Diffractometerを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 25件
DIFFRACTOMETER例文帳に追加
回折計 - 特許庁
X-RAY REFLECTOMETER COMBINED WITH DIFFRACTOMETER例文帳に追加
組み合わされたX線反射率計及び回折計 - 特許庁
X-RAY DIFFRACTOMETER AND METHOD FOR X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT例文帳に追加
X線回折装置及びX線回折測定方法 - 特許庁
MICRO X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD AND MICRO X- RAY DIFFRACTOMETER例文帳に追加
微小部X線回折測定方法及び微小部X線回折装置 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING STRUCTURE FACTOR TENSOR ELEMENT, AND METHOD FOR USING X-RAY DIFFRACTOMETER THEREFOR例文帳に追加
構造因子テンソル要素決定法及びそのためのX線回折装置利用法 - 特許庁
The optical diffractometer, much like the electron microscope, needs to be carefully aligned and calibrated. 例文帳に追加
光学回折計は電子顕微鏡とほぼ同じように、注意深く調節および較正される必要がある。 - 科学技術論文動詞集
To provide an X-ray diffractometer that can effectively intercept scattered X rays caused by an external cylinder and a radiation shield.例文帳に追加
外筒およびラジェーションシールドによる散乱X線を効果的に阻止できるX線回折計測装置を提供すること。 - 特許庁
In contrast to a conventional X-ray diffractometer which holds a sample itself or a capillary housing sample in a cantilever-like state, this X-ray diffractometer holds the sample itself or capillary housing the sample on the center line of the surface of a holder having an appropriate large surface.例文帳に追加
従来、試料自体あるいは試料を収納したキャピラリを片持ち梁の形で保持することが行われていたのに対して、ホルダを適当に大きな面を持つものとするとともに、試料自体あるいは試料を収納したキャピラリをそのホルダの面の中心線上に保持する。 - 特許庁
To provide an X-ray diffractometer executing a wavelength modulation diffraction method by using an X-ray tube in stead of a radiation source as an X-ray source.例文帳に追加
X線源として放射光源ではなくX線管を用い、波長変調回折法を実施できるX線回折装置を提供する。 - 特許庁
A novel basic principle different from known one is found in the present invention, and the precision for the X-ray diffractometer is calculated based thereon.例文帳に追加
本発明において、これまで知られていたものとは全く異なる、新しい基礎原理を発見し、X線回折装置の精度が計算された。 - 特許庁
To provide an X-ray spectrometer and an X-ray diffractometer which fit to analyze light elements, and heavy elements of a minute amount without losing a compactness as a portable type.例文帳に追加
可搬型としての小型性を損なうことなく、軽元素の分析や微量の重元素の分析に適したX線分光装置およびX線分析装置を提供する。 - 特許庁
The X-ray diffractometer 1 has a display device 4 for displaying an image and image data forming parts 7, 11 and 13 for forming the image data supplied to the display device 4.例文帳に追加
X線回折装置1は、画像を表示する表示装置4と、その表示装置4に供給する画像データを生成する画像データ生成部7,11,13とを有する。 - 特許庁
To effectively put a plurality of data, which are acquired using a plurality of different measuring axes in an X-ray diffractometer, to practical use in relation to the display of a plurality of the data.例文帳に追加
X線回折装置において、複数の異なる測定軸を用いて得られた複数のデータを表示することに関して、それら複数のデータを有効に活用できるようにする。 - 特許庁
To enhance measurement accuracy of an X-ray diffractometer for measuring an atomic radial distribution function and anomalous diffraction scattering X-rays, by setting the size of a slit within the range specified by this invention.例文帳に追加
スリットサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、原子動径分布関数測定用、及び、異常散乱X線回折用の、X線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁
To enable an X-ray diffractometer to secure a sufficient X-ray intensity with high resolution by making a convergence method and a parallel beam method easily switchable to each other, and using a parabolic multilayered film mirror when the parallel beam method is used.例文帳に追加
集中法と平行ビーム法を簡単に切り換え可能にし,かつ,平行ビーム法において放物面多層膜ミラーを使うことで高分解能で十分なX線強度を確保する。 - 特許庁
The X-ray diffractometer 1 is equipped with a measuring instrument 2 for irradiating a sample with the X rays emitted from an X-ray source and detecting the X rays, which are diffracted by the sample, by an X-ray detector.例文帳に追加
X線源から発生したX線を試料に照射すると共にその試料で回折したX線をX線検出器によって検出する測定装置2を備えたX線回折装置1である。 - 特許庁
A compact powder diffractometer has one or more detectors (18) arranged less than 300 mm, in an example 55 mm, from a sample stage (17) for mounting a powder sample (14).例文帳に追加
本発明の回折装置は、コンパクト粉末回折装置であり、1以上の検出装置(18)を持ち、これは、粉末サンプル(14)を配置するためのサンプル台(17)から300mm未満、例えば55mmに設けられる。 - 特許庁
To evade the lowering of measuring precision caused by a cross error in biaxial lines, simplify structure of a diffractometer, and shorten a measuring time, by omitting rotation corresponding to one axis out of biaxial rotations conducted conventionally in micro X-ray diffraction measurement.例文帳に追加
微小部X線回折測定において従来行われていた2軸回転のうちの1軸分を省略することにより、2軸線の交差誤差に起因する測定精度の低下を回避し、装置の構造を簡単にし、さらに測定時間を短縮する。 - 特許庁
A dispersion liquid composed of oxide particles, and a dispersion medium comprising water as a principal constituent is treated by heating under a hydrothermal condition to obtain oxide particles having maximum peak intensity of not less than 1.2 times by the heat treatment when the diffraction pattern of the oxide particles is measured with an X-ray diffractometer.例文帳に追加
酸化物粒子と主成分が水である分散媒とからなる分散液に、水熱条件下で加熱処理を施し、X線回折装置で酸化物粒子の回折パターンを測定したときに、最強ピークの強度が、加熱処理により1.2倍以上大きい酸化物粒子を得る。 - 特許庁
The low temperature fired ceramic of this invention contains a sanbornite phase, a celsian phase and a β-cristobalite phase as crystal phases, when measured with a high power X ray diffractometer, and ratio of peak intensity of the (101) face of α-cristobalite phase to the peak intensity of the (101) face of the sanbornite phase is ≤5%.例文帳に追加
本発明の低温焼成磁器は、強力X線回折装置によって測定したときにサンボーナイト相、セルシアン相およびβ−クリストバライト相を結晶相として含んでおり、サンボーナイト相の(101)面のピーク強度に対するα−クリストバライト相の(101)面のピーク強度の比率が5%以下である。 - 特許庁
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