「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

IMMUNITY TEST APPARATUS AGAINST RADIATION OF ELECTROMAGNETIC FIELD例文帳に追加

放射電磁界イミュニティ試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF TORSIONAL VIBRATION ATTENUATOR例文帳に追加

ねじり振動減衰器の検査方法 - 特許庁

We test the limits of possibilities. 例文帳に追加

私たちは可能性の限界を試す。 - Weblio Email例文集

WIRELESS NONCONTACT TEST OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の無線非接触試験 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

(2) Further promotion of hepatitis test例文帳に追加

２）肝炎ウイルス検査の更なる促進 - 厚生労働省

You tease out one of the cells, you run a genetic test on that cell例文帳に追加

一つを遺伝子テストにかけ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The result of his AIDS test was [proved] negative. 例文帳に追加

エイズ検査の結果は陰性だった. - 研究社 新和英中辞典

What was the result of Mary's test? 例文帳に追加

メアリーのテストの結果はどうでしたか。 - Tanaka Corpus

What was the result of Mary's test?例文帳に追加

メアリーのテストの結果はどうでしたか。 - Tatoeba例文

Of course she passed the test.例文帳に追加

もちろん、彼女は試験に合格した。 - Tatoeba例文

a test of someone's practical skill 例文帳に追加

実地に行う,実技についての試験 - EDR日英対訳辞書

I don't like any form of test.例文帳に追加

どんな種類のテストも好きではない - Eゲイト英和辞典

To provide a data driver of display device capable of performing a test equal to the test of output delay of an amplifier by means of output of a repair amplifier too.例文帳に追加

アンプの出力遅延のテストと同等のテストをリペアアンプの出力でも行うこと。 - 特許庁

To update test specifications or test procedures at any time along the progress of a test, to raise work efficiency of the test and to eliminate errors in a test operation.例文帳に追加

テストの進行状況に沿ってテスト仕様書あるいはテスト手順書を随時更新し、テストの作業効率を向上させると共にテスト作業の誤りを無くす。 - 特許庁

To perform a parallel operating test of an actual test system and a test aiding apparatus without changing the actual test system.例文帳に追加

本番系システムとテスト支援装置との並行運転テストを、上記本番系システムを変更することなく実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a test device and the like enabled to guarantee test-pattern safety in generation of a test power-considered test.例文帳に追加

テストパワー考慮型のテスト生成において、テストパターン安全性を保証することを達成するテスト装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a test program for reducing the amount of data necessary in a test.例文帳に追加

テストにおいて必要となるデータ量を削減することができるテストシステム、テスト方法およびテストプログラムを提供すること - 特許庁

The test simulator 41 tests the operation of the test object software 44 according to a test scenario 45 input from test control means 43.例文帳に追加

テストシミュレータ41は、テスト制御手段43から入力されたテストシナリオ45に従って、テスト対象ソフトウェア44の動作をテストする。 - 特許庁

test/ will exclude all directories and subdirectories of ANY directory named test encountered in directory parsing. 例文帳に追加

test/ は、ディレクトリをたどっていく際に test という名前のディレクトリに遭遇した場合、そのディレクトリおよびサブディレクトリ以下をすべて除外します。 - PEAR

A test case creating part 17 creates a new test case on the basis of the created test data and a test case generating transition to a present state, and the test case is registered in a test case storage 18.例文帳に追加

テストケース生成部１７は、生成されたテストデータと現在の状態までの遷移を発生させるテストケースを元に新たなテストケースを生成し、テストケース記憶装置１８に登録する。 - 特許庁

TEST PROCEDURE FOR TEMPERATURE RISE OF TRANSFORMER例文帳に追加

変圧器の温度上昇試験方法 - 特許庁

SHIELD BOX FOR PERFORMANCE TEST OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子機器性能試験用シールドボックス - 特許庁

TESTING APPARATUS, METHOD OF TESTING, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

TEST METHOD AND INSPECTION DEVICE OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の検査方法及び検査装置 - 特許庁

EVALUATION OF TEST SUBSTANCE TO CELL例文帳に追加

細胞に対する被検物質の評価 - 特許庁

STRIKING DEVICE FOR HAMMERING SOUND TEST OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの打音検査用打撃装置 - 特許庁

TOOL FOR WIPE TEST OF ENVIRONMENTAL MICROORGANISM例文帳に追加

環境微生物拭き取り検査用具 - 特許庁

AUTOMATIC TEST METHOD AND PROGRAM OF IC例文帳に追加

ＩＣの自動試験方法及びプログラム - 特許庁

- Appropriateness of stress test scenarios, etc. 例文帳に追加

・ ストレス・テストにおけるシナリオ等の妥当性 - 金融庁

SOCKET FOR ELECTRIC TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気テスト用ソケット - 特許庁

TEST METHOD OF ACCIDENT AUTOMATIC RECOVERY EQUIPMENT例文帳に追加

事故自動復旧装置の試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF IC例文帳に追加

ＩＣの試験装置及び試験方法 - 特許庁

OPEN OR SHORT TEST-CIRCUIT OF CHARGE MODE例文帳に追加

チャージモードのオープン又はショートテスト回路 - 特許庁

To detect abnormal state of self and a test body at the initial step of a test.例文帳に追加

試験の初期段階で自己及び供試体の異常状態を検出する。 - 特許庁

METHOD FOR GROUND FAULT TEST OF SOLAR CELL ARRAY例文帳に追加

太陽電池アレイの地絡試験方法 - 特許庁

HIGH SPEED TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の高速テスト - 特許庁

SMALL HEATING FURNACE FOR SIMULATION TEST OF REFLOW FURNACE例文帳に追加

リフロー炉模擬試験用小型加熱炉 - 特許庁

SOCKET SUBSTRATE FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験用ソケット基板 - 特許庁

TEST PIECE INSTALLATION ELECTRODE OF PLASMA PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

プラズマ処理装置の試料載置電極 - 特許庁

To shorten scan test time of a scan test circuit which has a plurality of scan paths.例文帳に追加

複数のスキャンパスを有するスキャンテスト回路のスキャンテスト時間を短縮する。 - 特許庁

VIRTUAL TEST SYSTEM CORRESPONDING TO SIMULTANEOUS TEST OF A PLURALITY OF DEVICE UNDER-TESTS (DUT)例文帳に追加

複数のデバイスアンダーテスト（ＤＵＴ）の同時テストに対応したヴァーチャルテストシステム - 特許庁

feature test macro must be defined in order to obtain the definition of this structure. 例文帳に追加

を定義しなければならない。 - JM

Standard operation manual for handling of test samples 例文帳に追加

試験品取扱標準作業書 - 日本法令外国語訳データベースシステム

RELIABILITY TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の信頼性試験装置 - 特許庁