「構造検査」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

マトリクス構造の検査方法、マトリクス構造の検査装置およびマトリクス構造の製造方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF MATRIX STRUCTURE, INSPECTION DEVICE OF MATRIX STRUCTURE, AND MANUFACTURING METHOD OF MATRIX STRUCTURE - 特許庁

長周期規則構造体の構造検査方法および検査装置および長周期規則構造体例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR STRUCTURE INSPECTION ON LONG- PERIOD REGULAR STRUCTURE AND LONG-PERIOD REGULAR STRUCTURAL BODY - 特許庁

導通検査方法、プローバテープ及び導通検査用構造体例文帳に追加

CONTINUITY INSPECTION METHOD, PROBER TAPE AND STRUCTURE FOR CONTINUITY INSPECTION - 特許庁

金属配線の検査方法および検査に適した半導体デバイスの構造例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF METAL WIRING AND STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE SUITABLE FOR INSPECTION - 特許庁

回折構造絵柄表示体の検査装置及び検査方法例文帳に追加

INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF DIFFRACTION STRUCTURE PATTERN DISPLAY BODY - 特許庁

タービン内部構造物の検査装置及びこの装置を用いた検査方法例文帳に追加

EXAMINING DEVICE FOR INTERNAL STRUCTURE OF TURBINE AND EXAMINING METHOD USING SAME - 特許庁

炊飯器用表示基板ユニットの気密検査構造及び気密検査方法例文帳に追加

STRUCTURE AND METHOD FOR AIRTIGHT INSPECTION OF DISPLAY SUBSTRATE UNIT FOR RICE COOKER - 特許庁

液体試料検査具及び液体検査具の採液部構造例文帳に追加

LIQUID SAMPLE INSPECTION TOOL AND LIQUID SAMPLING PART STRUCTURE OF LIQUID INSPECTION TOOL - 特許庁

検査用治具、検査用治具の電極構造及びその製造方法例文帳に追加

INSPECTION JIG, ELECTRODE STRUCTURE OF INSPECTION JIG, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME - 特許庁

基板検査用治具及び基板検査用治具の電極部構造例文帳に追加

TOOL FOR SUBSTRATE INSPECTION, AND ELECTRODE STRUCTURE OF IT - 特許庁

構造物打音検査装置およびトンネル用打音検査装置例文帳に追加

HAMMERING TESTING DEVICE FOR STRUCTURE, AND HAMMERING TESTING DEVICE FOR TUNNEL - 特許庁

パターン検査装置、パターン検査方法、および微細構造体の製造方法例文帳に追加

PATTERN INSPECTION APPARATUS, PATTERN INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF MICROSTRUCTURE - 特許庁

パターン検査装置、パターン検査方法、およびパターンを有する構造体例文帳に追加

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD AND STRUCTURE WITH PATTERN - 特許庁

構造物用検査装置及び検査方法、並びに記録媒体例文帳に追加

INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR STRUCTURE, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

コンクリート構造物の検査方法及びその方法を用いた検査装置例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING CONCRETE STRUCTURE AND INSPECTION DEVICE USING THE SAME - 特許庁

半導体デバイスの内部構造検査方法及びその検査装置例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING INTERNAL STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND INSPECTING DEVICE THEREOF - 特許庁

ハニカム構造体の強度検査方法及び強度検査装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING STRENGTH OF HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁

コンクリート構造物の超音波検査装置及びそれを用いた検査方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR ULTRASONICALLY EXAMINING CONCRETE STRUCTURE - 特許庁

孔壁面検査装置及びコンクリート構造物の検査方法例文帳に追加

HOLE WALL SURFACE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR CONCRETE STRUCTURE - 特許庁

薄型表示装置用電極構造体の検査装置及びその検査方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING ELECTRODE STRUCTURAL BODY FOR THIN-TYPE DISPLAY DEVICE - 特許庁

二次電池用連接構造体の検査装置及びその検査方法例文帳に追加

INSPECTION DEVICE OF CONNECTION STRUCTURE FOR SECONDARY BATTERY AND ITS INSPECTION METHOD - 特許庁

目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SEALED HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁

コンクリート構造物のクラック検査装置及びクラック検査方法例文帳に追加

CRACK INSPECTION DEVICE AND METHOD OF CONCRETE STRUCTURE - 特許庁

電子部品検査装置の配線構造及び電子部品検査装置例文帳に追加

WIRING STRUCTURE OF ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING EQUIPMENT AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING EQUIPMENT - 特許庁

ハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法及び検査装置例文帳に追加

UNEVENNESS INSPECTION METHOD ON PARTITION SURFACE OF HONEYCOMB STRUCTURE AND INSPECTION DEVICE THEREFOR - 特許庁

二次電池用連接構造体の検査装置およびその検査方法例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR CONNECTING STRUCTURE OF SECONDARY CELL, AND TESTING METHOD FOR THE SAME - 特許庁

車両の検査管理システム及び車両の検査データ構造例文帳に追加

VEHICLE INSPECTION MANAGEMENT SYSTEM AND VEHICLE INSPECTION DATA STRUCTURE - 特許庁

孔壁面検査装置及びコンクリート構造物の検査方法例文帳に追加

POROUS WALL SURFACE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF CONCRETE STRUCTURE - 特許庁

検査用治具と被検査体との接続構造およびその形成方法例文帳に追加

CONNECTION STRUCTURE BETWEEN TOOL FOR INSPECTION AND INSPECTED BODY, AND ITS FORMING METHOD - 特許庁

スライダ検査装置は支持構造体と、検査するためスライダを受け取る検査ソケットとを含む。例文帳に追加

A slider test apparatus includes a support structure and a test socket receiving a slider for testing. - 特許庁

燃料電池冷却液の導電率検査方法、検査端子構造および検査装置例文帳に追加

CONDUCTIVITY INSPECTION METHOD OF FUEL CELL COOLING LIQUID, STRUCTURE OF INSPECTION TERMINAL AND INSPECTION DEVICE - 特許庁

振動起動無線装置，構造物検査装置，構造物検査方法及びプログラム並びに記録媒体例文帳に追加

VIBRATION STARTING WIRELESS DEVICE, STRUCTURE INSPECTION DEVICE, STRUCTURE INSPECTION METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

コンクリート構造物品質検査方法及びコンクリート構造物品質検査装置例文帳に追加

CONCRETE STRUCTURE QUALITY INSPECTION METHOD AND CONCRETE STRUCTURE QUALITY INSPECTION DEVICE - 特許庁

ハニカム構造体の欠陥の検査方法、及び、ハニカム構造体の欠陥の検査装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR CHECKING DEFECT OF HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁

人体の内部構造をより正確に検査できる内部構造検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an internal structure inspection device, capable of more accurately inspecting the internal structure of a human body. - 特許庁

目封止ハニカム構造体の検査装置及び目封止ハニカム構造体の検査方法例文帳に追加

INSPECTION DEVICE OF PLUGGED HONEYCOMB STRUCTURE AND INSPECTION METHOD OF PLUGGED HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁

多層配線構造の検査パターン、検査パターンを備えた半導体装置、半導体装置の検査方法、及び半導体装置の検査システム例文帳に追加

INSPECTION PATTERN OF MULTILAYERED WRING STRUCTURE, SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING INSPECTION PATTERN, AND METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

構造を単純化し、パネルのアクティブ領域検査及び外観検査の検査時間を減らすことができるパネル検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a panel inspection device of which structure is simplified and that can reduce the inspection period of active region inspection and visual inspection of an LCD panel. - 特許庁

簡易な方式で微小な可動部を有する構造体を精度よく検査する検査装置、検査方法および検査プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device, method, and program for accurately inspecting a structure having a micro movable part in an easy method. - 特許庁

簡易な方式で微小な可動部を有する微小構造体を精度よく検査する検査装置、検査方法および検査プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device, an inspection method, and an inspection program for inspecting a microstructure having a micro moving part by a simple system with sufficient precision. - 特許庁

簡易な方式で微小な可動部を有する構造体を精度よく検査する検査装置、検査方法および検査プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device, an inspection method and an inspection program for detecting accurately a structure having a micro movable part by a simple system. - 特許庁

ろう付け状態を非破壊検査で容易に検査することのできる接合構造、検査装置及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a joining structure, an inspection device, and its inspection method providing easy inspection of a brazed state by non-destructive inspection. - 特許庁

ＭＩＤ基板構造、及び当該構造のＭＩＤ基板検査方法、及び同検査方法で用いるＭＩＤ基板検査用コンタクトプローブ例文帳に追加

MID SUBSTRATE STRUCTURE, METHOD FOR INSPECTING MID SUBSTRATE OF THAT STRUCTURE, AND CONTACT PROBE FOR INSPECTING MID SUBSTRATE BEING USED IN THE INSPECTION METHOD - 特許庁

ハニカム構造体用載置台、及び、ハニカム構造体の検査装置例文帳に追加

PEDESTAL FOR HONEYCOMB STRUCTURES, AND INSPECTION APPARATUS OF HONEYCOMB STRUCTURES - 特許庁

モールド構造体の検査方法、モールド構造体、及び磁気記録媒体例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF MOLD STRUCTURE, MOLD STRUCTURE, AND MAGNETIC RECORDING MEDIUM - 特許庁