「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PREPARATION METHOD OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路およびテストパターン作成方法 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can execute memory test in a short period of time under a plurality of test conditions.例文帳に追加

短時間で、複数の条件下におけるメモリテストが実行可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Erasing power of the laser beam for erasing data already recorded in a test region (test recording region) of PCA of the optical disk is decided before test recording.例文帳に追加

テスト記録前に、光ディスクのＰＣＡのテスト領域（テスト記録領域）に既に記録されているデータを消去するためのレーザ光の消去パワーが決定される。 - 特許庁

VoIP INTERFACE APPARATUS AND TEST METHOD OF ECHO CANCELLER例文帳に追加

ＶｏＩＰインタフェース装置及びエコーキャンセラの試験方法 - 特許庁

To provide a test method for fitting, capable of performing test taking deformation into consideration by mounting of fitting.例文帳に追加

建具の取り付けによる変形も加味した試験を行うことが可能な建具の試験方法を提供する。 - 特許庁

SIMPLIFIED YAWING DEVICE OF AUTOMOBILE COLLISION SIMULATION TEST DEVICE例文帳に追加

自動車衝突模擬試験装置の簡易型ヨーイング装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATING CIRCUIT AND GENERATING METHOD OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路およびテストパターン発生方法 - 特許庁

This film type semiconductor package 440 of the present invention outputs a test signal through a plurality of test pads TPAD.例文帳に追加

フィルム型半導体パッケージ４４０は、複数のテストパッドＴＰＡＤｋを通じてテスト信号を出力する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING PHYSIOLOGICAL STATE OF TEST AQUATIC ORGANISM例文帳に追加

被検水棲生物の生理状態を評価する方法 - 特許庁

To provide a vocational qualification test estimation system that contributes to the selection of an optimum vocational qualification test by quantitatively providing the goodness of fit of a vocational qualification test to a prescribed job duty.例文帳に追加

所定の職務に対する適性検査の適合度を定量的に提示することができ、最適な適性検査の選択に資する適性検査評価システムを提供する。 - 特許庁

In its test run, it traveled at a maximum speed of 40 kilometers per hour. 例文帳に追加

試験走行では，最高時速40キロで走行した。 - 浜島書店 Catch a Wave

For the test, ABISMO descended to a depth of 10,258 meters. 例文帳に追加

試験でアビスモは１万258メートルの深さまで降下した。 - 浜島書店 Catch a Wave

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁

METHOD, APPARATUS, AND SYSTEM OF PARALLEL TEST FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の並行検査の方法、装置及びシステム - 特許庁

TEST METHOD OF FERROELECTRIC MATERIAL AND TESTING DEVICE例文帳に追加

強誘電体材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

To perform a simple evaluation test of a semiconductor device.例文帳に追加

簡便な半導体装置の評価試験を実現する。 - 特許庁

SIMPLIFIED PITCHING DEVICE OF AUTOMOBILE COLLISION SIMULATION TEST DEVICE例文帳に追加

自動車衝突模擬試験装置の簡易型ピッチング装置 - 特許庁

DATA ACCEPTANCE/RATING/RESULT ANNOUNCEMENT SYSTEM OF APPLICATION/TEST WORK例文帳に追加

応募／課題作のデータ受理・採点・結果公表システム - 特許庁

To provide a fitting holding member for test, capable of performing test taking deformation into consideration by mounting of fitting.例文帳に追加

建具の取り付けによる変形も加味した試験を行うことが可能な試験用建具保持部材を提供する。 - 特許庁

Next, on the basis of the test patterns 100 recorded on the recording medium 16, a discharge timing adjustment value of ink in a recorded position of a test pattern 100 is determined per test pattern 100 (A2, A3).例文帳に追加

次に、記録媒体16上に記録されたテストパターン100を基に、当該テストパターン100が記録された位置でのインクの吐出タイミング調整値をテストパターン100毎に決定する（A2、A3）。 - 特許庁

It is possible to reduce the number of pins of a test interface since test input and output signals can be unwired by using this means.例文帳に追加

本手段を用いれば，テスト入出力信号を無線化できるためテストインターフェースの少ピン化を図れる。 - 特許庁

To accurately perform the compression test of a fine linear sample.例文帳に追加

細い線状の試料を精度よく圧縮試験する。 - 特許庁

To speed up multi-bit test of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置のマルチビットテストを高速化する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ABRASION TEST OF CRAWLER COMPONENT例文帳に追加

履帯部品の摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

To provide technology capable of enhancing the reliability of an airtightness test and conducting the airtightness test without spending long time.例文帳に追加

気密試験の信頼性を高め且つ気密試験を時間をかけないで行うことができる技術を提供する。 - 特許庁

CALIBRATION BOARD USED FOR TIMING CALIBRATION OF TEST APPARATUS例文帳に追加

試験装置のタイミングキャリブレーションに用いるキャリブレーションボード - 特許庁

A program counter 108 for test stores the address of the memory 117.例文帳に追加

テスト用プログラムカウンタ108は、メモリ117のアドレスを格納する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN OF LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテストパターン作成方法および作成装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF WEIGHT COMPOSITE LOAD AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

荷重複合負荷の試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

Thereafter, detection signals of the respective test pattern groups (A-E) are analyzed to obtain frequency characteristics of the respective test pattern groups (A-E).例文帳に追加

次に、各テストパターン群（A〜E）の検知信号を解析し、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を取得する。 - 特許庁

CELLULAR PHONE TESTER AND TEST METHOD OF CELLULAR PHONE例文帳に追加

携帯電話機テスタおよび携帯電話機の試験方法 - 特許庁

TEST INTERFACE FOR SOFTWARE-BASED SEQUENCE OF EVENT RECORDING SYSTEMS例文帳に追加

ソフトウェアベースのイベント列記録システムためのテストインタフェース - 特許庁

To provide a software test method for effectively detecting a failure by using of a small number of test items.例文帳に追加

少ない試験項目で効果的に不具合を検出することの可能なソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁

At the step S6, operation of the test template is tested.例文帳に追加

ステップＳ６において、テストテンプレートの動作テストを行なう。 - 特許庁

METHOD OF HYDROSTATIC PRESSURE TEST AND BLOWOUT IN STEAM TURBINE FACILITY例文帳に追加

蒸気タービン設備における水圧試験・ブローアウト方法 - 特許庁

SPECTROPHOTOMETRIC MEASURING APPARATUS FOR DETECTION OF REAGENT TEST PIECE例文帳に追加

試薬試験片を検出する分光光度計測装置 - 特許庁

FURNACE AND RELIABILITY TEST METHOD OF THERMOCOUPLE FOR CONTROL例文帳に追加

炉及び制御用熱電対の信頼性試験方法 - 特許庁

DC CHARACTERISTIC TEST CIRCUIT OF DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT CIRCUIT例文帳に追加

差動信号出力回路のＤＣ特性テスト回路 - 特許庁

The test device 1 is for the performance test of a breaker 100 and capable of carrying out a performance test on different types of breakers 100.例文帳に追加

試験装置１は、ブレーカ１００の動作試験を行う試験装置であり、異なる種類のブレーカ１００について、動作試験を行うことができるように構成されている。 - 特許庁

To provide a system appropriate for an in-line test of components.例文帳に追加

部品(components)のインライン検査に適切なシステムを提供する。 - 特許庁

DATA-SIDE DRIVING CIRCUIT OF DISPLAY PANEL AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

表示パネルのデータ側駆動回路、及びそのテスト方法 - 特許庁

Capillary flow along the test strip is initiated by contact of the sample with the distal end of the test strip.例文帳に追加

サンプルが試験ストリップの遠位端と接触することによって、試験ストリップに沿った毛細管流が開始される。 - 特許庁

METHOD FOR FINDING RESOLUTION OF RADIOPARENCY TEST IMAGE例文帳に追加

放射線透過試験画像の解像度を求める方法 - 特許庁

To reduce the labor of input or selection in test.例文帳に追加

テストにおける入力や選択の手間を削減する。 - 特許庁

When a part of the inner circumference of the test body has an initial crack beforehand, a test of initial crack development is possible, and when having no initial crack, a test from initial crack generation is possible.例文帳に追加

試験体の内周の一部に初期き裂を予め備えていれば初期き裂進展の試験が可能となり、初期き裂がなければき裂発生からの試験が可能となる。 - 特許庁