「Cable tester」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To achieve a semiconductor tester apparatus for turning a test head without applying an excess load to a test head cable.例文帳に追加

テストヘッドケーブルに過度の負荷が加わらず、テストヘッドの回動ができる半導体テスタ装置を実現する。 - 特許庁

The support surface 56 is connected to the tester 22 by way of the chuck top 49, the pogo pin 60, the chuck lead plate 54, and an cable 55.例文帳に追加

支持面５６はチャックトップ４９とポゴピン６０とチャックリード板５４とケーブル５５を経由してテスタ２２につながっている。 - 特許庁

To provide a cable defect simulation method, capable of significantly reducing the testing cost of reliability, and a discharge tester.例文帳に追加

信頼性を試験する経費を相当に低減することのできるケーブルの欠陥シミュレーション方法および放電試験器を提供する。 - 特許庁

To provide a LAN tester which can conduct a cable continuity test and a reverse-connection confirmation test only at one end and enables a simple operation test including a HUB.例文帳に追加

一方端だけでケーブル導通試験や逆接続確認試験ができ、さらに、ＨＵＢを含めた簡易動作試験も可能なＬＡＮテスタを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic battery tester which can specifically detect type of any cable connected to a storage battery in regard to a test of the storage battery.例文帳に追加

蓄電池のテストに関し、特に接続されているケーブルの類型（ｔｙｐｅ）を検出することができる電子バッテリテスタを提供する。 - 特許庁

To provide a test head for a semiconductor tester capable of heightening connection reliability of a connection part between a coaxial cable and the pin card side, and a connection part between the coaxial cable and the performance board side, and acquiring also a heat insulation effect.例文帳に追加

同軸ケーブルとピンカード側との接続部および同軸ケーブルとパフォーマンスボード側との接続部の接続信頼性を高めることができ、熱絶縁効果も得られる半導体テスタ用テストヘッドを実現すること。 - 特許庁

When the insulation resistance tester 101 becomes overranged, the switch 113 is set to a close position where resistances 111, 112 formed by using insulating sheath of electrical cable 117 are parallel-connected and shunted so as to prevent the insulation resistance tester 101 from being overranged, thus, measuring insulation resistance.例文帳に追加

絶縁抵抗計１０１がオーバーレンジになる場合には、スイッチ１１３を閉状態に切り替え、電気ケーブル１１７の絶縁被覆を利用して形成した抵抗１１１、１１２を並列接続して分流し、絶縁抵抗計１０１がオーバーレンジになるのを防いで絶縁抵抗の測定を行う。 - 特許庁

To provide a handling robot for a magnetic head assembly with which it is easy to ensure the electrical contact between a flexible cable and a contact unit when the magnetic head assembly is set on a head clamp table of a magnetic head tester, and to provide a magnetic head test method and a magnetic head tester.例文帳に追加

磁気ヘッドアッセンブリを磁気ヘッド検査装置のヘッドクランプ台にセットしたときにフレキシブルケーブルとコンタクトユニットとの電気的な接触を確保することが容易な、磁気ヘッドアッセンブリのハンドリングロボット、磁気ヘッド検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In this system, an optical switch 12 selectively connects to an optical fiber 13a for detection of an optical pulse tester 13, an optical fiber 31a for detection of a second optical pulse tester 31, or an optical fiber 32a for detection of a third optical pulse tester 32 from among a plurality of optical fibers of the optical cable 11 under control of a control unit 14.例文帳に追加

光スイッチ１２は、光ファイバケーブル１１の複数の光ファイバに対して、光パルス試験器１３の検知用光ファイバ１３ａあるいは第２光パルス試験器３１の検知用光ファイバ３１ａあるいは第３光パルス試験器３２の検知用光ファイバ３２ａを制御装置１４の制御により選択的に接続する。 - 特許庁

To provide a board conversion cable for a multiple-pin tester and an IC testing method capable of using an IC measuring board and IC testing software in common.例文帳に追加

ＩＣ測定用ボードとＩＣテスト用ソフトの共用化を可能とすることができる多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mobile phone tester provided with a function of finding out the abnormity of a test purpose coaxial cable by minimizing a connection change from the connection for an ordinary test.例文帳に追加

常試験からの接続変更を最小限にとどめてテスト用同軸ケーブルの異常を発見する機能を備えた携帯電話機テスタを提供する。 - 特許庁

When the other tester main body is used, the conversion cable 60b corresponding thereto is used to connect the relay connector 10J on circuit side and the relay connector 10H on the board side to accurately perform the input and output of respective electric signals performed between the respective pins of the IC and the tester main body.例文帳に追加

他方のテスター本体を使用する場合にはそのテスター本体に対応する変換ケーブル６０ｂを使用して、回路側中継コネクタ１０Ｊとボード側中継コネクタ１０Ｈを接続することでＩＣの各ピンとテスター本体との間で行なわれる各電気信号の入出力が正しく行なわれる。 - 特許庁

When one of two kinds of tester main bodies is used, the conversion cable 60 corresponding thereto is used to connect a relay connector 10J on a circuit side and a relay connector 10H on a board side to accurately perform the input and output of respective electric signals performed between the respective pins of an IC and the tester main body.例文帳に追加

２種類あるテスター本体のうち、一方のテスター本体を使用する場合にはそのテスター本体に対応する変換ケーブル６０を使用して、回路側中継コネクタ１０Ｊとボード側中継コネクタ１０Ｈを接続することでＩＣの各ピンとテスター本体との間で行なわれる各電気信号の入出力が正しく行なわれる。 - 特許庁

In the defect simulation method using the discharge tester, a test voltage 32 is applied from a high voltage generator 30 to a continuous cable via an electrode, a detector 44 recognizes and displays dielectric breakdown, and a defect counter 48 sums them.例文帳に追加

放電試験器を用いた欠陥シミュレーション方法において、高電圧発生器３０から電極を介して試験電圧３２を連続ケーブルに印加し、検出器４４により絶縁破壊を認識して表示し、欠陥カウンタ４８により合算する。 - 特許庁

To measure an output voltage of a circuit pattern using a tester with no extra space required for forming a test point on a substrate body that has the circuit pattern, related to a circuit board where a plurality of signal lines of a flexible flat cable are connected to the circuit pattern of the substrate body.例文帳に追加

フレキシブルフラットケーブルの複数の信号ラインが基板本体の回路パターンに接続されている回路基板において、回路パターンを有する基板本体にテストポイントを形成するためのスペースを余分に設ける必要性を無くしているにもかかわらず、回路パターンの出力電圧の測定をテスタを用いて測定することができるようにする。 - 特許庁

The distant-controllable inspection system of the semiconductor element with the handler mutually transmits and receives basic communication data for the electrical inspection of the semiconductor element through a GPIB communication cable connecting a tester 110 and the handler 120, communication data for the distant control with the handler, and communication data for checking the state of the handler.例文帳に追加

テスタ１１０とハンドラ１２０とを連結するＧＰＩＢ通信ケーブルを通じて半導体素子の電気的検査のための基本通信データと、ハンドラ遠隔制御のための通信データと、ハンドラ状態点検のための通信データと、を互いに送受信するハンドラ遠隔制御可能な半導体素子の検査システムである。 - 特許庁

This performance board 10 of a semiconductor testing device (image sensor tester) 1a includes the buffers 11-1 to 11-n for cable driving, and switches 12-1 to 12-n for conducting switching between an input of a measured signal output from a measured device and an input of a reference signal output from a reference signal generator 40.例文帳に追加

半導体試験装置（イメージセンサテスタ）１ａのパフォーマンスボード１０は、ケーブル駆動用のバッファ１１−１〜１１−ｎと、被測定デバイスから出力された計測信号又は基準信号発生器４０から出力された基準信号の入力の切り替えを行う切替器１２−１〜１２−ｎとを備えている。 - 特許庁