「Measurement position」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR CALIBRATING TARGET SURFACE OF POSITION MEASUREMENT SYSTEM, POSITION MEASUREMENT SYSTEM, AND LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

位置測定システムのターゲット面を較正する方法、位置測定システム、およびリソグラフィ装置 - 特許庁

CORDLESS TRANSMISSION SYSTEM FOR POSITION MEASUREMENT FEEDBACK例文帳に追加

位置測定フィードバック用コードレス伝送システム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF POSITION例文帳に追加

位置測定装置および位置測定方法 - 特許庁

HIGHLY PRECISE MEASUREMENT METHOD OF MICROSCOPE FOCUSING POSITION例文帳に追加

顕微鏡合焦位置高精度計測法 - 特許庁

APPARATUS FOR SETTING POSITION FOR DILUTION MEASUREMENT例文帳に追加

希釈測定場所を設定するための装置 - 特許庁

POSITION ATTITUDE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD例文帳に追加

位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR UNDERWATER TOWED BODY POSITION MEASUREMENT例文帳に追加

水中曳航体測位方法及びシステム - 特許庁

POSITION MEASURING SYSTEM OF MOVING BODY AND CONTROL STATION FOR POSITION MEASUREMENT例文帳に追加

移動体の位置計測システムおよび位置計測用制御局 - 特許庁

MEASUREMENT APPARATUS, POSITION DETERMINATION SYSTEM, MEASUREMENT METHOD, CALIBRATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

測定装置、位置測定システム、測定方法、較正方法及びプログラム - 特許庁

A measurement arm position measurement system 72A_0 measures relative position information to a light axis AX of the measurement arm 71A.例文帳に追加

計測アーム位置計測系７２Ａ_０が、計測アーム７１Ａの光軸ＡＸに対する相対位置情報を計測する。 - 特許庁

The measurement chips 10 are successively carried from the heating position to the measurement position, and at the same time the measurement chips to be supplied for measurement are successively carried to the heating position for preheating.例文帳に追加

なお、測定チップ10を順次加熱位置から測定位置に搬送すると同時に、次に測定に供される測定チップを順次加熱位置に搬送し予熱する。 - 特許庁

POSITION MEASUREMENT METHOD FOR CUTTING BLADE, POSITION MEASUREMENT PROGRAM FOR CUTTING BLADE, RECORDING MEDIUM, AND NC MACHINE TOOL例文帳に追加

切削刃の位置測定方法、切削刃の位置測定プログラム、記録媒体及びＮＣ工作機 - 特許庁

POSITION MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE METHOD, DEVICE-MANUFACTURING METHOD, POSITION-MEASUREMENT APPARATUS, AND EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

位置計測方法、露光方法、デバイスの製造方法及び位置計測装置並びに露光装置 - 特許庁

SUBSTRATE SUPPORT DEVICE USED IN POSITION MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

位置測定装置に使用する基板支持装置 - 特許庁

POSITION MEASUREMENT METHOD USING INTERFEROMETER, INTERFERENCE TYPE POSITION MEASUREMENT APPARATUS, ALGNER AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

干渉計を用いた位置測定方法、干渉式位置測定装置、露光装置及び露光方法 - 特許庁

POSITION CONTROLLER, MEASUREMENT DEVICE AND MACHINING DEVICE例文帳に追加

位置制御装置、測定装置および加工装置 - 特許庁

CAMERA POSITION MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD, AND CAMERA POSITION CONTROL METHOD例文帳に追加

カメラ位置測定装置および方法並びにカメラ位置制御方法 - 特許庁

POSITION SPECIFYING METHOD FOR DEFORMATION MAP, POSITION SPECIFYING SYSTEM FOR THE DEFORMATION MAP, POSITION SPECIFYING METHOD FOR MEASUREMENT MAP, AND POSITION SPECIFYING SYSTEM FOR MEASUREMENT MAP例文帳に追加

デフォルメ地図の位置特定方法、デフォルメ地図の位置特定システム、計測地図の位置特定方法、及び計測地図の位置特定システム - 特許庁

DISTANCE MEASUREMENT METHOD, RECEIVING STATION APPARATUS FOR MEASURING DISTANCE, AND POSITION MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

距離測定方法、距離測定用受信局装置及び位置測定システム - 特許庁

To provide a center position measurement device that eliminates the need of re-measurement again.例文帳に追加

再測定の必要のない部屋の中心位置測定機器を提供する。 - 特許庁

In accordance with the position of a measurement device, the light passes to a sample X (measurement position) or to a reference criterion 7 (calibration position) thereafter.例文帳に追加

測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。 - 特許庁

JIG FOR BENDING POSITION MEASUREMENT IN BENDING MACHINE例文帳に追加

折曲げ加工機における曲げ位置測定用治具 - 特許庁

WORKPIECE POSITION/ATTITUDE MEASUREMENT METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

ワーク位置姿勢計測方法および計測装置 - 特許庁

DOT POSITION MEASUREMENT METHOD, APPARATUS AND PROGRAM例文帳に追加

ドット位置測定方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

EDGE POSITION MEASUREMENT VALUE CORRECTION FOR EPI-ILLUMINATION IMAGE例文帳に追加

落射照明画像用のエッジ位置測定値補正 - 特許庁

To provide a radio terminal position measurement system and a radio terminal position measurement method that perform accurate position measurement in a state in which the load of processing is small.例文帳に追加

処理の負担が少ないままにより正確な位置計測を可能とする無線端末位置計測システムおよび無線端末位置計測方法を提供する。 - 特許庁

To perform stable high-precision position measurement of the position of a moving body.例文帳に追加

移動体の位置の安定且つ高精度な位置計測を可能にする。 - 特許庁

To provide a magnetic encoder element for position measurement.例文帳に追加

位置測定用の磁気エンコーダー素子を提供する。 - 特許庁

POSITION ATTITUDE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD例文帳に追加

位置姿勢計測装置及び位置姿勢計測方法 - 特許庁

POSITIONING DEVICE AND POSITION MEASUREMENT TIME INTERVAL CONTROL METHOD例文帳に追加

測位装置及び測位時間間隔制御方法 - 特許庁

POSITION AND ATTITUDE MEASUREMENT METHOD AND INFORMATION PROCESSOR例文帳に追加

位置姿勢計測方法および情報処理装置 - 特許庁

To provide an absolute position measurement system and a manufacturing method for a material measure for the position measurement system.例文帳に追加

絶対位置測定システムおよび同位置測定システム用の実量器の製作方法を提供する。 - 特許庁

Also, a measurement error acquiring part 13 acquires the measurement error of a measured position.例文帳に追加

また，計測誤差取得部１３は，測定した位置の計測誤差を取得する。 - 特許庁

INTERPOLATION ERROR MEASUREMENT APPARATUS, INTERPOLATION ERROR MEASUREMENT METHOD, ENCODER, AND POSITION DETECTION METHOD例文帳に追加

内挿誤差測定装置、内挿誤差測定方法、エンコーダおよび位置検出方法 - 特許庁

The color measurement part performs color measurement for an output image and detects the position in the output image and a color measurement value at the position.例文帳に追加

測色部は、出力画像を測色し、当該出力画像における位置と当該位置における測色値とを検出する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus by which a measurement position is easily recognized in a stereoscopic image and which can improve measurement accuracy of the measurement position.例文帳に追加

立体画像において計測位置が把握し易く、計測位置の計測精度を向上可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁

there is also a step S150 for finding an offset of a surface position measurement at the predetermined location at the irradiated position based on the position measurement value and the second surface position measurement value.例文帳に追加

さらに、位置計測値と第２の面位置計測値とに基づいて、前記照射位置での前記所定場所における面位置計測のオフセットを求める工程Ｓ１５０を有する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR ABSOLUTE POSITION MEASUREMENT例文帳に追加

絶対位置測定装置及び絶対位置測定方法 - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD AND PROGRAM, AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

位置検出方法およびプログラム、並びに測定装置 - 特許庁

POSITION MEASUREMENT DEVICE FOR PAD CONDITIONER HEAD OF CMP DEVICE例文帳に追加

ＣＭＰ装備のパッドコンディショナヘッドの位置測定装置 - 特許庁

To provide a position measurement method and a position measuring instrument by which position measurement can be continued, without deterioration in the measurement accuracy, even in a state where GPS position measurement cannot be made and continuous images cannot be acquired.例文帳に追加

ＧＰＳ位置測定ができない状態で、而も連続した画像が取得できない状態でも、測定精度の低下なく、位置測定を続行できる位置測定方法及び位置測定装置を提供する。 - 特許庁

POSITION ATTITUDE MEASUREMENT INSTRUMENT, PROCESSING METHOD THEREOF, AND PROGRAM例文帳に追加

位置姿勢計測装置、その処理方法及びプログラム - 特許庁

To enable measurement of position of a mark on a wafer with high precision.例文帳に追加

ウエハ上のマークの位置を高精度計測する。 - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD, PROGRAM AND MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

位置検出方法およびプログラム、並びに測定装置 - 特許庁

POSITION MEASUREMENT METHOD AND INSTRUMENT FOR DISPLACEMENT METER例文帳に追加

変位計の位置計測方法および位置計測装置 - 特許庁