「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

A test chart selection section 220 selects test chart data adapted to a multifunction machine 100 among a plurality of test chart data managed by a test chart management section 230.例文帳に追加

テストチャート選択部２２０は、テストチャート管理部２３０によって管理される複数のテストチャートデータの中から複合機１００に適したテストチャートデータを選択する。 - 特許庁

The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node.例文帳に追加

試験要求が出されたＡＴＭ伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ＡＴＭセルを生成し、対向するノードに送信する。 - 特許庁

To perform a sorting test not in a test environment but in an actual environment when a sorting test of form data is performed, and to prevent test form data from being stored in an unexpected folder.例文帳に追加

帳票データの仕分けテストを行う際に、テスト環境ではなく本番環境で行うとともに、予期せぬフォルダにテスト帳票データが保存されることを防止する。 - 特許庁

The tester includes a heater 6 abutting on the bottom part of a test container 5, for supporting the test container 5 from the downside, and heating the internal test liquid through the test container 5.例文帳に追加

試験容器５の底部に当接し、当該試験容器５を下方から支持するとともに、当該試験容器５を介して内部の試験液を加熱するヒータ６を設ける。 - 特許庁

To provide a burn-in test apparatus and test method capable of reducing the cost required for test by performing a characteristic analyzing test in a short time.例文帳に追加

短時間で特性解析用試験を行うことで、試験に要するコストを低減することができるバーンイン試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A control unit transmits a test instruction to a limit switch, the test instruction triggers an electronic self-test in the limit switch and the control unit monitors the result of the self-test.例文帳に追加

制御ユニットはテスト命令を限界スイッチに送信し、該テスト命令は限界スイッチで電子的自己テストをトリガし、該自己テストの結果を制御ユニットが監視する。 - 特許庁

The image processing part 60 of the image forming apparatus 1 stores monochrome test image data showing a monochrome test image and a multicolor test image data showing a multicolor test image.例文帳に追加

画像形成装置１の画像処理部６０は、単色テスト画像を表す単色テスト画像データと、多次色テスト画像を表す多次色テスト画像データとを記憶する。 - 特許庁

A burn-in test device includes a test substrate for mounting a semiconductor device and a control part for supplying a control signal and test data for controlling the motion of the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト装置は、半導体装置を搭載する試験基板と、バーンインテストの動作を制御する制御信号及びテストデータを供給する制御部とを具備する。 - 特許庁

A Propagation Test instruction, a Decay Test instruction and a Cycle Test instruction are added to the interconnect circuit test method of a circuit including a conventional JTAG boundary scan cell.例文帳に追加

伝搬テスト命令、減衰テスト命令、およびサイクル・テスト命令を従来型ＪＴＡＧ境界スキャン・セルを含む回路の相互接続回路テスト方法に追加する。 - 特許庁

When a user selects a load test to apply for participation in the test, the test management server 3 registers an ID of the user whose participation application is received in a test registrant management database 38.例文帳に追加

負荷テストをユーザが選択して参加申し込みをすると、テスト管理サーバ３は、参加申込を受け付けたユーザのＩＤを、テスト登録者管理データベース３８に登録する。 - 特許庁

In addition, a test schedule and a data sheet of a report on a test result from a test department terminal 9 are similarly registered in the test database 12 and data sheet storage server 2.例文帳に追加

その他、試験部門端末９からの試験スケジュールや試験結果の報告のデータシートについても同様に、試験データベース１２とデータシート格納サーバー２に登録する。 - 特許庁

You can place the definitions of test cases and test suites in the same modules as the code they are to test (such as widget.py),but there are several advantages to placing the test code in a separate module, such as widgettests. py:例文帳に追加

テストケースやテストスイートは (widget.py のような) テスト対象のモジュール内にも記述できますが、テストは(widgettests.py のような) 独立したモジュールに置いた方が以下のような点で有利です: - Python

(1) Examples of in vivo heritable mutagenicity test using germ cells dominant lethal test using rodents mutual translocation test using mice specific locus test using mice例文帳に追加

(1) 生殖細胞を用いる in vivo 経世代変異原性試験の例 　げっ歯類を用いる優性致死試験・マウスを用いる相互転座試験 ・マウスを用いる特定座位試験 - 経済産業省

The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加

試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁

The test procedure management part 43 creates a file for indicating stop of output of the test pattern A and start of output of a test pattern B, and outputs to the programmable remote controller 3.例文帳に追加

テスト手順管理部４３は、テストパターンＡの出力の停止と、テストパターンＢの出力の開始を指示するファイルを作成し、プログラマブルリモコン３に出力する。 - 特許庁

To enable a test of high accuracy wherein, with a simple circuit with few number of gates, a test pattern is easily generated, related to a test of an input/output part of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入出力部のテストに、テストパターンの作成が容易で、少ないゲート数の単純な回路でよく、精度の高いテストを可能とすること。 - 特許庁

By this constitution, all of the selection of the test tubes, the pasting of the label to the test tubes and the supply of the test tubes to the rack after the label is pasted are automatically performed.例文帳に追加

これにより、試験管の選択、試験管へのラベルの貼付及びラベル貼着後の試験管のラックへの供給を全て自動的に行うことが可能である。 - 特許庁

Moreover, when a plurality of test programs are executed, the order of reading of the test programs is rearranged according to the storage positions of the test programs on a recording medium.例文帳に追加

さらに、複数の試験プログラムが実行される場合、試験プログラムの読み込み順序が、記録媒体上の試験プログラムの格納位置に応じて並べ替えられる。 - 特許庁

At least one characteristic of the captured test pattern is then compared with the corresponding characteristic of the test pattern of the test chart, to determine the OTF of this lens.例文帳に追加

そのとき、撮像テストパターンの少なくとも１つの特性をテストチャートのテストパターンの対応する特性と比較することによってこのレンズのＯＴＦを決定する。 - 特許庁

To reduce the number of setting times of test conditions by storing the frequently set test conditions in a test condition memory section in consideration of the fact that a plurality of same test conditions are set in the past in the setting of test conditions.例文帳に追加

本発明の課題は、試験条件の設定において、過去に複数の同一の試験条件が設定された経緯によって、設定の多い試験条件を試験条件記憶部に保持させることにより、試験条件の設定回数を低減させることである。 - 特許庁

The test support system for performing a virtual test on a test program includes: a test program analysis section for analyzing the description of the test program; a test program analysis result determination section for determining a processing flow on the basis of the analysis result by the test program analysis section; and a test program display section for displaying information related to the test program in those sections.例文帳に追加

テストプログラムの仮想テストを行うように構成されたテスト支援装置において、前記テストプログラムの記述を解析するテストプログラム解析部と、このテストプログラム解析部の解析結果に基づき処理の流れについての判断を行うテストプログラム解析結果判断部と、これら各部におけるテストプログラムに関連した情報を表示するテストプログラム表示部、を有することを特徴とするもの。 - 特許庁

To make generatable a simulation test bench capable of compression test pattern files of plural input signal lines into one test pattern file thereby reducing the occupied quantity of the test pattern file in a recording medium.例文帳に追加

複数の入力信号線のテストパターンファイルを一つのテストパターンファイルにデータ圧縮し、テストパターンファイルの記録媒体における占有量を減少させるシミュレーションテストベンチ生成を可能とする。 - 特許庁

The test management device 600 outputs the execution situation of the test program notified from the test execution device 500 when a confirmation request of the execution situation of the test program is received from the outside.例文帳に追加

試験管理装置６００は、テスト・プログラムの実行状況の確認要求が外部から受け付けられた際、試験実行装置５００から通知されたテスト・プログラムの実行状況を出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for reducing the increases in the number of elements associated with core test and a core test circuit, capable of realizing continuous pattern test on a core circuit, without having to increase the number of terminals required for the test.例文帳に追加

コアテストに伴う素子数の増加を抑制する半導体集積回路と、テストに必要な端子を増やさずにコア回路の連続パターンテストを可能にするコアテスト回路を提供する。 - 特許庁

Moreover, from the results of merging of test results or overlapping of dies and shots, areas which require no test are assigned using graphics on the screen to create new test areas or change the test areas.例文帳に追加

さらに、検査後の結果をマージしたり、各ダイ、各ショットの重ね合わせた結果から検査不要エリアを画面のグラフィックを使用して指定することにより新たな検査エリアを作成、変更する。 - 特許庁

To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加

ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁

To carry out a memory test at a high speed by evading that the path of an input signal for the memory test or an output signal of the memory becomes the critical path for a memory test, and to reduce further the number of terminals at the memory test.例文帳に追加

メモリテスト時にメモリテスト用入力信号やメモリの出力信号の経路がクリチカルな経路となることを回避してメモリテストを高速に行い、さらにメモリテスト時の端子数を削減する - 特許庁

To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.例文帳に追加

テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized.例文帳に追加

仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。 - 特許庁

To carry out exchange of a test piece promptly at the exchange of the test piece, by performing inspection of the test piece by irradiating charged particle beams such as electron beams on the test piece arranged in a normal pressure atmosphere opened to the outside air.例文帳に追加

外気に開放された常圧雰囲気に配置された試料に、電子線等の荷電粒子線を照射して試料検査を行うことにより、試料検査における試料交換を迅速に行う。 - 特許庁

When the extraction processing of the test case is executed, the priority order for extraction is set in each test case based on each test result of each test case according to the set priority order of the logics.例文帳に追加

テストケースの抽出処理が実行されると、設定されたロジックの優先順位に従い、各テストケースの各回のテスト結果に基づいて、抽出のための優先順位が各テストケースに設定される。 - 特許庁

In the test method, a number of test machines are accumulated in a test environment of optical transceivers, and an user uses the test system for optical transceivers to enable quick and simultaneous measurement of many products, resulting in enhancing productive efficiency.例文帳に追加

多数のテストマシンを光トランシーバのテスト環境に集積し、ユーザが光トランシーバ用テストシステムを使用して多数の製品の迅速且つ同時測定を可能にして生産効率を改善する。 - 特許庁

The test handler provides the test handler, having a method opening an insert which is arranged at the other part of area, by making a test tray moved after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

This test control device sets a debug count including a flow count for expressing a redoing frequency of the test flow and a process count for expressing a redoing frequency of the test processes, and executes the respective test processes of the test flow including redoing while selecting the test condition in response to this debug count.例文帳に追加

テスト管理装置において、テストフローのやり直し回数を表すフローカウントと各テスト工程のやり直し回数を表す工程カウントとを含むデバッグカウントを設定し、このデバッグカウントに対応してテスト条件を選択しながら、やり直しを含むテストフローの各テスト工程を実行させる。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

Since the test circuit is provided on the other test wafer 210 separated from the test object wafer 10 on 1 to 1 of the test object chip CP, a number of the chips CP can be simultaneously tested in parallel during the wafer test without increasing the area of the test object chip CP.例文帳に追加

試験回路を、試験対象チップＣＰと１対１に、試験対象ウェハ１０とは別のテストウェハ２１０上に備えるので、試験対象チップＣＰの面積を増加させることなく、ウェハテスト時において、同時に多数個のチップＣＰを並列にテストすることができる。 - 特許庁

To improve test efficiency of a unit test of software by automatically generating a stub function mounted with an interface of input/output between a lower function called by a function of a test target and the function of the test target, in the unit test of the software using the stub function.例文帳に追加

スタブ関数を用いたソフトウェアの単体試験において、試験対象の関数が呼び出す下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を自動的に生成することにより、ソフトウェアの単体試験の試験効率を向上させること。 - 特許庁

Test questions are managed in a storage means in a hierarchical structure according to the contents of the test questions, and the level of difficulty of the test questions is calculated from the answer data of examinees in the test, and the test questions whose level of difficulty does not match the vertical relation of the hierarchical structure are detected.例文帳に追加

本発明は、試験問題を、該試験問題の内容に応じて階層構造で記憶手段内に管理し、試験における受験者の解答データから試験問題の難易度を求め、階層構造の上下関係と難易度が矛盾する試験問題を検出する。 - 特許庁

The test print includes a plurality of sets of horizontal stripe test patterns comprising a plurality of horizontal lines extending in a main scanning direction formed by laser scanning exposure and a plurality of sets of vertical stripe test patterns comprising a plurality of vertical lines extending in a sub scanning direction formed by laser scanning exposure, wherein the horizontal stripe test patterns and the vertical stripe test patterns are alternately arranged.例文帳に追加

レーザ走査露光によって形成される主走査方向に延びる複数本の横ラインからなる横縞テストパターンと、レーザ走査露光によって形成される副走査方向に延びる複数本の縦ラインからなる縦縞テストパターンとが互いに複数組配置されているテストプリント。 - 特許庁

If you selected JUnit 3 as the version for your tests, the IDE can generate JUnit 3 test suitesbased on the test classes in the test package.In JUnit 3 you specify the test classes to include in the test suite by creating an instance of TestSuite and using the addTest method for each test.例文帳に追加

テストのバージョンとして JUnit 3 を選択した場合、IDE ではテストパッケージのテストクラスに基づいて JUnit 3 テストスイートが生成されます。 JUnit 3 では、TestSuite のインスタンスを作成し、各テストに対して addTest メソッドを使用することによって、テストスイートに含めるテストクラスを指定します。 - NetBeans

The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁

A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101.例文帳に追加

変換後のテスト実行部記述ファイル１０２‐２を受信したテストプログラムジェネレータ１０３は、これを解析し、テスト条件１００とテストアルゴリズム１０１から生成したテストプログラム１０４の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING INCLINATION OF LINE IMAGE SENSOR AND TEST SHEET例文帳に追加

ラインイメージセンサの傾き検出方法、及びテストシート - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST TERMINAL STRUCTURE OF CORRUGATED METAL SHEATHED CABLE例文帳に追加

波付き金属シースケーブルの気密試験端末構造 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING UNIT TEST OF SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェア単体試験の支援方法及び支援装置 - 特許庁