「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST METHOD FOR STRENGTH OF SINTERED ORE AFTER REDUCTION例文帳に追加

焼結鉱の還元後強度試験方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING AIRWAY SENSITIZATION OF TEST SUBSTANCE例文帳に追加

被験物質の気道感作性評価方法 - 特許庁

To provide a load test device of a passenger conveyor usable simply for a load test in a service life test of the passenger conveyor.例文帳に追加

マンコンベアの寿命試験等における負荷試験用として簡単に用いることができるマンコンベアの負荷試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a scan test circuit that enables the observation of an internal signal when necessary during a scan test without increasing the number of test terminals.例文帳に追加

テスト端子数を増加させることなく、スキャンテスト中に内部信号を随時観測できるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加

被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁

Further, a bending preventing plate 3 is arranged on the test air downstream side of the test piece 1 to prevent the bending of the test piece 1.例文帳に追加

また、試験片１の試験空気下流側に撓み防止板３を配置することにより、試験片１の撓みを防止できる。 - 特許庁

The connector 1 for a test head is so arranged to carry a test head 3 of an IC tester for connecting the test head to a testing part of an automatic handler.例文帳に追加

ＩＣテスタのテストヘッド３を搭載し、該テストヘッドをオートハンドラのテスト部に接続するテストヘッドの接続装置１である。 - 特許庁

To detect transition to the other test program from some test program in a plurality of test programs and to detect bug of the program.例文帳に追加

複数の試験プログラムでのある試験プログラムから他の試験プログラムへの遷移を検出して、そのプログラムのバグを検出する。 - 特許庁

When the test is run, the fixture initialization is run first; if it succeeds, the cleanup method is run after the test has been executed, regardless of the outcome of the test.例文帳に追加

初期設定が正常終了した場合、テスト実行後にはテスト結果に関わらず終了処理が実行されます。 - Python

The self test circuit device is provided with a test memory 12, a test result storage memory 13 of which the capacity is larger than the capacity of the test memory or is equal to the capacity, and a control circuit 15 constituted so that the test result is stored in the test result storage memory by performing a test of the test memory in the actual use frequency.例文帳に追加

自己試験回路装置は、テストメモリ１２と、前記テストメモリより容量が大きいかまたは等しいテスト結果格納メモリ１３と、実使用周波数において前記テストメモリのテストを行って、そのテスト結果を前記テスト結果格納メモリに格納するように構成された制御回路１５とを具備する。 - 特許庁

A conversion test pattern selection part 5 sequentially takes in test vectors included in test patterns stored in a function verification test pattern storage part 1 to select test patterns and test vectors causing the number of failures detectable by the taken in test vectors to equal the total number of failures.例文帳に追加

変換テストパターン選択部５は、機能検証用テストパターン記憶部１に記憶されたテストパターンに含まれるテストベクタを順次取込み、取込んだテストベクタによって検出できる故障数が全故障数と同じになるテストパターンおよびテストベクタを選択する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the test of the sideslip, etc., of a vehicle, wherein a drop in test accuracy due to the initial stress of the wheel of the test vehicle is prevented and a drop in test accuracy due to the unnatural posture of the test vehicle is prevented.例文帳に追加

被験車両の車輪の初期応力による試験精度の低下を防止し、又被験車両の不自然な姿勢による試験精度の低下を防止する、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

A redundancy relieving previous test having plural test items is performed, a test result of the redundancy relieving previous test is analyzed, and a test item of a redundancy relieving post test being performed successively is selected based on the analyzed result.例文帳に追加

複数の試験項目による冗長救済前試験を行い、冗長救済前試験の試験結果を解析し、その解析結果に基づいて、続いて行われる冗長救済後試験の試験項目を選択する。 - 特許庁

To provide a software test device capable of promoting efficiency of the whole test work by totalizing test results every time the test is finished for one test item without requiring totalization work after finishing the test.例文帳に追加

１つのテスト項目に対するテストが終了する毎にテスト結果を集計することによって、テスト終了後に集計作業を行う必要がなく、テスト作業全体を効率化することのできるソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

A skew value of each pin of the tester is calculated from a result h measured by the test pattern f and the test program g created, and a test program i for an actual test is created by reflecting the skew value in the original test program c.例文帳に追加

生成したテストパタンｆとテストプログラムｇで測定した結果ｈから、テスタの各ピンのスキュー値を算出し、それを元のテストプログラムｃに反映させ、本テスト用のテストプログラムｉを生成する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加

テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁

When one of a plurality of test items is specified, a test device 19 generates a test code and a test item identification code corresponding to the specified item to generate a modulated test signal T.例文帳に追加

試験装置１９では、複数のテスト項目の１つを指定すると、テスト符号と指定テスト項目に応じたテスト項目識別符号が生成され、被変調試験信号Ｔが生成される。 - 特許庁

The test execution device 500 delivers input data to the test target device 402 to the function of the test program to execute the test program, and notifies the test management device 600 about an execution situation thereof.例文帳に追加

そして、試験対象装置４０２への入力データをテスト・プログラムの関数に渡すことによりテスト・プログラムを実行し、その実行状況を試験管理装置６００へ通知する。 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items.例文帳に追加

複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁

A sensor 34 detects the amount of deposited toner of the test pattern.例文帳に追加

センサ３４は、テストパターンのトナー付着量を検知する。 - 特許庁

AIRTIGHT STRUCTURE OF DOOR OF SPACE ENVIRONMENT TEST DEVICE例文帳に追加

宇宙環境試験装置における扉の気密構造 - 特許庁

STORAGE STRUCTURE OF TEST PROGRAM FILE OF AUTOMATIC INSPECTION DEVICE例文帳に追加

自動検査装置の検査プログラムファイルの格納構造 - 特許庁

ENDURANCE TEST METHOD OF LAMINATED BODY OF RESIN FILM AND RUBBER例文帳に追加

樹脂フィルムとゴムとの積層体の耐久試験方法 - 特許庁

To reduce the amount of test data while maintaining the quality of tests.例文帳に追加

試験の品質を維持してテストデータを削減すること。 - 特許庁

SYSTEM FOR SIMULTANEOUS TEST OF DIFFERENT TYPES OF SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

他の種類の半導体装置を同時にテストするシステム - 特許庁

METHOD OF CREATING INITIAL INPUT VECTOR OF TEST GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

テスト発生回路の初期入力ベクトルの作成方法 - 特許庁

It is a test of endurance which the other party is not aware of.例文帳に追加

相手がそれと意識していない、我慢比べです。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

He was never informed of the results of the test.例文帳に追加

男性は血液検査の結果も 知らされませんでした - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の温度特性試験方法および装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING TENSION ELASTIC MODULUS OF FILM-LIKE TEST PIECE例文帳に追加

フィルム状試験片の引張り弾性率測定方法 - 特許庁

TEST EQUIPMENT OF OPTICAL DISK AND INSPECTION METHOD OF OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスクの検査装置及び光ディスクの検査方法 - 特許庁

To provide a test method of a Schmitt circuit capable of performing a test of the Schmitt circuit, in a short time.例文帳に追加

シュミット回路の試験を、短時間で行うことが可能なシュミット回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique capable of enhancing the comprehensiveness of a test such as a competition test of a device to be tested.例文帳に追加

被試験装置の競合試験等の試験の網羅性を高めることができる技術を提供する。 - 特許庁

To improve the reliability of test by automating the preparation of test specification, and preventing the mixing of human error.例文帳に追加

テスト仕様の作成を自動化し、人的誤りの混入を防止し、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁

For example, a test of the flash memory chip 3 is performed during a data holding period of a hold-test of the SRAM chip 2.例文帳に追加

たとえばＳＲＡＭチップ２のホールドテストのデータ保持期間内にフラッシュメモリチップ３のテストを行なう。 - 特許庁

When assigning again, the same valid test condition is assigned to multiple test patterns, the possible largest number of test patterns, and thereafter, the invalid test condition is assigned again.例文帳に追加

状態再割当にあたって、まず、可能な限り多数のテストパターンへ同一の有効テスト状態を割り当てた後、無効テスト状態への割り当てを行なう。 - 特許庁

To provide a tool for test and test method capable of performing chip unit test, even if the chip to be mounted in an MCM does not have a built-in test circuit.例文帳に追加

ＭＣＭに搭載されるチップがテスト回路を内蔵していなくても、チップ単体テストを行うことのできるテスト用治具およびテスト手法を提供する。 - 特許庁

A signal source 1 has test power at a test frequency, and outputs a test signal obtained by removing a secondary harmonic component of a test frequency component.例文帳に追加

信号源１が試験用周波数で試験パワーを有し、かつ試験周波数成分の２次高調波成分を除去した試験信号を出力する。 - 特許庁

The semiconductor device 10 is provided with a test terminal 16 for outputting a signal (TEST) for prestarting a test of the memory interface 11 differently from the command signal.例文帳に追加

半導体装置１０は、コマンド信号とは別に、予めメモリインターフェイス１１の試験を開始させる信号（TEST）を出力するテスト端子１６を備える。 - 特許庁

A self-test controller 10 is responsive to scanned in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that are specified by the self-test instruction.例文帳に追加

自己テスト・コントローラ１０は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁

A test condition setting means 13 sets test condition data D16 on the basis of the test region data D14 and the test light intensity data D15.例文帳に追加

検査条件設定手段１３は、検査領域データＤ１４及び検査光強度データＤ１５に基づき検査条件データＤ１６を設定する。 - 特許庁

To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.例文帳に追加

ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁