| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
MEMORY CARD AND MEMORY CARD TEST METHOD, CAPABLE OF SIMPLIFYING TEST PROCESS例文帳に追加
試験工程を簡略化できるメモリカード及びメモリカードの試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE FOR COLORIMETRIC DETECTION OF OBJECT TO BE ANALYZED IN TEST FLUID例文帳に追加
試験流体中の分析対象物の比色検出用試験具 - 特許庁
To provide a test method, a tester, and a test system capable of obtaining a highly accurate test result of a magnetic responsive unit equipped with a test object.例文帳に追加
テスト対象物に備わる磁気反応ユニットの高精度なテスト結果を得ることができるテスト方法、テスタおよびテストシステムを提供する。 - 特許庁
TEST RESULT DECIDING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR DECIDING TEST RESULT例文帳に追加
半導体装置のテスト結果判定回路及びテスト結果判定方法 - 特許庁
LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁
To prevent a test from being prolonged by preventing the increase of test dedicated terminals.例文帳に追加
テスト専用端子の増加を防ぎ、テストの長時間化を防止する。 - 特許庁
The test circuit 160 outputs a test pattern for testing the memory 20 and obtains a test result of the memory 20 obtained on the basis of the test pattern.例文帳に追加
テスト回路160は、メモリー20をテストするテストパターンを出力し、そのテストパターンにより得られるメモリー20のテスト結果を取得する。 - 特許庁
TEST BODY MANUFACTURING METHOD AND EVALUATION DEVICE OF TEST BODY MANUFACTURING CONDITION例文帳に追加
試験体製造方法および試験体製造条件評価装置 - 特許庁
To improve processing efficiency in a test of an LSI by enabling sharing of a test pattern, a test program and a test jig by different LSIs.例文帳に追加
テストパターン,テストプログラム,およびテスト治具を異なるLSIで共用できるようにし、LSIのテストにおける処理効率の向上を図る。 - 特許庁
TEST DEVICE OF SOLAR CELL PANEL, TEST METHOD, CONTROL DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
太陽電池パネルの試験装置、試験方法、制御装置、及びプログラム - 特許庁
MEASURING PART OF WIND TUNNEL TEST DEVICE AND WIND TUNNEL TEST DEVICE USING THIS例文帳に追加
風洞試験装置の測定部およびこれを用いた風洞試験装置 - 特許庁
TEAR MENISCUS TEST DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING TEAR MENISCUS TEST DEVICE例文帳に追加
涙液メニスカス検査用具及び涙液メニスカス検査用具製造方法 - 特許庁
Ueli Maurer's Universal Statistical Test for Random Bit Generators( MUST ) quickly measures the entropy of a sample. 例文帳に追加
Ueli Maurer 氏の Universal Statistical Test for Random Bit Generators(MUST)は、サンプルデータのエントロピーを高速に測定します。 - FreeBSD
First, the tensile test of a test piece 2 is performed by a tensile testing machine 10.例文帳に追加
まず、引張り試験機10で試験片2の引っ張り試験を行う。 - 特許庁
To improve the test accuracy by enhancing the efficiency of a micronuclei counting test system.例文帳に追加
小核計数試験系の効率化および試験精度を向上する。 - 特許庁
TEST TRAY AND TEST SYSTEM FOR DETERMINING RESPONSE OF BIOLOGICAL SAMPLE例文帳に追加
生物試料の応答を決定するための試験トレイおよび試験システム - 特許庁
TRAY FOR ELECTRONIC COMPONENT BOARD TEST AND TEST DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT BOARD例文帳に追加
電子部品基板試験用トレイおよび電子部品基板の試験装置 - 特許庁
To provide a test method for shortening a test time of a volatile memory.例文帳に追加
揮発性メモリのテスト時間を短縮化するテスト方法を提供する。 - 特許庁
An automatic test device 3 controls an operation of the load test machine 2 and the test machine 5 automatically and performs an automatic test of the node B apparatus 1.例文帳に追加
自動試験装置3は負荷試験機2及び試験機5の動作を自動的にコントロールし、ノードB装置1に対する自動試験を実施する。 - 特許庁
ELECTRONIC TEST APPARATUS AND METHOD FOR DISPLAYING DATA POINT VALUE OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加
電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 - 特許庁
FOCUS TEST METHOD, FOCUS TEST MASK, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
フォーカステスト方法、フォーカステストマスク、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
An LSI has a scan test mode for performing a scan test of an internal circuit.例文帳に追加
LSIは、内部回路をスキャンテストするためのスキャンテストモードを有する。 - 特許庁
To reduce a test cost by shortening a test time of a DRAM-macro.例文帳に追加
DRAMマクロの検査時間の短縮化を図り、検査コストを低減する。 - 特許庁
a test for examining the local stimulus of a chemical material called a {Draize test} 例文帳に追加
ドレーズテストという,化学物質の局所刺激性を検査する試験 - EDR日英対訳辞書
GEOTHERMAL HEAT COLLECTION TEST DEVICE AND METHOD OF GEOTHERMAL HEAT COLLECTION TEST USING THE SAME例文帳に追加
地熱採熱試験装置、及び、それを用いた地熱採熱試験方法 - 特許庁
To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加
スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、I/O部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
LUBRICITY TEST DEVICE AND LUBRICITY TEST METHOD OF EMULSION ROLLING OIL例文帳に追加
エマルション圧延油の潤滑性試験装置および潤滑性試験方法 - 特許庁
TEST RESULT ADJUSTING SYSTEM FOR ADJUSTING TEST RESULT OF DEVICE IN GROUP AND TEST RESULT ADJUSTING METHOD例文帳に追加
グループ内のデバイスのテスト結果を調整するためのテスト結果調整システムおよびテスト結果調整方法 - 特許庁
To create more appropriate test specifications and test data for designing a test of a computer program.例文帳に追加
コンピュータプログラムのテストを設計するためのテスト仕様書とテストデータとをより適切に作成すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device capable of shortening test time and reducing test cost, and to provide a test method therefor.例文帳に追加
テスト時間およびテストコストを低減できる半導体記憶装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
A control part 3 executes a program for test on the basis of the test mode generated at the test mode generating part 2.例文帳に追加
制御部3はテストモード生成部2で生成したテストモードに基づいてテスト用プログラムを実行する。 - 特許庁
To provide the method for an easy partial test of software which makes it easy to change test conditions and add a test case.例文帳に追加
テスト条件の変更やテストケースの追加が容易なソフトウェアの部分的テストの方法を提供する。 - 特許庁
To increase working efficiency of test work by a test program, and to reduce memory capacity for the test work.例文帳に追加
テストプログラムによるテスト作業の作業効率を高め、テスト作業用のメモリ容量を少なくすること。 - 特許庁
TEST PIECE HOLDING APPARATUS FOR TENSION/COMPRESSION TEST OF NON-PRINCIPAL AXIS COMBINED MATERIAL, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加
非主軸複合材の引張・圧縮試験用の試験片掴み装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
To reduce the test cost or product cost by shortening the test time and reducing the man-hour of forming a test pattern.例文帳に追加
テスト時間を短縮し、テストパタンの作成工数を削減し、テストコストまたは製品コストを削減する。 - 特許庁
Then, upon confirming the completion of test with the value of the test status register, the CPU reads the test results from the test circuits for determination, and determines whether to continuously perform the test according to setting of the test general register for continuity of the test.例文帳に追加
この後、CPUは、テスト状態レジスタの値によりテストが行われたことを確認すると、テスト回路よりテスト結果を読み出して判定を行い、テスト汎用レジスタの設定に従って、続けてテストを行うかどうかなどを判定しテストを続けることが可能とされる。 - 特許庁
TEST EQUIPMENT FOR EARTHQUAKE EMERGENCY OPERATION OF ELEVATOR例文帳に追加
エレベータの地震管制運転試験装置 - 特許庁
METHOD OF WOOD STRESS WAVE NONDESTRUCTIVE TEST例文帳に追加
木材応力波非破壊試験の方法 - 特許庁
To provide a memory card device, capable of performing test without increasing the number of test pads.例文帳に追加
テストパッドを増加することなくテストを可能とするメモリカード装置を提供する。 - 特許庁
To provide a vehicle testing device applicable to a composite test of a brake test and a speed test of a vehicle and capable of stopping the rotation of drive rollers even when carrying out the brake test.例文帳に追加
車両のブレーキテストとスピードテストの複合試験に適用できて、ブレーキテスト時にも駆動ローラの回転の停止を可能にした車両試験装置を提供する。 - 特許庁
ACCELERATED TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING例文帳に追加
応力腐食割れの加速試験方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR PERFORMANCE OF ION-EXCHANGE RESIN例文帳に追加
イオン交換樹脂の性能試験方法 - 特許庁
CONTINUOUS APPLICATION AND DECOMPRESSION OF TEST PATTERN TO TECHNOLOGICAL FIELD OF CIRCUIT UNDER TEST例文帳に追加
テスト中回路技術分野へのテストパターンの連続的な適用およびデコンプレッション - 特許庁
To improve the reliability of a test without increasing the number of test output terminals.例文帳に追加
テスト出力端子数を増大させることなく、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁
ULTRASONIC TEST EQUIPMENT OF PIPE WELD ZONE例文帳に追加
配管溶接部の超音波探傷装置 - 特許庁
CONDUCTION PIN PROTECTIVE STRUCTURE OF CONDUCTION TEST IMPLEMENT例文帳に追加
導通検査具の導通ピン保護構造 - 特許庁
To facilitate the judgement of test result and performance degradation by automating execution of a test program.例文帳に追加
テストプログラムの実行を自動化し、テスト結果、性能劣化の判断を容易にする。 - 特許庁
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