「テスト構造」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

テストクロック制御構造を実装するデバイスのスキャンベーステスト例文帳に追加

SCAN BASE TEST OF DEVICE PROVIDED WITH TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE - 特許庁

テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造例文帳に追加

CONNECTION CABLE FOR TEST PLUG, AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE OF TEST PLUG - 特許庁

テストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造例文帳に追加

SHORT-CIRCUIT TOOL FOR TEST PLUG AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE FOR TEST PLUG - 特許庁

半導体装置のテスト構造物及び半導体装置例文帳に追加

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

非対称構造を有する多孔質膜のリークテスト法例文帳に追加

LEAK TESTING METHOD FOR POROUS FILM HAVING ASYMMETRIC STRUCTURE - 特許庁

集積回路テストシステムおよびヒータ構造例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND HEATER STRUCTURE - 特許庁

幾何学的テスト構造を有する基板例文帳に追加

SUBSTRATE WITH GEOMETRIC TEST STRUCTURE - 特許庁

周期的配線構造のデバイスおよびそのテスト装置例文帳に追加

DEVICE HAVING PERIODIC WIRING AND TESTER THEREFOR - 特許庁

リークテストに適した容器用キャップ構造例文帳に追加

CAP STRUCTURE FOR CONTAINER SUITABLE FOR LEAKAGE TEST - 特許庁

磁気ヘッドテスト用スピンドルステージのコネクタ構造例文帳に追加

CONNECTOR STRUCTURE OF SPINDLE STAGE FOR MAGNETIC HEAD TESTING - 特許庁

プローブカードのプローブテストヘッド構造例文帳に追加

PROBE TEST HEAD STRUCTURE OF PROBE CARD - 特許庁

改良された電圧コントラストテスト構造を提供する。例文帳に追加

To provide an improved voltage contrast test structure. - 特許庁

テストにでるかな? 『構造的な』 のスペルは?」例文帳に追加

Is that going to be on the test? how do you spell 'structural'? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

１つの実施形態では、テストクロック制御構造は、プログラム可能テストクロックコントローラを含む。例文帳に追加

A test clock control structure includes a programmable test clock controller. - 特許庁

新規なテストセル構造を有するバウンダリスキャンテストセル回路を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a boundary scan test cell circuit having a novel test cell structure. - 特許庁

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法例文帳に追加

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME - 特許庁

エンジンテストベンチ用燃料配管の構造及びエンジンテストベンチの運転方法例文帳に追加

STRUCTURE OF FUEL LINE FOR ENGINE TEST BENCH AND METHOD FOR OPERATING ENGINE TEST BENCH - 特許庁

テストチャンバおよび半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造例文帳に追加

TEST CHAMBER, AND SOCKET BOARD CIRCULATION STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SYSTEM - 特許庁

それぞれの集積回路をそれぞれ異なるテスト温度によって、テスト可能に処置するテストシステムとヒータ構造を提供する。例文帳に追加

To provide a test system and heater structure capable of testing respective integrated circuits at respective different temperatures. - 特許庁

ボンディングプロセスにおける電気性能テストを容易にする為のボンディング配列構造及び同構造を用いたテスト方法例文帳に追加

BONDING ARRANGEMENT STRUCTURE AND TEST METHOD USING THE SAME - 特許庁

電子ビームがテスト構造にわたって走査されるとき、予期された輝度パターンが作られ、テスト構造の予期された電位の結果、画像化される。例文帳に追加

When an electron beam is scanned across the test structure, an expected intensity pattern is produced and imaged as a result of the expected voltage potentials of the test structure. - 特許庁

選択構造では何らかの条件をテストする必要がある例文帳に追加

the selection structure requires a test for some condition  - コンピューター用語辞典

ＣＳＰ、ＣＳＰ実装テスト方法及びＣＳＰソケット構造例文帳に追加

CSP, CSP PACKAGING TEST METHOD, AND CSP SOCKET STRUCTURE - 特許庁

半導体チップのクラックのチェックテスト構造を有する半導体装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING STRUCTURE FOR CHECKING AND TESTING CRACK IN SEMICONDUCTOR CHIP - 特許庁

絶縁膜評価用テスト構造及び、半導体装置の製造方法例文帳に追加

TEST STRUCTURE FOR EVALUATING INSULATION FILM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造例文帳に追加

SOCKET BOARD CIRCULATING STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM - 特許庁

半導体装置のテスト構造物及び半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test structure of a semiconductor device, and a semiconductor device. - 特許庁

テストベンチで様々な構造または様々な要素技術を比較する。例文帳に追加

To compare various structures or various elemental techniques on a test bench. - 特許庁

ＬＣＤパネル促進テスト方法およびそのための構造物例文帳に追加

ACCELERATION TEST METHOD FOR LCD PANEL AND STRUCTURE FOR IT - 特許庁

電子テスト及びデータ構造を生成する為の方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING ELECTRONIC TEST PROGRAM AND DATA STRUCTURE - 特許庁

ＧＵＩプログラムのテスト対象プログラムのテスト内容とそのテスト結果としての画面構成要素に関わる論理的構造に着目してテスト結果を表し、テスト結果の解析を行うために有用な情報を提供する。例文帳に追加

To provide useful information to analyze a test result by expressing the test result by paying attention to the test contents of an object program for test of a GUI program and logical structure regarding screen structure elements as its test result. - 特許庁

本発明の課題は、テストヘッドに搭載されるテストボードの保管を行い易いデテストボード、およびテストボードのテストヘッドへの取付構造を提供すること。例文帳に追加

To provide a test board to be mounted on a test head while facilitating preservation and a structure for attaching the test board to the test head. - 特許庁

その派生形の構造化文書をテスト実施装置５１にかけて、構造化文書処理装置５５をテストし、テスト解析装置５２で、受理できる派生パターンと受理できない派生パターンを整理する。例文帳に追加

The derivative structured document is applied to a test performing device 51 to test the structured document processor 55, and acceptable derivation patterns and non-acceptable derivation patterns are arranged by a test analysis device 52. - 特許庁

例えば、階層構造を持つ構造体群を受け取って動作するプログラムをテストするためのテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test program creation device creating a test program for testing a program receiving a structure group having a hierarchical structure and operating, for example. - 特許庁

オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第１基板を、第１セットのテスト構造を用いて第１テスト露光シーケンスの露光（Ｓ１）しテスト構造を測定（Ｓ２）して第１セットの位置誤差データを得る。例文帳に追加

In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2). - 特許庁

テストプログラム作成部１１は、このタグに基づき、テスト対象のメソッドが受け取る構造体群の階層構造と構造体群中のパラメータの各値とを認識し、それらの値を持つ当該構造体群を生成する手続きと、最上位に位置する構造体を引数としてテスト対象のメソッドを呼び出す手続きとを有するテストプログラム２２を作成して出力する。例文帳に追加

A test program creation part 11 recognizes the hierarchical structure of the structure group received by a method of a test target and each value of a parameter inside the structure group based on the tag, and creates and outputs the test program 22 having a procedure of generating the structure group having the values and a procedure of calling the method of the test target with a structure positioned in the topmost position as an argument. - 特許庁

テスト用リソース・ファイル及びテスト用フォントを用いた国際化ソフトウェアのテスト方法、装置、プログラム及びテスト用フォントのデータ構造例文帳に追加

INTERNATIONALIZATION SOFTWARE TEST METHOD USING RESOURCE FILE FOR TEST AND FONT FOR TEST, DEVICE, PROGRAM AND DATA STRUCTURE FOR FONT FOR TEST - 特許庁

プログラム可能テストクロックコントローラを使用した電子回路のスキャンベーステスト用に構成可能なテストクロックを生成するためのテストクロック制御構造例文帳に追加

TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE TO GENERATE CONFIGURABLE TEST CLOCK FOR SCAN-BASED TESTING OF ELECTRONIC CIRCUITS USING PROGRAMMABLE TEST CLOCK CONTROLLER - 特許庁

ＰＣ構造物のケーブルシース内への真空引き工程を含むグラウト注入工法におけるブリージングテスト装置、及びブリージングテスト方法。例文帳に追加

BLEEDING TEST DEVICE AND BLEEDING TEST METHOD IN GROUT INJECTION CONSTRUCTION METHOD INCLUDING EVACUATION PROCESS INTO CABLE SHEATH OF PC STRUCTURE - 特許庁

スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。例文帳に追加

To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains. - 特許庁

テストセレクタを用い、プローブパッドＰＰ１、ＰＰ２に対し、異なるテスト構造ＴＣ１、ＴＣ２を多重化する。例文帳に追加

A test selector is used and different test structures TC1 and TC2 are multiplexed to prove pads PP1 and PP2. - 特許庁

容易かつ迅速に電流測定を行うことができるテストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造を提供すること。例文帳に追加

To provide a short-circuit tool for a test plug capable of easily and rapidly measuring a current, and to provide a short-circuit structure for the test plug. - 特許庁

上記の目的のために本発明では、従来単独で形成していた各種テスト素子を、複数種類組み合わせて一つのテスト素子構造にするものである。例文帳に追加

Plural kinds of test elements individually formed conventionally are combined to form one test element structure. - 特許庁

グランドバウンスの防止構造を備えたバウンダリスキャンテスト回路を生成可能なバウンダリスキャンテスト回路生成装置を提供する。例文帳に追加

To provide a generation device for a boundary scanning test circuit that can generate a boundary scanning test circuit with a prevention structure for a ground bounce. - 特許庁

ビット線６，７間のテスト用のメモリセルは全てテスト用のメモリセル３と同様の構造となっている。例文帳に追加

Memory cells for test between bit lines 6 and 7 have the same structure as the memory cell 3 for test. - 特許庁