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OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
TEST METHOD AND TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR LASER例文帳に追加
半導体レーザの試験方法および試験装置 - 特許庁
TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト回路、テスト方法 - 特許庁
The test data is applied to test rules to perform test processing, and results of the test processing are stored as test result data.例文帳に追加
そのテストデータをテストルールに適用することでテスト処理を行い、その結果をテスト結果データとして保存する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF BENDING TEST TOOL, BENDING TEST TOOL AND BENDING TEST DEVICE例文帳に追加
曲げ試験治具の製造方法、曲げ試験治具および曲げ試験装置 - 特許庁
TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加
タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
TEST SYSTEM OF FIRE DETECTOR例文帳に追加
火災検知器の試験システム - 特許庁
CALIBRATION OF ESD TEST SYSTEM例文帳に追加
ESD試験システム較正 - 特許庁
TEST SOCKET OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテストソケット - 特許庁
Non-Destructive Test of Rotating Shaft 例文帳に追加
回転軸の非破壊検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム
TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテストシステム - 特許庁
TEST SYSTEM OF COMMUNICATION TERMINAL例文帳に追加
通信端末の試験システム - 特許庁
TEST SYSTEM AND TEST METHOD OF ON-VEHICLE ELECTRIC APPLIANCE例文帳に追加
車載電装品の試験システム及び試験方法 - 特許庁
SUPERCOOLING TEST DEVICE AND METHOD OF SUPERCOOLING TEST例文帳に追加
過冷却試験装置及び過冷却試験方法 - 特許庁
A prepared test case and each test result of each test case are stored in a test case table 32.例文帳に追加
テストケーステーブル32に作成済のテストケースと各テストケースの各回のテスト結果が格納される。 - 特許庁
A test case manager selects a first test case and a second test case from a plurality of test cases.例文帳に追加
テスト・ケース・マネジャが、複数のテスト・ケースから第1テスト・ケースおよび第2テスト・ケースを選択する。 - 特許庁
BASE STATION TEST APPARATUS, BASE STATION TEST SYSTEM, AND BASE STATION TEST METHOD OF BASE STATION TEST SYSTEM例文帳に追加
基地局試験装置、基地局試験システム及び基地局試験システムの基地局試験方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF TEST ARTICLE例文帳に追加
被験物質の評価方法 - 特許庁
TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子のテスト方法 - 特許庁
Implementation Method of a Rotating Test 例文帳に追加
回転試験の実施方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
TEST DEVICE OF A/D CONVERTER例文帳に追加
A/Dコンバータのテスト装置 - 特許庁
TEST METHOD OF LOGICAL CIRCUIT AND TEST DEVICE OF LOGICAL CIRCUIT例文帳に追加
論理回路のテスト方法および論理回路のテスト装置 - 特許庁
TEST DEVICE OF AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加
自動変速機の試験装置 - 特許庁
UNIFORMITY TEST EQUIPMENT OF TIRE例文帳に追加
タイヤのユニフォーミティ試験装置 - 特許庁
ABRASION TEST METHOD OF VULCANIZED RUBBER例文帳に追加
加硫ゴムの摩耗試験方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC TEST METHOD OF SHEET OR MAT, CHARACTERISTIC TEST BODY AND CHARACTERISTIC TEST CLOTHING例文帳に追加
シート又はマットの特性試験方法、特性試験体及び特性試験着 - 特許庁
TEST METHOD AND TEST DEVICE OF ELECTRONIC CONTROLLER UNIT例文帳に追加
電子制御部品の検査方法および検査装置 - 特許庁
TEST DEVICE AND TEST METHOD OF MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加
監視制御システムの試験装置および試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE FOR SWITCHING DEVICE AND TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加
開閉装置の試験装置及びその試験方法 - 特許庁
TEST APPARATUS AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁
PEELING TEST MACHINE OF ADHESIVE TAPE例文帳に追加
粘着テープの剥離試験機 - 特許庁
GENERATION METHOD OF CORE TEST CIRCUIT例文帳に追加
コアテスト回路の生成方法 - 特許庁
TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子の検査方法 - 特許庁
TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップの検査方法 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE TEST DEVICE OF CONCRETE例文帳に追加
コンクリートの非破壊検査装置 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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