「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor integrated circuit which decreases the number of test pins without increasing test times.例文帳に追加

テスト時間を増やすことなくテストピンの個数を低減できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

(1) This is the pallet usable in the all processes of curing an adhesive, a leakage test, and a flow-path occlusion test.例文帳に追加

（１）接着剤硬化、リークテスト、流路閉塞テストの全ての工程で使用可能なパレット。 - 特許庁

A relay 8 of a test object removed from a control panel is attached to a pedestal 7 for test.例文帳に追加

制御盤１３から取り外した試験対象のリレー８を試験用台座７に取り付ける。 - 特許庁

To raise objectivity in the test result of a contrast sensitivity test, and to shorten a testing time.例文帳に追加

コントラスト感度検査の検査結果の客観性の向上及び検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF TEST ANALYSIS, AND RECORDING MEDIUM STORING TEST ANALYSIS EXECUTION PROCEDURE PROGRAM例文帳に追加

検査解析装置及び方法並びに検査解析実行手順プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DEFORMATION OF TEST PIECE AND SYSTEM FOR ATTACHING MARK TO ITS TEST PIECE例文帳に追加

試験片の変形を測定するための方法およびその試験片にマークを付けるためのシステム - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor chip capable of reducing a test time for packet transfer.例文帳に追加

パケット転送のテスト時間を短縮することができる半導体チップのテスト方法を提供する。 - 特許庁

As the inspection method of the semiconductor device, a test program is transmitted as a communication signal for every test.例文帳に追加

半導体装置の検査方法として、テストプログラムを通信信号として、テスト毎に送信する。 - 特許庁

An STA script sentence 14 is generated together with a test circuit in the case of test synthesis (step S11).例文帳に追加

テスト合成時にテスト回路とともにＳＴＡスクリプト文１４を生成する（ステップＳ１１）。 - 特許庁

To provide an electric vehicle and a coupling test method capable of more simply performing a coupling test.例文帳に追加

より簡易に併結試験を行うことが出来る電気車両、及び併結試験方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently test connection of many terminals by using minimum circuits and wiring for the test.例文帳に追加

テスト用の回路と配線を最小限にして、多くの端子の接続テストを効率的に実施する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SELECTING TEST CASE EXECUTION BEHAVIOR OF REPRODUCIBLE TEST AUTOMATION例文帳に追加

再現可能なテストの自動化に関するテストケース実行挙動を選択するシステムおよび方法 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory that can shorten the test time in the test of a memory section.例文帳に追加

メモリ部の試験において、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

A number of test pieces 2 are installed in a test tank 1 installing a lamp 4 as the light source.例文帳に追加

光源としてのランプ４が設置された試験槽１内に、多数の被試験体２が設置される。 - 特許庁

To provide a test unit and a test method enabling accurate examination of phenomena during testing.例文帳に追加

試験中の現象を的確に検証できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

To easily and surely determine the direction of a test tube, when carrying the test tube.例文帳に追加

試験管の搬送において、試験管の向きを簡便かつ確実に判定できるようにする。 - 特許庁

To provide a technology for automatically generating a test case in the software test of a Web application.例文帳に追加

ウェブ・アプリケーションのソフトウェアテストにおけるテストケースを自動的に生成する技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method capable of simplifying the stress test.例文帳に追加

ストレステストを簡略化出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Further, a cable test is executed corresponding to the value of the diagnostic parameter and the test result is outputted.例文帳に追加

さらに、診断パラメータの値に応じてケーブル試験を実行し、その試験結果を出力する。 - 特許庁

A primary accelerated test is executed relative to a test body of the cable at 100°C or higher.例文帳に追加

ケーブルの試験体に対して１００℃以上の加熱温度で一次加速試験を実施する。 - 特許庁

One of the emulators receives a test response by responding to the test message and transmits it to the control system.例文帳に追加

テスト・メッセージに応答して、エミュレータの１つがテスト応答を受信し、制御システムに伝送する。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing easily a circuit test corresponding to a contact resistance.例文帳に追加

接触抵抗に応じた回路テストを容易に行うことができるテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To automatically generate test data enough to perform a correct test of a business application.例文帳に追加

業務アプリに対して正しいテストを行うために十分なテストデータを自動的に生成する。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DRUG OF PREGNANCY AND PREGNANCY HIGH-BLOOD PRESSURE SYNDROME BY AUTOTAXIN MEASUREMENT例文帳に追加

オートタキシン測定による妊娠および妊娠高血圧症候群の検査方法および検査薬 - 特許庁

The test-run feature enables business process developers to perform test runs of their processes. 例文帳に追加

テスト実行機能によって、ビジネスプロセスの開発者はプロセスのテスト実行を行うことができます。 - NetBeans

OPEN TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH OPEN TEST CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置のオープンテスト回路、オープンテスト回路を備えた半導体チップ及び半導体装置 - 特許庁

The test soil device is in the form of sheet material with a test soil substance 34 provided thereon.例文帳に追加

汚れ検査装置はその上にある検査汚れ物質３４付きのシート材料の形状である。 - 特許庁

A test pattern generated by a pattern generating circuit is written in a real cell array at the time of a test mode.例文帳に追加

試験モード時に、パターン生成回路が生成する試験パターンが、リアルセルアレイに書き込まれる。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing a highly accurate automatic test in high speed by improving linearity.例文帳に追加

高精度及びリニアリティを改善し、高速の自動テストを行える試験装置を提供する。 - 特許庁

An address after scramble is recorded in a test result recording section 11c as a result of a function test.例文帳に追加

スクランブル後のアドレスは、ファンクションテスト結果としてテスト結果記録部１１ｃに記録される。 - 特許庁

Therefore, an idle time or a dead time of a test device is shortened and test efficiency is improved.例文帳に追加

それゆえに、テスト装置のアイドル時間または無駄時間が短縮され、テスト効率が高められる。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor device which effectively performs a memory test of the semiconductor device including a semiconductor memory at a low cost.例文帳に追加

半導体メモリを含む半導体装置におけるメモリテストを低コストで、効率よく行う。 - 特許庁

To perform automatically assignment of the test number in a circuit test, while avoiding conflict thereof.例文帳に追加

回路テストにおけるテスト番号の割り当てをそれらの衝突を回避して自動的に行う。 - 特許庁

To test the electric characteristics of an evaluation object element without installing any exclusive terminal for test.例文帳に追加

専用のテスト用の端子を設けることなく評価対象素子の電気的特性をテストする。 - 特許庁

To provide a status transition test support device for supporting the efficient execution of a state transition test.例文帳に追加

状態遷移テストの効率的な実行を支援する状態遷移テスト支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide test equipment and a test method for detecting characteristics of a circuit by using an eye mask.例文帳に追加

アイマスクを用いて回路の特性を検出するテスト装備及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

This test pattern is composed of a test pattern area 10 with the following constitution, and a separation area 20.例文帳に追加

テストパターンを、以下の構成を有するテストパターン領域１０と、区切り領域２０で構成する。 - 特許庁

This test pattern is composed of a test pattern area 10 with the following constitution, and a solid area 20.例文帳に追加

テストパターンを、以下の構成を有するテストパターン領域１０と、ベタ塗り領域２０で構成する。 - 特許庁

Then test operation is performed for a test circuit 21 in accordance with an input of a surplus address.例文帳に追加

そして、その余剰なアドレスの入力に応じて、テスト回路２１にテスト動作を実行させる。 - 特許庁

TEST BENCH CONDITIONING SYSTEM FOR WORKING FLUID, AND DEVICE FOR OPERATING TEST BENCH CONDITION SYSTEM OF THIS TYPE例文帳に追加

作動流体用試験台調整システム及びこの種の試験台調整システムを駆動する装置 - 特許庁

The controller issues a test signal in which test information of first to m-th circuit devices is contained.例文帳に追加

コントローラは第１乃至第ｍ回路装置をテストした情報を有するテスト信号を発する。 - 特許庁

To provide a pot-type dyeing test machine by which the efficiency of a dyeing test is improved.例文帳に追加

染色試験効率を向上させることができるポット式染色試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic forming method for test data capable of automatically forming test data.例文帳に追加

テストデータを自動的に作成することができるテストデータ自動作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a resin film piece for a tear test which reduces a fluctuation in a test result.例文帳に追加

試験結果のバラツキが小さい引裂試験用樹脂フィルム片の製造方法を提供すること。 - 特許庁