULTIPLEXER USING THE SAME例文帳に追加

光回折素子とそれを用いた光合分波器 - 特許庁

STRESS HOLDING DEVICE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

応力保持装置およびＸ線回折装置 - 特許庁

SAMPLE REPLACING MACHINE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

試料交換機及びＸ線回折装置 - 特許庁

IMAGING PLATE X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

イメージングプレートＸ線回折装置 - 特許庁

DIFFRACTION DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR LASER DEVICE例文帳に追加

回折装置およびその製造方法並びに半導体レーザ装置 - 特許庁

DIFFRACTION DEVICE AND OPTICAL PICKUP AND OPTICAL DISK PLAYER例文帳に追加

回折装置および光ピックアップおよび光ディスク再生装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR METAL SURFACE OXIDE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

金属材表面酸化物の測定方法およびＸ線回折装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ＣＣＤセンサの制御方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND MEASURING METHOD OF SAMPLE USING THIS DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折装置及び該装置を用いた試料の測定方法 - 特許庁

SAMPLE POSITION ADJUSTING DEVICE, RADIATION DIFFRACTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING SCATTERING ANGLE OF INCIDENCE X RAY IN X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折装置における入射Ｘ線の発散角制御方法 - 特許庁

To provide an optical diffraction device which can enhance the use efficiency of light.例文帳に追加

光の利用効率を高め得る光回折装置を提供する。 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND MEASURING METHOD OF X-RAY LOCKING CURVE例文帳に追加

Ｘ線回折装置及びＸ線ロッキングカーブの測定方法 - 特許庁

The optical diffraction device includes a circularly polarized light beam generator 102 and a diffraction grating 104.例文帳に追加

光回折装置は、円偏光ビームジェネレータ１０２と、回折格子１０４とを含んでいる。 - 特許庁

STRUCTURE FACTOR TENSOR ELEMENT DETERMINATION METHOD, AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE UTILIZATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

構造因子テンソル要素決定法及びそのためのＸ線回折装置利用法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION JIG, X-RAY DIFFRACTION DEVICE, AND MEASURING METHOD OF X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折用治具、Ｘ線回折装置およびＸ線回折の測定方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE EQUIPPED WITH TWO-DIMENSIONAL DETECTOR, AND DELETION METHOD OF ITS BLANK INTENSITY例文帳に追加

２次元検出器を備えたＸ線回折装置とそのブランク強度の削除方法 - 特許庁

CONTROL METHOD OF GONIOMETER, GONIOMETER, FOUR-AXIS GONIOMETER AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ゴニオメータの制御方法、ゴニオメータ、４軸ゴニオメータ、およびＸ線回折装置 - 特許庁

MICRO-PORTION X-RAY IRRADIATION DEVICE AND MICRO-PORTION X-RAY IRRADIATION METHOD OF X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折装置の微小部Ｘ線照射装置及び微小部Ｘ線照射方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MEASURING DATA OF CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

ＣＣＤセンサの測定データ取得方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF TWO-DIMENSIONAL X-RAY DETECTION DATA, TWO-DIMENSIONAL X-RAY DETECTION DEVICE, AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

二次元Ｘ線検出データの処理方法、二次元Ｘ線検出装置、およびＸ線回折装置 - 特許庁

The composite diffraction device is produced by adding a diffraction function caused by a rugged pattern to a diffraction device comprising a liquid crystal which keeps the helically aligned state of a smectic liquid crystal phase having a helical structure.例文帳に追加

螺旋構造を有するスメクチック液晶相の螺旋配向状態を保持した液晶層からなる回折素子に、凹凸形状に由来する回折機能をさらに付与する。 - 特許庁

The X-ray diffraction device comprises an X-ray diffraction device 1, a sample-mounting section 5 for supporting the sample S, and a fixation section 30 that can be moved and fixed to the sample-mounting section.例文帳に追加

Ｘ線回折装置１、試料Ｓを支持する試料取付け部５と、試料取付け部に対して移動及び固定可能な固定部３０を有する。 - 特許庁

The diffraction device drastically decreases the value of λ_0/Δλ corresponding to the difference of a frequency of separated frequencies than in the conventional diffraction grating.例文帳に追加

分離する周波数差に対応するλ_０／Δλの値を従来の回折格子よりも大幅に小さくすることができる。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device with which pole figure measurement is exactly performed even when a two-dimensional detector is used.例文帳に追加

２次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The sample for X-ray diffraction measurement is analyzed by an X-ray diffraction device, to thereby measure the asbestos content.例文帳に追加

このＸ線回折測定用試料をＸ線回折装置で分析しアスベスト含有量を測定する。 - 特許庁

To provide a method of producing a polarlized light diffraction device having selective reflection characteristics, circularly polarization characteristics and diffraction capability.例文帳に追加

選択反射特性と円偏光特性と回折能を兼備した偏光回折素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultra-short-pulse electron diffraction device for tracking the change in the molecular structure of a sample in a femtosecond region in real time.例文帳に追加

フエムト秒領域での試料の分子構造の変化の実時間追跡を可能にすることができる超短パルス電子回折装置を提供する。 - 特許庁

FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER, FINE SAMPLE MOUNTING FIXTURE, X-RAY DIFFRACTION DEVICE, METHOD FOR FORMING FINE SAMPLE INSERTING CONTAINER AND FINE SAMPLE MOUNTING METHOD例文帳に追加

微小試料挿入容器、微小試料装着治具、Ｘ線回折装置、微小試料挿入容器の形成方法、および微小試料装着方法 - 特許庁

ERROR SIGNAL DETECTING METHOD FOR OPTICAL HEAD, DIFFRACTION DEVICE AND LIGHT RECEIVING DEVICE USED FOR THE SAME, AND OPTICAL HEAD AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE USING THESE例文帳に追加

光ヘッドの誤差信号検出方法、それに用いる回折素子及び受光素子並びにそれらを用いた光ヘッド並びに光記録再生装置 - 特許庁

The skin 1 is irradiated with X rays through a beam passing hole 47 to perform measurement by an X-ray diffraction device.例文帳に追加

Ｘ線回折装置によってビーム通過孔４７を通して皮膚１にＸ線を照射して計測が行われる。 - 特許庁