「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR ACCELERATING DETERIORATION OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTORECEPTOR例文帳に追加

電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加

試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁

This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.例文帳に追加

本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス（ＤＵＴ）のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのＤＵＴの応答出力を検証する。 - 特許庁

When a new test number is generated to the result of a sub-test in the test flow (904), a database 700 of the test number is indexed by using the new test number (906).例文帳に追加

テストフロー内のサブテストの結果に対して新しいテスト番号が生成されると（９０４）、新しいテスト番号を使用してテスト番号のデータベース７００にインデックスを付ける（９０６）。 - 特許庁

A subscriber test control means 11 transmits test information related with the test of a subscriber and the identification information of a test subscriber being a subscriber to be tested, and operates test control.例文帳に追加

加入者試験制御手段１１は、加入者試験に関する試験情報及び試験対象となる加入者である試験加入者の識別情報を送信し、試験制御を行う。 - 特許庁

A test circuit performs test operation of the circuits to be tested in parallel based on the test control information by designating test operation of each test control circuit 42 through a control terminal 32.例文帳に追加

制御端子（３２）を介して各テスト制御回路（４２）にテスト動作を指示することにより、テスト回路は並列的にテスト制御情報に基づいて被テスト回路をテスト動作させる。 - 特許庁

To speed up development by reducing time or trouble of redeployment of a test code every time adding or changing the test code or changing over the test code to another test code to smoothly perform a test.例文帳に追加

テストコードの追加や変更、別のテストコードへの切り替えの度にテストコードを再配備する手間や時間を減らすことによって、テストをスムーズに行えるようにし、開発のスピードアップを図る。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

It is possible to test a plurality of the memories in parallel by supplying the test address information from the common test bus to a plurality of the memories in parallel.例文帳に追加

複数のメモリに共通テストバスから並列にテストアドレス情報を供給して並列テスト可能になる。 - 特許庁

To reduce test cost by using a simple test pattern to perform a test of a circuit operated upon receiving the output of a functional block.例文帳に追加

機能ブロックの出力を受けて動作する回路のテストを簡易なテストパターンを用いて実施し、テストコストを削減する。 - 特許庁

To secure contact points for an in-circuit test of a test probe on a printed board without executing the additional design of a test pad.例文帳に追加

テストパッドの追加設計せずにプリント基板上におけるテストプローブのインサーキットテスト用の接触ポイントを確保する。 - 特許庁

To provide a test data generation device and a test data generation method, allowing generation of test data of an effective date.例文帳に追加

有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供する。 - 特許庁

Out of test cases included in a set of input test cases, test cases having the determined value are determined as candidates (712).例文帳に追加

入力テスト・ケースの集合に含まれるテストケースのうち、上記で決定した値を持っているものを候補とする（７１２）。 - 特許庁

To provide a device for determining the performance of a test plug, which can readily and quickly conduct insulation test of the test plug.例文帳に追加

テストプラグの絶縁試験を容易且つ迅速に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。 - 特許庁

To provide test data backup technology capable of utilizing the data of a test such as a coal combustion test and the like for a long period.例文帳に追加

石炭燃焼試験等の試験データを長期間利用することが可能な試験データバックアップ技術を提供する。 - 特許庁

EXTERNAL TEST AUXILIARY DEVICE USED FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE AUXILIARY DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験に用いる外部試験補助装置およびその装置を用いた半導体装置の試験方法 - 特許庁

With a start bit set in the test start register, the test control circuit starts a test operation of the CPU with the test circuits, accumulates test results, and resets the CPU and the internal circuits in response to the completion of the test operation.例文帳に追加

テスト起動レジスタにスタートビットがセットされて、テスト制御回路は、テスト回路によるＣＰＵなどのテスト動作を起動しテスト結果を蓄積し、テスト動作の終了に応答してＣＰＵと内部回路をリセットする。 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To solve a problem that error check of the ratio of current transformation of a current transformer can not be executed by a test by a kick test method.例文帳に追加

キックテスト法による試験では、変流器の変流比の正誤チェックができない。 - 特許庁

To prevent the dead load of a piston or a load cell from being applied to a test piece at the time of abnormality or the like of a test.例文帳に追加

試験異常時などに、供試体にピストンやロードセルの自重を加えないようにする。 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF OPTICAL PATH CHARACTERISTICS, TEST SYSTEM OF OPTICAL PATH, AND MONITORING SYSTEM OF OPTICAL PATH TEST例文帳に追加

光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システム - 特許庁

A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.例文帳に追加

パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of reducing the number of pallets in a test tank without reducing treating ability of the test tank, and capable of extensively reducing a temperature control load of the test tank.例文帳に追加

試験槽の処理能力を低減することなく試験槽内のパレット数を少なくでき、試験槽の温調負荷を大幅に低減可能な環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

The tester has an analog test portion which makes an analog test of each device under test and outputs a retiming clock, and a digital test portion which performs retiming by the retiming clock of this analog test portion and makes a digital test of the device under test.例文帳に追加

本装置は、被試験対象のアナログ試験を行い、リタイミングクロックを出力するアナログ試験部と、このアナログ試験部のリタイミングクロックによりリタイミングを行うと共に、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a fixture for a drop test, used for the drop test for allowing a test target to collide with a collision surface to test the impact resistance of the test target, which has a low cost and reduces the irregularity of the result of the drop test.例文帳に追加

衝突面に衝突させて試験物の耐衝撃性を試験する落下試験に用いられる落下試験用治具に関し、低コストで、落下試験の結果のばらつきが少ない落下試験用治具を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method.例文帳に追加

計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

RECORDING ELEMENT AND TEST METHOD OF RECORDING ELEMENT例文帳に追加

記録素子および記録素子のテスト方法 - 特許庁

To simply generate a variety of test data for inspection and test processes of a broadcast receiver device.例文帳に追加

放送受信機器の検査やテスト工程において、様々なテストデータを簡易に作成する。 - 特許庁

TEST ORDER DECIDING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト順序決定方法 - 特許庁

AUTHENTICATION TEST METHOD OF MUTUAL AUTHENTICATION DEVICE例文帳に追加

相互認証デバイスの認証試験方法 - 特許庁

QUANTITATIVE METHOD FOR NUCLEIC ACID IN TEST OBJECT AND METHOD FOR COUNTING NUMBER OF MOLECULE OF NUCLEIC ACID IN TEST OBJECT例文帳に追加

被検体核酸の定量方法、および被検体核酸の分子数の計数方法 - 特許庁

TEST UNIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト装置 - 特許庁

PREPARATION DEVICE OF TEST TUBE TO TRAY OR RACK例文帳に追加

トレイ又はラックへの試験管準備装置 - 特許庁

To perform an accurate color vision test by preventing aged deterioration of color of images for color vision test.例文帳に追加

色覚検査用画像の色の経年変化を防止して、正確な色覚検査を行う。 - 特許庁

TEST METHOD AND ITS DEVICE OF FUEL CELL例文帳に追加

燃料電池の試験方法とその装置 - 特許庁

CONSOLIDOMETER OF SOIL AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

土の圧密試験装置及びその試験方法 - 特許庁

REMOTE TEST METHOD AND SYSTEM OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体の遠隔試験方法及び装置 - 特許庁

To locally test a protocol of a network.例文帳に追加

ローカルでネットワークのプロトコルの試験を行う。 - 特許庁

STAMP FOR ANTIFOULING PROPERTY TEST OF RECORDING MEDIUM AND ANTIFOULING PROPERTY TEST METHOD OF RECORDING MEDIUM例文帳に追加

記録媒体の防汚性試験用スタンプ及び記録媒体の防汚性試験方法 - 特許庁

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER FOR HIGH FREQUENCY例文帳に追加

高周波用半導体ウェハのテスト装置 - 特許庁

COMPRESSION STRENGTH TEST CONTROL METHOD OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの圧縮強度試験管理方法 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FUNCTIONAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体チップの機能検査用テスト装置 - 特許庁

To perform test writing also in an outer periphery as well as test writing of an inner periphery of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの内周の試し書きと併せて、外周においても試し書きを行う。 - 特許庁

Parallel light from a test chart 29 is made incident from the outside of an optical axis of the test lens 12.例文帳に追加

テストチャート２９からの平行光を、被検レンズ１２の光軸外から入射させる。 - 特許庁