「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a material testing machine, capable of reliably recovering a test piece after testing, regardless of the state of the test piece at the completion of the test.例文帳に追加

試験終了時における試験片の状態に係わらず、試験後の試験片を確実に回収することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.例文帳に追加

高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁

A test result adjusting method comprises steps of assigning the identifier to the test result of first test execution, specifying the starting point, and assigning the identifier to the test result of second test execution.例文帳に追加

一実施形態に係るテスト結果調整方法は、第１のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることと、開始点を指定することと、第２のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることとを含みうる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加

同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.例文帳に追加

本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁

At the time of performing a tensile test, both ends (clamp sections for tensile test) of the parallel section of the test piece are adjusted to larger sizes and the surfaces of the clamp sections are used for measuring the surface characteristic and hardness of the test piece.例文帳に追加

引張試験を行なう場合は、平行部の両端（引張試験における把持部）を大きめのサイズに調製し、把持部表面を表面特性や硬さ測定のの試験面とする。 - 特許庁

METHOD OF RELEASING IN BURN-IN TEST AND ALIGNMENT DEVICE FOR USE IN BURN-IN TEST例文帳に追加

バーンイン検査における引き離し方法及びバーンイン検査に用いるアライメント装置 - 特許庁

To provide a test carton for simplifying the work required for operation test of an inspection apparatus.例文帳に追加

検査装置の動作テストのための作業を簡単化するテストカートンを提供する。 - 特許庁

To provide a test system capable of easily changing a test program without an error.例文帳に追加

テストプログラムを誤りなく容易に変更することのできるテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device taking may chip numbers capable of parallel test simultaneously during a wafer test while suppressing the area increase of chips being a test object.例文帳に追加

試験対象となるチップの面積増加を抑制しつつ、ウェハテスト時において同時に並列試験可能なチップ数を多くとれる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of performing a test by low-cost test equipment.例文帳に追加

低コストの試験用装置で試験を実行可能とする電子装置を提供する。 - 特許庁

In a propagation test sequence:11XX0 of the test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100, to generate a propagation test sequence:11010 of the test sequence ID:9.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：８の伝播テストシーケンス：１１ＸＸ０をＡＴＰＧ２１００に入力して、テストシーケンスＩＤ：９の伝播テストシーケンス：１１０１０を生成する。 - 特許庁

To provide a scanning test circuit and a scanning test method capable of shortening a clock cycle.例文帳に追加

クロックサイクルを短縮できるスキャンテスト回路及びスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test program checking apparatus capable of identifying a test item with which a test is performed in an incorrect setting state and prompting modification (configuration) of the test program.例文帳に追加

正しくない設定状態でテストを行っているテスト項目を割り出し、テストプログラムの修正（確認）を促すことができるテストプログラムチェック装置を実現する。 - 特許庁

To provide a test device of an electric component for sending test results improved.例文帳に追加

改善されたテスト結果を送出できる電気部品のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test container preventing excessive drying of a test piece.例文帳に追加

試験体の過度の乾燥を防止することを可能とした試験容器を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus operating a plurality of test circuits including an analog circuit in synchronization.例文帳に追加

アナログ回路を含む複数の試験回路を同期して動作させる試験装置。 - 特許庁

The test device includes the microchannel 11 having a reaction section 12, where a reaction substance capable of reacting with a test substance disposed into a test liquid has been immobilized, in one portion of the test device.例文帳に追加

試験液中に分散された試験物質と反応し得る反応物質が固定化された反応部１２をその一部に有する微細流路１１を備えた試験デバイス。 - 特許庁

In a propagation test sequence:11XX1 of the test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100 to generate a propagation test sequence:11011 of a test sequence ID:9.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：８の伝播テストシーケンス：１１ＸＸ１をＡＴＰＧ２１００に入力して、テストシーケンスＩＤ：９の伝播テストシーケンス：１１０１１を生成する。 - 特許庁

To provide a management method of a load test for a web system in which a test cooperator can determine participation in the test after recognizing an execution period of the each test.例文帳に追加

テスト協力者が予め各テストの実行期間を認識した上で、テスト参加を決定することができるウェブシステムに対する負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING TEST-PIECE, TEST-PIECE BASE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

電子顕微鏡、観察試料、電子顕微鏡の試料台および半導体ウェハ - 特許庁

When you run the test you will see one of the following results in the JUnit Test Results window. 例文帳に追加

テストの実行時、「JUnit テスト結果」ウィンドウに次の結果のいずれかが表示されます。 - NetBeans

To run JUnit 3 test suites as part of a JUnit 4 test suite requires JUnit 4.4 or higher. 例文帳に追加

JUnit 3 のテストスイートを JUnit 4 のテストスイートとして実行するには、JUnit 4.4 以上が必要です。 - NetBeans

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS, AND TEST BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの製造方法、半導体デバイス、半導体テスト装置、及びテストボード - 特許庁

To provide a test pattern of a semiconductor device, and to provide a test method using the same.例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法が提供される。 - 特許庁

The test pattern generation means generates the test pattern through the use of the undetected failure list.例文帳に追加

テストパターン生成手段は、未検出故障リストを用いてテストパターンを生成する。 - 特許庁

To decrease the number of pins required for a test, to enable a test by an inexpensive tester or a simultaneous test of many chips, and to short a test time.例文帳に追加

この発明は、テストに必要となるピン数を削減し、廉価なテスタによるテスト又は多数チップの同時テストを可能とし、テスト時間の短縮を達成し得ることを課題とする。 - 特許庁

OPERATION CONTROL METHOD OF REFRIGERATOR IN ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM, AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM例文帳に追加

環境試験装置における冷凍機の動作制御方法及び環境試験装置 - 特許庁

Inside the testing device part 32, a single/plurality of test piece/test pieces is/are stored.例文帳に追加

試験装置部３２内には、１個または複数個の試験片が収納される。 - 特許庁

The test system includes a test code generator, a test engine for executing a plurality of copies of a test code, and a data analyzer for analyzing a result and presenting the result to a human user.例文帳に追加

テストシステムは、テストコードジェネレータ、テストコードの複数のコピーを実行するためのテストエンジン、結果を分析し、ヒューマンユーザに提示するためのデータアナライザーを含んでいる。 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SYSTEM THEREFOR, AND THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験システム、半導体装置 - 特許庁

Information related to the test mark and test conditions is retained as a small number of scalar values.例文帳に追加

テストマークとテスト条件に係わる情報は、少数のスカラー値として保持する。 - 特許庁

To efficiently perform an ADC test, and to reduce the number of signals required for the test.例文帳に追加

ＡＤＣのテストを効率よく行い、テストに必要な信号数も削減する。 - 特許庁

To optimally determine the elastic modulus and the fracture points of a test specimen based on test result data.例文帳に追加

試験結果データに基づき、供試体の弾性率や破断点を最適に求める。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONSTRUCTING TEST ENVIRONMENT OF WEB SERVICE REQUESTER AND METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING TEST例文帳に追加

Ｗｅｂサービスリクエスタのテスト環境構築装置，方法及びテスト支援システム，方法 - 特許庁

To reduce the number of test processes, to improve test quality, and to improve yield.例文帳に追加

テスト工程数の削減、テスト品質の向上、及び歩留まりの向上を図る。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE例文帳に追加

テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁

To provide an insulation substrate capable of satisfying both of a cold heat cycle test and a power cycle test.例文帳に追加

冷熱サイクル試験とパワーサイクル試験の双方を満足する絶縁基板を提供すること。 - 特許庁

DETECTION RATE CALCULATION METHOD OF TEST PATTERN, COMPUTER PROGRAM, AND DETECTION RATE CALCULATION DEVICE OF TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの検出率算出方法、コンピュータプログラム及びテストパターンの検出率算出装置 - 特許庁

To provide a test tool capable of efficiently performing an energization test of a printed wiring board.例文帳に追加

プリント配線板の通電検査を効率良く行うことができる検査治具を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of keeping confidentiality of test programs and test data.例文帳に追加

テストプログラムやテストデータの機密性を保持することが可能な半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR LIGHT EMITTING CIRCUIT OF FIRE SENSOR AND TEST METHOD FOR LIGHT EMITTING CIRCUIT OF FIRE SENSOR例文帳に追加

火災感知器の発光回路の検査装置および火災感知器の発光回路の検査方法 - 特許庁

Thus, a test side electrode 9 on the bottom face of the substrate part 5 connects with the electrode of the test substrate 20.例文帳に追加

基板部５の底面のテスト側電極９は、テスト基板２０の電極に接続する。 - 特許庁

SUBSTRATE FIXING DEVICE, MANUFACTURING APPARATUS OF TEST PIECE EQUIPPED THEREWITH AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE例文帳に追加

基板固定装置及びこれを備えた試験片の製造装置並びに試験片の製造方法 - 特許庁

To provide a loading test apparatus capable of grasping an attitude of a reaction girder, and a loading test method.例文帳に追加

反力桁の姿勢が把握できる載荷試験装置及び載荷試験方法を提供する。 - 特許庁