「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform a disconnection test of a speaker without giving unpleasant feeling, caused by a test sound, to a resident.例文帳に追加

居住者に試験音による不快感を与えずに、スピーカの断線試験を行う。 - 特許庁

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration.例文帳に追加

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。 - 特許庁

To provide a load test device of a discharge tube stable in workability and test accuracy.例文帳に追加

作業性および検査精度の安定した放電管の荷重検査装置を提供する。 - 特許庁

When the test of a work flow is designated, test data instead of input data for the work flow processing are prepared, and processing by a test operation following a parameter is executed about the test data, and when any problem is generated in the middle of a test operation, the test operation is stopped.例文帳に追加

ワークフローのテストが指定されると、当該ワークフロー処理用の入力データに代わるテストデータが作成され、このテストデータについてパラメータに従ったテスト動作での処理が実行され、テスト動作の途中で問題が発生した場合には、テスト動作が停止される。 - 特許庁

An operation confirmation test of an excessive speed prevention means is incorporated in a load dump test.例文帳に追加

負荷遮断試験に過速度防止手段の動作確認試験を組み込むこととした。 - 特許庁

CONCRETE TEST PIECE FORMING FORM AND METHOD FOR MANUFACTURE OF TEST PIECE USING THE FORM例文帳に追加

コンクリートテストピース作成用型枠及びこの型枠を用いたコンクリートテストピースの製造方法 - 特許庁

To provide a film attachment and test device for fully automating the film attachment and test of a touch pad.例文帳に追加

タッチパッドの貼膜及び検査を全自動で行う貼膜及び検査装置を提供する。 - 特許庁

A test control trunk 40 decodes the test line information, recognizes the test line, monitors the state of use of the test line, and transmits the line switching signal for avoiding the closing of the line during the test when the line is idle to perform test control.例文帳に追加

試験制御トランク４０は、試験回線情報の解読を行い試験回線を認識して、試験回線の使用状態を監視し、回線が空きの場合は、試験中の回線閉塞を回避するための回線切替信号を送出して、試験制御を行う。 - 特許庁

This stage for a test piece holds a test piece of analysis object in a vacuum container.例文帳に追加

真空容器内で分析対象となる試料を保持するための試料用ステージである。 - 特許庁

To prepare an acceptance test schedule to prevent the long-term acceptance test period of time for a program.例文帳に追加

プログラムの受入検査期間の長期化を防ぐため、受入検査スケジュールを作成する。 - 特許庁

The achievement test which the student is made to take is marked and a result of the achievement test is received.例文帳に追加

生徒に受験させた学力テストを採点し、その学力テストの結果を受信する。 - 特許庁

THERMAL SHOCK TEST DEVICE, THERMAL SHOCK TEST METHOD AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法 - 特許庁

TEST CENTER SYSTEM UTILIZING CREDIT CARD AND METHOD OF PROCESSING AT THE TEST CENTER UTILIZING THE CREDIT CARD例文帳に追加

クレジットカードを利用したテストセンターシステムとクレジットカードを利用したテストセンターの処理方法 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USED FOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、その試験方法に用いるプローブカード及び半導体装置 - 特許庁

TEST CIRCUIT OF LIGHT RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT, TEST METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

受光増幅回路のテスト回路、テスト方法、及びこれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁

To reduce the amount of test data and test time by improving the BAST techniques.例文帳に追加

ＢＡＳＴ技術を改良することで、テストデータ量およびテスト時間を削減する。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテストプログラム生成プログラム - 特許庁

CLOCK GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験用クロック生成回路、半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

To automatically judge the degree of comprehension from a test database and test result by quick processing.例文帳に追加

テストデータベースとテスト実施結果とから高速処理により自動的に理解度を判定する。 - 特許庁

A test signal generating circuit 11 generates a test signal in a process of waveform adjustment.例文帳に追加

テスト信号発生回路１１は、波形調整の過程において、テスト信号を発生させる。 - 特許庁

To provide a parallel test circuit capable of performing a selective test on a specific bank only.例文帳に追加

特定バンクのみを選択的にテストすることができる並列テスト回路を開示する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁

ANTENNA TRANSMISSION TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF WIRELESS DEVICE, WIRELESS DEVICE AND ANTENNA TRANSMISSION TEST DEVICE例文帳に追加

無線機のアンテナ送信試験システム、方法、プログラム、無線機及びアンテナ送信試験装置 - 特許庁

At a first test step, first test data is acquired from a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

第１試験ステップにより複数の半導体装置から第１試験データを取得する。 - 特許庁

CIRCUIT FOR OUTPUT VOLTAGE LEVEL TEST OF SEMICONDUCTOR, DEVICE AND TEST METHOD FOR THE OUTPUT VOLTAGE LEVEL例文帳に追加

半導体装置の出力電圧レベルテスト用回路及び出力電圧レベルテスト方法 - 特許庁

The simple option causes tests to simply print the title of the test and not the full path to the test file. 例文帳に追加

simple を指定すると、テストのタイトルのみを表示し、テストファイルのフルパスは表示しません。 - PEAR

TEST DEVICE FOR SLIPPERINESS OF CONTAINER PERIPHERAL SURFACE, HOLDING MECHANISM, TEST METHOD, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加

容器周面の滑り性の試験装置、把持用機構、試験方法、及び、評価方法 - 特許庁

ADAPTOR FOR PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST OF COMPACT HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER, AND PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST METHOD例文帳に追加

小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法 - 特許庁

The test environment device performs a test of a radio communication device at a fixed place.例文帳に追加

試験環境装置は、固定された位置において無線通信機器における試験を行う。 - 特許庁

TEST PIECE SUPPLY DEVICE OF IMPACT RESILIENCE TESTING MACHINE例文帳に追加

反発弾性試験機の試験片供給装置 - 特許庁

CHARACTERISTIC TEST METHOD FOR OSCILLATOR OF ANGULAR VELOCITY SENSOR例文帳に追加

角速度センサ用振動子の特性検査方法 - 特許庁

EDDY CURRENT TEST METHOD AND DEVICE OF METAL BAND例文帳に追加

金属帯の渦流探傷方法および装置 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

プリント配線板の試験方法及び試験装置 - 特許庁

DETECTING METHOD AND DETECTING KIT OF TEST MATERIAL例文帳に追加

被検物質の検出方法および検出キット - 特許庁

CONTROL DEVICE OF TEST TUBE INPUT PATTERN INTO RACK例文帳に追加

ラックへの試験管投入パターンの制御装置 - 特許庁

MARKING METHOD FOR REJECT MARKING OF TEST ELEMENT例文帳に追加

テストエレメントの不合格品マーキングのマーキング方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法および試験装置 - 特許庁

CHIP FOR GENE TEST AND METHOD OF MANAGING CHIP例文帳に追加

遺伝子試験用チップとそのチップの管理方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR CHARACTERISTICS OF NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの特性検査方法 - 特許庁

AUTOMATIC PREPARATION APPARATUS FOR TEST SOLUTION OF SOIL SAMPLE例文帳に追加

土壌試料の試験溶液自動作製装置 - 特許庁

INTEGRITY TEST METHOD OF HIGH-VOLTAGE RECTIFIER STACK例文帳に追加

高電圧整流器スタックの健全性試験法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND METHOD OF EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト回路および半導体装置の評価方法 - 特許庁

TEST SOCKET AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

検査ソケット及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

DEVICE FOR SUPPORTING DESIGN OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST例文帳に追加

半導体集積回路テスト設計支援装置 - 特許庁