「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor test device 1 includes a test device body 10 for performing the test of DUT 30, and a terminal device 20 having a display part 26 for displaying the test results obtained by the test device body 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

Every time when a new test vector is generated and added to a test vector buffer 106 by a test vector generating/adding means 112, a test vector score calculating means 114 calculates a score showing the performance of the test vector.例文帳に追加

テストベクトル生成・追加手段１１２が新たなテストベクトルを生成してテストベクトルバッファ１０６に追加するごとに、テストベクトル得点計算手段１１４は、テストベクトルの性能を表す得点を計算する。 - 特許庁

With respect to each test item of the analysis object test result table, a determination rule defined to the test item is applied to a test analysis rule table 24 to determine the final test result.例文帳に追加

そして、解析対象テスト結果テーブルの各テスト項目について、テスト解析ルールテーブル２４に、そのテスト項目に対して定義されている判定ルールを適用し最終的なテスト結果を求める。 - 特許庁

The microcontroller as one embodiment of this invention is provided with the test terminal 2, to which a test signal can be inputted, and a test signal generation circuit connected to the test terminal 2 for generating the test signal inside.例文帳に追加

本発明に記載の１つのマイクロコントローラは、テスト信号を入力可能なテスト端子２と、テスト端子２に接続され、テスト信号を内部で生成するテスト信号生成回路とを備えている。 - 特許庁

The non-evaporating getter material (ZrV) of raw material ( test piece A) is pulverized by a jet mill method and a test piece B is manufactured, and by pulverizing the test piece B by a bead mill method, a test piece C and a test piece D are manufactured.例文帳に追加

原料（試料Ａ）の非蒸発ゲッター材料（ＺｒＶ）を、ジェットミル法により粉砕して試料Ｂを製造し、その試料Ｂをビーズミル法により粉砕して試料Ｃ、試料Ｄを製造する。 - 特許庁

To provide a test item creation device which can be used in an upstream step of a software test, and to provide a test item creation system, a test item creation method, and a test item creation program.例文帳に追加

ソフトウェア・テストの上流工程においても用いることの可能なテスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラムを提供すること。 - 特許庁

An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.例文帳に追加

個別ユーザーデータ挿入回路１は、テストモード設定／テストデータ生成回路１９からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁

This class implements the portion of the TestCase interface which allows the test runner to drive the test, but does not provide the methods which test code can use to check and report errors. This is used to create test cases using legacy test code, allowing it to be integrated into a例文帳に追加

このクラスではTestCaseインターフェースの内、テストランナーがテストを実行するためのインターフェースだけを実装しており、テスト結果のチェックやレポートに関するメソッドは実装していません。 既存のテストコードを - Python

There is provided the test method for the computer system including a test environment in which one or more test servers are installed and a test management server which manages an operation test of a system to be tested in the tests environment.例文帳に追加

１以上のテスト用サーバを備えたテスト環境と、テスト環境におけるテスト対象システムの動作テストを管理するテスト管理サーバとを備えた計算機システムにおけるテスト方法である。 - 特許庁

To provide a program and device for generating test data that generates a variety of test cases from the minimum test cases.例文帳に追加

最小限のテストケースから様々なバリエーションのテストケースを生成するテストデータ生成用プログラム、および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a protocol test device capable of automatically changing test mode when it executes a protocol test for a server or a client.例文帳に追加

サーバおよびクライアントを試験対象とする場合に、試験モードを自動的に変更可能なプロトコル試験装置を提供する。 - 特許庁

The oil treatment agent test kit houses predetermined test instruments necessary for the evaluation test for evaluating the effectivenesss of the oil treatment agent.例文帳に追加

油処理剤の有効性を評価する評価試験に必要な所定の試験用具を収納した油処理剤試験キット。 - 特許庁

TEST SYSTEM, TEST METHOD AND TEST PROGRAM OF PROTECTION RELAY, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM例文帳に追加

保護継電器の試験システム、保護継電器の試験方法、保護継電器の試験プログラム、およびこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a test mode circuit capable of easily resetting test mode, even when the circuit is carelessly shifted to the test mode.例文帳に追加

不用意にテストモードに移行してしまった場合でも、そのテストモードを簡単に解除することが出来るテストモード回路を提供する。 - 特許庁

Thus, the cost of the test can be decreased, and reliability related to test efficiency and test result can be improved.例文帳に追加

これにより、テストのコストを減少させることができ、テストの能率とテスト結果に関する信頼性を高めることができる。 - 特許庁

To efficiently perform a test by a plurality of test cases with respect to a test object prepared by object oriented development.例文帳に追加

オブジェクト指向開発で作成されたテスト対象について複数のテストケースによるテストを効率良く実施可能にすること。 - 特許庁

To allow a BIST (Built-In Self Test) circuit used for a manufacturing test of a LSI internal memory, to be used for initializing a cache memory also.例文帳に追加

ＬＳＩ内部メモリの製造テストに用いられるＢＩＳＴ（Build-In Self Test）回路をキャッシュメモリの初期化にも使用できるようにする。 - 特許庁

When it is registered, a test to the test point concerned is considered as executed and the contents of the test point list data are updated.例文帳に追加

登録されている場合、当該試験ポイントに対する試験は実施済みとして試験ポイント一覧データの内容を更新する。 - 特許庁

The storage device controls the reception of the transmitted test data according to the protocol set for the test mode upon receiving the test instruction.例文帳に追加

また、試験指示を受け付けると、試験モード用に設定されたプロトコルに従って、送信された試験データの受信を制御する。 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

A test machine 5 is connected while being branched logically from the node B apparatus 1 and performs a test different from that of the load test machine 2.例文帳に追加

試験機５はノードＢ装置１から論理的に分岐して接続し、負荷試験機２と違った別の試験を実施する。 - 特許庁

To provide a test information management server for refining a necessary test pattern, in a test of a large-scale software component.例文帳に追加

大規模なソフトウェア部品のテストにおいて、必要なテストパターンを絞り込むことができるテスト情報管理サーバを提供する。 - 特許庁

To raise reusability of a Web application test scenario and to also facilitate test management in a Web application test support tool.例文帳に追加

Ｗｅｂアプリケーションテスト支援ツールにおいて、Ｗｅｂアプリケーションテストシナリオの再利用性を高めることができ、テスト管理も容易になるようにする。 - 特許庁

CASSETTE FOR HOLDING AND DISTRIBUTING TEST PAPER, VIAL FOR STORING AND DISTRIBUTING TEST PAPER, AND DISTRIBUTING METHOD OF TEST PAPER例文帳に追加

試験紙を保持および分配するためのカセット、試験紙を貯蔵および分配するためのバイアル、および試験紙の分配方法 - 特許庁

To provide a test pattern generation device capable of easily inputting and changing a test pattern, and reusing the test pattern.例文帳に追加

容易にテストパターン入力と変更ができると共に、テストパターンの再利用ができるようにしたテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

The device 3 stores the execution result and repeats the execution of the test program 5 on all instructions to test the test program.例文帳に追加

自動テスト装置３は実行結果を保存し、全ての命令について繰り返し行うことでテストプログラムのテストを行う。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

To perform efficient generation of a test pattern capable of taking account of connection relation of instances on a critical path and avoiding an incorrect test, in creation of a test pattern of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストパタンの作成において、クリティカルパス上のインスタンスの接続関係を考慮し、かつ、誤テストを回避するテストパタンの生成を効率的に行う。 - 特許庁

To improve a test efficiency per socket in an aging test of memory parts and enable the aging test for a different type of memory parts as well.例文帳に追加

メモリ部品のエージングテストにおいてソケット当たりのテスト効率を改善し、異なる型式のメモリ部品についてもエージングテストを可能とする。 - 特許庁

The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test item preparation aiding device capable of preparing test items necessary for a test of an object directional program with less manhour.例文帳に追加

オブジェクト指向プログラムのテストに必要なテスト項目を少ない工数で作成することができるテスト項目作成支援装置を提供すること。 - 特許庁

A test pattern generating means 120 composes a part of the timing signal with a part of the test pattern every cycle period to generate the test pattern signal.例文帳に追加

テストパターン生成手段１２０は、タイミング信号の一部と、テストパターンの一部とを各サイクル周期毎に合成し、テストパターン信号を生成する。 - 特許庁

To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.例文帳に追加

テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a cross-wind test facility capable of improving the test accuracy by performing a cross wind test a plurality of times, under substantially identical conditions.例文帳に追加

ほぼ同じ条件で複数回の横風試験を行って試験精度を向上させることができる横風試験設備を提供すること。 - 特許庁

The test scenario management means 13 manages the test scenario, based on the order of the appearance of the scenario elements in the test scenario from the head.例文帳に追加

試験シナリオ管理手段１３では、試験シナリオにおけるシナリオ要素の先頭からの出現順序に基づいて試験シナリオを管理する。 - 特許庁

To provide a sorting device suitable for a test data distribution in consideration of the test data distribution as well as a training data distribution and improve sorting accuracy of the test data.例文帳に追加

訓練データのみならずテストデータの分布を考慮してテストデータの分布にあった分類装置を構成し、テストデータの分類精度を上げる。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which can test simultaneously a plurality of memory devices of which performances such as pause capability or the like are different.例文帳に追加

ポーズ実力等の性能の異なる複数個のメモリデバイスを同時に試験することができる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide the tester performing a test under a plurality of temp. conditions in the same test tank at the same time with respect to the test temp. of a sample.例文帳に追加

耐候試験機における試料の試験温度に関し、同一試験槽内で同時に複数の温度条件で試験を行う技術に関する。 - 特許庁

To provide a test pattern generating device that easily and automatically generates a test pattern without the preparation of complicated test pattern in verification for wiring connection of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの配線接続検証において、複雑なテストパターンの作成を必要とせず、テストパターンを容易に自動発生すること。 - 特許庁

To provide a test program generation device and a test program generation method capable of inputting a parameter corresponding to a template of the test program.例文帳に追加

テストプログラムのテンプレートに応じて、パラメータが入力できるテストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

The evaluating condition output section 21 outputs the evaluating conditions of the test to the test pattern testing section 1 for carrying out testing of the test pattern.例文帳に追加

特に、評価条件出力部２１は、テストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に、当該試験の評価条件を出力する。 - 特許庁

To provide a test print and its calorimetric method capable of shortening a time required for manufacturing the test print and reducing a cost of the test print.例文帳に追加

テストプリントの作製に要する時間を短縮しかつテストプリントのコストを削減できる、テストプリントおよびその測色方法を提供する。 - 特許庁

To provide a monitored burn-in test device for executing a monitored burn-in test without increasing the load of software or improving the function of the test device.例文帳に追加

ソフトウェアの負荷の増加やテスタ装置の機能を向上させることなくモニタードバーンインテストが実施できるモニタードバーンインテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a facility management system for automatically carrying out retrial of a maintenance test when a test associated apparatus is initialized during implementation of the maintenance test.例文帳に追加

保守試験の実施中に試験関連装置が初期化された場合、保守試験の再試行を自動的に行なう設備管理システムを提供。 - 特許庁

To provide a computer program, a test support method and a test support device capable of supporting setting of an expectation value used for a program test.例文帳に追加

プログラムテストに使用される期待値の設定を支援することができるコンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置を提供する。 - 特許庁