「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

FREQUENCY TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR ELECTRIC POWER例文帳に追加

電力用半導体素子の周波数試験回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR MEDIA DRIVE OF DATA STORAGE SYSTEM例文帳に追加

データ・ストレージ・システムのメディア・ドライブのためのテスト・システム - 特許庁

PROJECTOR, AND TEST PATTERN FOR CONTROLLING ATTITUDE OF PROJECTOR例文帳に追加

プロジェクタ、及び、プロジェクタの姿勢制御用テストパターン - 特許庁

To provide a device of housing a plurality of test strips and endowing one test strip each time.例文帳に追加

複数の試験ストリップを格納し、かつ一度に１つの試験ストリップを分与する装置を提供する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT OF FUNCTIONAL BLOCK, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

機能ブロックのテスト回路及び集積回路装置 - 特許庁

DETERIORATION ACCELERATING TEST METHOD OF COATING, AND DEVICE FOR SAME例文帳に追加

塗装の劣化促進試験方法及びその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT例文帳に追加

半導体検査装置及びコンタクトの製造方法 - 特許庁

To execute a plurality of test programs in parallel.例文帳に追加

複数の試験プログラムを並行して実行させる。 - 特許庁

To provide a bending test device for a wire harness, capable of executing a bending test of plural samples all at once.例文帳に追加

一度に複数のサンプルの屈曲試験が可能なワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for determining when executing a test of overspeed protection system of a power plant machine.例文帳に追加

パワープラント機械の過速度保護システムの試験を行うときを決定する方法を提供すること。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF PLL CIRCUIT AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

ＰＬＬ回路のテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁

TEST DEVICE, REACTION APPARATUS, AND METHOD OF TESTING REACTION例文帳に追加

試験デバイス、反応装置及び反応試験方法 - 特許庁

As such, by the separation of the real execution data from the test data, the influence of the test is isolated from the real execution data.例文帳に追加

このように本番用とテスト用とで、データを分けてテストの影響を本番用データから切り離す。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF VISCOELASTIC MATERIAL例文帳に追加

粘弾性材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

RELIABILITY TEST METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY APPARATUS例文帳に追加

強誘電体メモリ装置の信頼性試験方法 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

DRIVER CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

表示装置の駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁

PROCESSING OF MIXED MODE CONTENT IN TEST RESULT STREAM例文帳に追加

テスト結果ストリーム中の混合モードコンテンツの処理 - 特許庁

To provide a test circuit of a decoder, which can perform a test of a decoder without accessing a memory cell.例文帳に追加

メモリセルへアクセスすることなくデコーダのテストを行うことのできる、デコーダのテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test facilitating circuit capable of reducing required cost for test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのテストに要するコストを削減することが可能なテスト容易化回路を提供すること。 - 特許庁

DATA PROCESSING SYSTEM OF TEST EQUIPMENT USING IMAGE DATA例文帳に追加

画像データを用いる検査装置のデータ処理システム - 特許庁

At that time, he had no rank and was shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test). 例文帳に追加

当時、黒麻呂は無位・進士だった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To eliminate a redundant test step in a test of retrieving operation of an associative memory having a priority encoder.例文帳に追加

プライオリティエンコーダを持つ連想メモリの検索動作の検査において、冗長な検査ステップを排除する。 - 特許庁

TEST DEVICE FOR FRONT END OF ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

超音波診断装置のフロントエンド部の試験装置 - 特許庁

The method is provided which determines a sensor field of view with respect to a test patch and aligns the test patch with the sensor field of view.例文帳に追加

センサの視野をテストパッチに対して決定し且つテストパッチをセンサ視野に位置合わせする方法。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SHAKING TEST OF STRUCTURE例文帳に追加

構造物の加振試験装置及び加振試験方法 - 特許庁

DRIVING CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

表示装置の駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁

CHARGING AND DISCHARGING TEST METHOD OF BATTERY AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

バッテリーの充放電試験方法及びその装置 - 特許庁

TEST DEVICE FOR MANUAL CONTROL DEVICE OF AIRPLANE例文帳に追加

飛行機の人力操縦装置における試験装置 - 特許庁

Examination of Design Document, Function Test and Other Methods 例文帳に追加

設計書類の審査、機能試験その他の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

MULTIPLE COAGULATION TEST CARTRIDGE AND METHOD OF USING THE SAME例文帳に追加

マルチ凝血試験カートリッジ及びその使用方法 - 特許庁

TEST ENVIRONMENT ADJUSTING DEVICE OF CENTRAL AIR CONDITIONER例文帳に追加

セントラル空調装置の試験環境調整装置 - 特許庁

To test a memory while suppressing increment of circuit scale.例文帳に追加

回路規模の増加を抑え、メモリの検査を行う。 - 特許庁

ELECTRONIC TEST PROGRAM CAPABLE OF DISTINGUISHING RESULT例文帳に追加

結果を識別することのできる電子試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESOLUTION OF IMAGE SENSOR, AND TEST SHEET例文帳に追加

イメージセンサの解像度測定方法、およびテストシート - 特許庁

To provide an insert for carrier boards of test handler.例文帳に追加

テストハンドラーのキャリアボード用のインサートを提供する。 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR LIGHT-RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT OF FIRE SENSOR例文帳に追加

火災感知器の受光増幅回路の検査装置 - 特許庁

To facilitate the test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験の容易化を図る。 - 特許庁

To control the temperature adjustment mechanism of integrated circuit probe device test environment, and thereby enhance the reliability of test results.例文帳に追加

集積回路プローブ装置試験環境の温度を制御し、よって試験結果の角度を高める。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DENSITY VALUE OF TEST EXPOSURE DOT LINE例文帳に追加

テスト露光ドットラインの濃度値を決定する方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMANCE TEST OF TERMINAL例文帳に追加

端末機の性能テストのための方法及び装置 - 特許庁

The flow value of the soil is measured by flow test.例文帳に追加

この土のフロー値を、フロー試験により測定する。 - 特許庁

SCC IMPARTING DEVICE TO SMALL DIAMETER NOZZLE OF TEST OBJECT例文帳に追加

小口径ノズル試験体へのＳＣＣ付与装置 - 特許庁

TESTING SUBSTRATE OF MAGNETIC DISK UNIT, AND TEST CHAMBER例文帳に追加

磁気ディスク装置の試験用基板及びテスト・チャンバ - 特許庁