「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

Namely, the water charging (a) of the suppression pool, the pressure rising b of the reactor containment vessel, the pressure test c, the leakage test d and the leakage ratio test e are performed.例文帳に追加

すなわち、前記サプレッションプールの水張りａ，前記原子炉格納容器内の昇圧ｂ，耐圧試験ｃ，漏洩試験ｄ及び漏洩率試験ｅを行う。 - 特許庁

The system controller 32 test-writes test data by changing power prior to interruption of data recording, and relation between signal quality of the test data and power is calculated.例文帳に追加

システムコントローラ３２は、データ記録中断に先だってパワーを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータの信号品質とパワーとの関係を算出する。 - 特許庁

To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.例文帳に追加

回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

When the consequence of this memory test is abnormal, the operation processing section 23 and the coincidence discriminating section 24 repeat the memory test until the consequence of the memory test becomes normal.例文帳に追加

このメモリテストの結果が異常の場合、演算処理部２３および一致判定部２４はメモリテストの結果が正常となるまでメモリテストを繰り返す。 - 特許庁

A corrosion test is performed on a corrosion test cycle condition SAE J2334, using four kinds of test pieces with different shapes made of molten-zinc-plated steel plate, for example.例文帳に追加

例えば、溶融亜鉛めっき鋼板からなり、形状が異なる４種類の試験片を用いて、SAE J2334腐食試験サイクル条件で腐食試験を行なう。 - 特許庁

To provide a test support system, a test support method, and a program capable of easily generating a test satisfying requirements of a software structure coverage analysis.例文帳に追加

ソフトウェア構造カバレッジ分析の要件を満たすテストを容易に生成することができるテスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラムを提供すること - 特許庁

To provide a test system capable of performing a dynamic characteristic test of a test object for inputting a TMDS signal by an IC tester.例文帳に追加

ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象のダイナミック特性試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To quickly and also accurately extract the test place of a program module being an object and to present it to a person in charge of a test when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールの試験箇所を迅速かつ的確に抽出して試験担当者に提示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device achieving cost reduction by shortening the total test time to achieve the improvement of the efficiency of the whole test.例文帳に追加

トータルの試験時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test device of a solar panel capable of effectively performing an environmental test which is applicable to the real environmental condition such as a storm test.例文帳に追加

実際の環境条件に適合した暴風試験等の環境試験を効率的に行うことができるソーラーパネルの環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation managing system for easy storing and managing of the test pattern of a semiconductor memory, and to provide a test pattern generation management method for the semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システムおよび半導体メモリのテストパターン生成管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing machine capable of changing part of test conditions stored in a test condition file to carry out a test without executing complicated work.例文帳に追加

煩雑な作業を行わなくても試験条件ファイル格納されている試験条件の一部を変更して試験を行うことができる試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic test apparatus capable of effectively and speedily displaying test results along the interest of a user to the user by filtering the test results.例文帳に追加

試験結果にフィルタをかけることによりユーザーが効果的かつ迅速にユーザーの関心に沿った結果を見ることができる電子試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test bench capable of saving the works of test scenario and improving efficiency, in creating the test bench.例文帳に追加

外部記憶装置へのアクセス動作モードが変わるような場合でも、テストシナリオの作業を省力化でき、テストベンチ作成の効率化が実現できるテストベンチを提供する。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

The compressed air acts on the inner wall surface of the test piece TP through the gaps of the filler 10 to apply test pressure to the test piece TP.例文帳に追加

この圧縮空気は充填物１０の隙間を介して供試体ＴＰの内壁面に作用し、これにより供試体ＴＰに試験圧力が負荷される。 - 特許庁

After finishing the transmission of the loopback test data, the main apparatus 200 adds test result information to the communication protocol 302 of a loopback test termination request for transmission to the LAN device 100.例文帳に追加

折返しデータの送信完了後、折返し試験終了要求の通信プロトコル３０２に試験結果情報を付加し、LAN装置１００へ送信する。 - 特許庁

A communication tester is provided with a test item management section 11 which stores test items and the acceptance/rejection determination of the test items by associating the date and time of the acceptance/ rejection determination.例文帳に追加

通信テスタに、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定と、その合否判定の日時とを対応付けて記憶するテスト項目管理部１１を設ける。 - 特許庁

One test strip is extracted from the apparatus, by moving one end part of the strip for test in the direction of the other strips for test.例文帳に追加

一枚の検査用細片は、当該検査用細片の端部を残りの検査用細片に向けて移動させることによって当該装置から取り出される。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnosing apparatus which can display a suitable position on a test sample of an ultrasonic probe corresponding to the purpose of the test as the test progresses.例文帳に追加

検査の目的に対応する超音波プローブの被検体上の適切な位置を検査の進捗に合わせて表示する超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To realize a comprehensive and efficient program test by automatically creating a test case, and realizing automatic execution of tests in test work of a GUI program.例文帳に追加

GUIプログラムのテスト作業において、自動的にテストケースを生成し、テストの自動実行を実現することで網羅的かつ効率的なプログラムテストを実現する。 - 特許庁

To allow for generation of test data maintaining compatibility with an existing database while reducing a load for computer system test, particularly a load of test data generation.例文帳に追加

コンピュータシステムのテストのための負担、特にテストデータ生成の負担を軽減すると共に、既存のデータベースとの整合性を維持したテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁

To provide a method, device and program for creating the test scenario, capable of effectively obtaining the test scenario meeting to the test object of high level importance.例文帳に追加

テスト目的に即した重要度の高いテストシナリオを効率的に得ることができるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To simply test characteristics of a temperature constant type thermal resistance flowmeter, using a different kind of test fluid from a fluid under test.例文帳に追加

被計測流体とは異なる種類の試験流体を使って、定温度型の熱抵抗体流量計の特性試験を簡単に行うことである。 - 特許庁

At a second test step, second test data is acquired from the plurality of semiconductor devices under environmental conditions different from those of the first test step.例文帳に追加

第２試験ステップにより上記複数の半導体装置から上記第１試験ステップとは異なる環境条件による第２試験データを取得する。 - 特許庁

A test light source 42 outputs test light of the wavelength λa to the optical transmission line 24 and then outputs test light of the wavelength λb to the optical transmission line 24.例文帳に追加

テスト光源４２は、波長λａのテスト光を光伝送路２４に出力し、その後、波長λｂのテスト光を光伝送路２４に出力する。 - 特許庁

To provide a technique capable of shortening test time by shortening frequency switching duration of test signal in a test system for semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステムにおいて、テスト信号の周波数切り替え時間を短縮してテスト時間を短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

By independently heating the upper and lower press plates, the high-temperature compression test of the test piece TP can be performed in a state that a temperature difference is provided between the upper and under surfaces of the test piece TP.例文帳に追加

このように上下圧盤を独立に加熱することで、供試体ＴＰの上下面に温度差を持たせての高温圧縮試験が可能となる。 - 特許庁

To provide a test method and a test apparatus for a semiconductor device which test a high speed memory interface section at a low speed, dispenses with the mounting of a semiconductor memory device onto a test board and also dispenses with confirmation of operation of the semiconductor memory device itself thereby enabling the mounting area of the test board to be reduced.例文帳に追加

低速で高速メモリインタフェース部の試験ができ、半導体記憶装置のテストボード上への実装が不要で半導体記憶装置自体の動作確認が不要でテストボード実装面積の低減が可能な半導体装置のテスト方法、装置を提供する。 - 特許庁

To perform a stable test of a test object by a suction method, even when the whole test object is covered with a cover or a cover is divided into those for a large number of leaking spots, like cases where leaking spots of the test object are not clear, or the test object has a large number of leaking spots.例文帳に追加

検査対象物のどこから漏れか分らない場合や漏れ個所が多数ある場合のように、カバーで検査対象物全体を覆う場合やカバーを多数の漏れ個所に分ける場合でも、吸引法によって安定した検査を行える。 - 特許庁

In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.例文帳に追加

試験槽１内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Ｓの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽１内に試験片Ｓをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル５を設置する。 - 特許庁

The core test circuit is provided with shift registers for test data outputting and storing of a plurality of result patterns for output terminals of the core circuit so as to allow a plurality of pattern test results to be fetched and scanned out of the shift registers for test data output.例文帳に追加

また、コアテスト回路が、複数の結果パターンを格納するテストデータ出力用シフトレジスタをコアの出力端子毎に設け、複数パターンのテスト結果をテストデータ出力用シフトレジスタに取り込んでからスキャンアウトできるようにする。 - 特許庁

The second deciding means 20 decides the deemed standard deviation σ' of the second test based on the ratio (m'/m) of the average point (m) of the first test and the deemed average point (m') of the second test and on the standard deviation σ of the first test.例文帳に追加

第２決定手段２０は、第１試験の平均点ｍと、第２試験のみなし平均点ｍ’との比（ｍ’／ｍ）と、第１試験の標準偏差σとに基づき第２試験のみなし標準偏差σ’を決定する。 - 特許庁

To structure a piled raft test object, a spread foundation test board having a predetermined size and being in contact with the peripheral ground is formed on a pile head part of the test pile protruding from the ground, in a manner that the test board is structurally integrated with the test pile.例文帳に追加

地盤から突き出した試験杭の杭頭部に、周辺地盤と接する一定大きさの直接基礎試験盤を前記試験杭と構造的に一体化して形成し、パイルド・ラフト試験体を構成する。 - 特許庁

To provide a PT test supporting method which can perform unitary management of test data, can make data electronic without having errors and systematically, efficiently and easily prepares test data when preparing test data necessary to a PT test.例文帳に追加

ＰＴ試験で必要なテストデータの作成を行うに当り、テストデータの一元管理をし、データの電子化をしてミス無く、体系的・効率的にテストデータを簡易に作成することができるＰＴ試験支援方法の提供。 - 特許庁

To improve test efficiency while reducing a risk that, though test object software is normally operated, it is determined as a test failure due to a time difference of processing time between the test object software and a test simulator.例文帳に追加

テスト対象ソフトウェアが正常動作しているにもかかわらず、テスト対象ソフトウェアとテストシミュレータとの処理時間の時間差によりテスト失敗と判定されてしまう危険性を少なくしつつ、テスト効率を向上させる。 - 特許庁

The semiconductor test apparatus 1 is equipped with a test apparatus main unit 10 which carries out a test of a DUT 30, and a terminal device 20 including a display section 26 for displaying a test result obtained by the test apparatus main unit 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

A test pattern data generating part 11 generates test pattern data based on the combination of simultaneously settable test items among test items stored in a test item matrix file 21.例文帳に追加

試験パターンデータ生成部１１は、試験項目マトリックスファイル２１に記憶されている試験項目の組合せのうち、同時に設定することが可能な試験項目の組合せに基づいて試験パターンデータを生成する。 - 特許庁

In this semiconductor test device for executing the test by forwarding plural test patterns to a device to be measured via test pattern memories 702, 703, following the measurement sequence by the test program in order to execute the function test of the semiconductor device 704 which is measuring object, the measurement sequence is changed so that the number of times of test pattern transfer between pattern memories in the semiconductor test device becomes minimum.例文帳に追加

測定対象となる半導体デバイス704 の機能テストを行うためにテストプログラムによる測定シーケンスにしたがって複数のテストパターンをテストパターンメモリ702,703 を介して被測定デバイスに転送し、テストを実行する半導体テスト装置において、半導体テスト装置内のパターンメモリ間におけるテストパターンの転送回数が最小になるように測定シーケンスを変更する。 - 特許庁

TEST METHOD OF OFDM-TYPE COMMUNICATION EQUIPMENT AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＯＦＤＭ方式通信機器の試験方法及び装置 - 特許庁

To newly make a plug for a hydraulic proof test of a vinyl pipe.例文帳に追加

ビニール管の水圧テスト用プラグを新しく作る。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing the load of a testpiece from becoming zero upon interruption of a test and preventing undesired test force from acting on the testpiece upon resumption of the test.例文帳に追加

試験中断時に供試体の負荷がゼロとなることがなく、また、試験再開時に供試体に不所望な試験力が作用することがない材料試験機の提供。 - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR VIBRATION TEST OF VEHICLE例文帳に追加

車輌の振動試験装置、及び、その振動試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACK DEVELOPMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加

応力腐食割れ進展試験方法及びその装置 - 特許庁